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公开(公告)号:CN115356616A
公开(公告)日:2022-11-18
申请号:CN202210901130.7
申请日:2022-07-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种高速高精度模数转换器片间同步性能检测系统及方法,核心在于FPGA模块接收上位机的采集控制信号,控制四片ADC同时采集同步输入的模拟正弦信号,波形数据上传上位机进行FFT及相位计算,记录信噪比参数值及其与校准ADC之间的相位差并使之与芯片编号对应,待整批次芯片测试完后,对二维数据点集合聚类分析,确定二维数据点集合的最终聚类中心K1与K2,再根据工程实际需求确定相位差距离值D和SNR最小值,计算筛选出与最终聚类中心K1距离小于D且SNR高于最小值要求的二维数据点,通过二维数据点与芯片编号一一对应的关系从整个批次中进行分拣,最终获得两个子批次,每个子批次内的芯片同步性能及SNR指标均能满足指定的工程实际需求,至此完成检测。
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公开(公告)号:CN113532409B
公开(公告)日:2022-11-04
申请号:CN202110678238.X
申请日:2021-06-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01C19/5776 , B81B7/02
Abstract: 一种高精度数字MEMS陀螺控制系统,包括驱动模态闭环控制环路,检测模态闭环控制环路、调制解调信号相位闭环控制环路,使系统可始终跟随陀螺谐振频率变化,通过温补后的驱动模态解调信号相位调整值φ1、驱动模态调制信号相位调整值φ2、检测模态解调信号相位调整值φ3、检测模态调制信号调整值φ4对两模态调制解调信号的相位分别进行调整,通过此系统,解决了当前陀螺控制系统中调制解调信号相位误差对陀螺仪检测精度的影响,大大提高MEMS陀螺仪性能指标。
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公开(公告)号:CN111751703B
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN202010544552.4
申请日:2020-06-15
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种限位框设计的老炼试验用插座,包括:加强板、支架、插座上盖和塑料插座体;支架安装在加强板上;支架与插座上盖采用轴连接,插座上盖可绕连接轴转动打开,打开后的插座上盖与支架之间的夹角不小于90°;塑料插座体安装在加强板的中心位置处。本发明所述的限位框设计的老炼试验用插座的腔体部分采用组合方式,内部是简单结构的限位框,通过螺丝可以拆卸更换。根据外形公差较大、底面PAD间距过小、LGA封装形式的电路定制不同尺寸的限位框,保证每种外形公差的电路达到最佳适配效果,扩大了电路适配的范围,即使特别大的公差的电路,也有对应的限位框与其适配,同时保证了电路试验的安全性。
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公开(公告)号:CN111081594B
公开(公告)日:2022-09-30
申请号:CN201910913120.3
申请日:2019-09-25
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种JLCC图像传感器电路封装前的清洗工装及方法,工装中高速旋转平台中心位置紧密分布了小孔,并在高速旋转平台边缘均匀分布了4个安全限位卡槽;所述的电路定位工装包括基板以及设置在基板上的电路限位卡槽,所述的电路限位卡槽有多组且位于同一圆周上,每组电路限位卡槽用于固定一个待清洗电路;电路定位工装安装在所述的旋转平台上,通过设置在旋转平台上的小孔利用真空吸附的方式实现二者的固定,由旋转平台带动电路定位工装上的待清洗电路实现清洗过程中的旋转;液体与高压气体通道与放置在旋转平台上方的二流体喷嘴连通,通过二流体喷嘴喷射二流体至待清洗电路表面,实现清洗。
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公开(公告)号:CN109245724B
公开(公告)日:2022-09-27
申请号:CN201810815880.6
申请日:2018-07-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种自适应偏置宽频压控振荡器电路,包括压控振荡器电路和自适应偏置电路。压控振荡器电路根据外部输入信号VCP调整负载电阻的大小,改变三个延迟单元的延时,产生与VCP相对应频率的振荡信号CLK和CLKN;自适应偏置电路通过对CLK和CLKN信号的交叉点检测,自适应调节输出VFB,VFB控制压控振荡器电路尾电流源大小。本发明通过压控振荡器电路输出信号的频率和摆幅反馈调节压控振荡器电路中尾电流源的偏置电压,稳定了输出信号的占空比,改善了振荡器的相位噪声性能,与固定偏置电压相比扩展了振荡频率范围,满足高速时钟处理电路等多种应用需求,实现了自适应偏置的高性能压控振荡器电路。
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公开(公告)号:CN115080318A
公开(公告)日:2022-09-20
申请号:CN202210674247.6
申请日:2022-06-14
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263 , G11C19/28
Abstract: 本发明提供了一种FPGA故障注入与故障定位方法、装置、设备、存储介质,方法包括:获取用户设计所使用FPGA中资源的Tile级坐标;利用FPGA的特征参数将资源的Tile级坐标转化为相应的帧地址和起始位偏移;对所使用资源的配置位进行逐位翻转注入,并记录每一配置位注入之后FPGA输出的数据;根据FPGA输出的数据确定会导致FPGA功能异常的配置位,反推出所有由于故障注入而出错的Tile级资源坐标,进而反推出资源对应的用户设计。本发明通过通用的Tile级资源坐标转化方式,使故障注入与故障定位适用于不同型号的SRAM型FPGA,大大提高了通用性,并且根据故障注入之后的结果信息能够自动反推出敏感的用户设计,方便设计人员对FPGA设计的可靠性进行评估,为后续的加固措施提供依据。
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公开(公告)号:CN114970422A
公开(公告)日:2022-08-30
申请号:CN202210333437.1
申请日:2022-03-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/347
Abstract: 本发明属于集成电路领域,具体涉及一种基于强化学习的FPGA布局方法:首先,根据输入的网表文件,提取出FPGA设计电路中所包含的逻辑单元,进而完成逻辑单元的初始化布局操作;针对传统模拟退火方法布局收敛慢的问题,提出了多种搜索区域构建方法,能够有效提升布局解空间的搜索效率;在此基础上,提出了一种基于强化学习的最优搜索区域选择方法,能够自适应地选择出最优的搜索区域执行逻辑单元的交换操作。该布局方法能够在保持所需要的线长与关键路径延时的情形下,大幅度降低FPGA布局所需花费的时间。
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公开(公告)号:CN114968738A
公开(公告)日:2022-08-30
申请号:CN202210493910.2
申请日:2022-04-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种FPGA高速串行收发器单粒子效应性能评估系统及方法,评估系统包括上位机、主控系统和待测系统。上位机负责试验过程控制和试验结果显示。主控系统负责接受上位机操作指令,控制待测系统完成单粒子效应评估。待测系统中FPGA,用部分暴露在粒子束下的方式,完成高速串行收发器单粒子试验。利用统计学方法定义单粒子翻转、可恢复单粒子功能中断和不可恢复单粒子功能中断,最终完成待测FPGA高速串行收发器的单粒子效应评估。本发明是一种系统级的单粒子效应评估方法,包含单粒子翻转、单粒子功能中断,有效的全面评估器件抗单粒子性能。
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公开(公告)号:CN114968354A
公开(公告)日:2022-08-30
申请号:CN202210412220.X
申请日:2022-04-19
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F9/22 , G06F13/40 , G06F13/42 , G06F15/163
Abstract: 一种基于SiP的通信专用微控制器,包括核心处理模块,数模转换模块,模数转换模块,数据存储Flash。微控制器内部集成的高性能嵌入式处理器,采用ARM体系结构,用于执行通讯数据处理、工作状态监测等任务,数模转换模块实现数字信号转换为模拟量输出的功能,模数转换模块将采集输入的模拟信号转换为数字信号并反馈给核心处理模块,16MB的Flash模块用于存储ARM程序,微控制器支持的接口包括MIL‑STD‑1553B总线控制器、ARINC429总线控制器,CAN总线控制器以及UART、SPI、I2C、GPIO接口,用于执行核心处理模块与应用微控制器的系统上分系统间的通信及管理。本发明具有接口丰富、集成度高、可靠性高、体积小、功耗低、灵活性佳等优点。
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公开(公告)号:CN111487472B
公开(公告)日:2022-08-05
申请号:CN202010247272.7
申请日:2020-03-31
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种测量单粒子瞬态脉冲宽度的电路结构,包括控制电路、衰减单元、延迟单元、驱动Buffer、计数电路。所述的控制电路用于单粒子瞬态脉冲到来后控制此脉冲传输到由此电路和衰减单元、延迟单元、驱动buffer构成的循环结构中。所述的衰减单元用于减小脉冲宽度,延迟单元用于使循环结构的延时宽度大于脉冲宽度。计数电路利用寄存器和加法器实现对脉冲在循环结构中循环的次数的计数,寄存器的时钟信号由脉冲提供不需额外提供,单粒子瞬态脉冲宽度的测量结果是每次循环衰减的量乘以循环的次数。本发明实现的电路结构,可测范围大,测量精度高。
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