一种功率器件封装结构
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108520870A

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201810338518.4

    申请日:2018-04-16

    IPC分类号: H01L23/48

    摘要: 本发明公开了一种功率器件封装结构,该封装结构包括上电极板、功率半导体器件芯片、下电极板,所述功率半导体器件芯片位于所述上电极板和下电极板之间,其特征在于,所述封装结构还包括第一弹性电极片和/或第二弹性电极片,所述第一弹性电极片位于所述上电极板与所述功率半导体器件芯片之间,所述第二弹性电极片位于所述下电极板与所述功率半导体器件芯片之间。该封装结构有效缓解了零部件加工公差带来的应力集中问题,在保证导电良好的前提下能够减小封装结构中芯片的受力,有效提高功率器件封装的可靠性;同时由于该弹性电极片是由弹性导电擦了或其他具有良好弹性和导电性的材料制成,还能提高对芯片的导热作用。

    一种IGBT动态参数测试电路杂散电容提取方法及系统

    公开(公告)号:CN111487514B

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202010312229.4

    申请日:2020-04-20

    IPC分类号: G01R31/26 G01R27/26

    摘要: 本发明公开了一种IGBT动态参数测试电路杂散电容提取方法及系统,包括:测量IGBT器件在瞬态开通过程中的发射极实测电压和集电极实测电流,得到发射极实测电压在瞬态开通过程中的电压变化曲线和集电极实测电流在瞬态开通过程中的电流变化曲线;利用电压变化曲线计算发射极实测电压在瞬态开通过程的结束时刻与开始时刻的电压差;利用电流变化曲线计算在瞬态开通过程中集电极理想电量与实测电量的电量差;利用电量差除以电压差得到IGBT动态参数测试电路的杂散电容。本发明基于IGBT器件的开通瞬态波形,通过实测的方法计算动态测试平台的杂散电容,可以有效评估动态测试设备测量结果的准确性,为制定设备杂散电容的标准提供了依据。

    一种绝缘栅双极型晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN114156338A

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202111487931.5

    申请日:2021-12-07

    摘要: 本发明提供一种绝缘栅双极型晶体管及其制备方法。所述绝缘栅双极型晶体管包括:漂移层;位于所述漂移层一侧的集电层,所述集电层的导电类型与所述漂移层的导电类型相反;位于所述漂移层和所述集电层之间的缓冲层,所述缓冲层的导电类型与所述漂移层的导电类型相同,且所述缓冲层的掺杂浓度高于所述漂移层的掺杂浓度;在所述缓冲层的内部设置有浮置层,所述浮置层的导电类型与所述缓冲层的导电类型相反。所述缓冲层与所述浮置层的界面处形成结势垒,阻碍载流子的扩散,改变了绝缘栅双极型晶体管集电极一侧的载流子分布,降低了发射极漏电流,提高了绝缘栅双极型晶体管的正向击穿电压。