-
公开(公告)号：CN104898042A
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201510095960.5
申请日：2015-03-04
申请人： 联发科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/31713 , G01R31/31727 , G01R31/318342 , G01R31/31835 , G01R31/318547 , G11C11/41 , G11C29/023 , G11C29/028 , G11C29/12005 , G11C29/44 , G11C29/50 , G11C2029/0405 , G11C2029/1202
摘要： 本发明提供一种产生用于扫描测试的一特征化扫描样本的方法与装置，该方法包含：提供多个预定扫描样本，以在压力环境下对多个待测装置进行扫描测试，产生对应于每一个待测装置的多个测试响应；从每个待测装置的多个测试响应中，将每个待测装置的多个特定测试响应集合，决定每个待测装置的多个错误特征所对应的特征值；以及根据每个待测装置的特征值，产生至少一特征化扫描样本。通过本发明，能够减轻对于系统等级测试的依赖，降低测试成本，并更快地降低每百万缺陷数，从而保证获得更好品质的产品。
-
公开(公告)号：CN104881357A
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201510023543.X
申请日：2015-01-16
申请人： 全视技术有限公司
IPC分类号： G06F11/36
CPC分类号： G01R31/318544 , G01R31/31703 , G01R31/3177 , G01R31/31813 , G01R31/318385 , G01R31/318547 , G01R31/318555 , G01R31/3187 , G01R31/31932 , G01R31/31935 , G06F11/2236 , G06F11/261 , G06F11/277 , G06F13/24 , H04L43/50
摘要： 本文讨论一种系统，其具有在集成电路的晶种内存，耦合以使晶种至矢量产生器，该矢量产生器提供矢量到第一功能单元中的至少一个扫描链。签名产生器被配置以产生来自扫描链数据的签名，该签名在签名内存中与预期的签名进行比较。状态存储器被提供用以储存该功能单元的状态，并当测试完成时恢复该功能单元的该状态。该系统还具有配置以判定该功能单元的闲置情况的装置，尽管该系统处于非闲置状态下；以及配置以操作测试序列的控制单元，当该功能单元是闲置时，该测试序列储存该单元的状态、产生向量和签名，并验证该签名，及恢复该单元的该状态。
-
公开(公告)号：CN102305912B
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201110217099.7
申请日：2011-07-29
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/318547
摘要： 本发明公开了一种数据可压缩的低功耗集成电路测试装置及其方法，所述装置包括：扫描森林、异或门网络、输出选择电路、第一控制寄存器和第二控制寄存器；其中，所述扫描森林，包括多个扫描输入端和多个相互连接的扫描触发器组，所述扫描输入端连接第一个扫描触发器组中的所有扫描触发器，各扫描触发器组中的所有扫描触发器连接上一扫描触发器组中扫描触发器的输出端；所述异或门网络中的每个异或门的输入端与扫描森林的最后一组扫描触发器组中的扫描触发器输出端相连；所述输出选择电路连接异或门网络；本发明能够减少电路中结点的跳变，降低功耗，同时能够实现测试响应数据的压缩。
-
公开(公告)号：CN103198349A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201210551892.5
申请日：2012-12-18
申请人： NXP股份有限公司
发明人： 保罗艾瑞·波黎斯克蒂
IPC分类号： G06K19/077 , G01R31/3181
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/318547 , G01R31/318588 , G06K19/07363 , H04L9/002 , H04L2209/16
摘要： 本发明公开了仅需要两个引脚用于进行标准ATPG测试的无接触智能卡型集成电路。可以采用用于时钟的一个引脚和用于扫描测试数据输入的另一引脚进行扫描测试。此外，通过采用嵌入式签名产生器避免观察到移出的数据，增强了安全性。
-
公开(公告)号：CN102906580A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201180024530.4
申请日：2011-03-16
申请人： 明导公司
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/2851 , G01R31/318335 , G01R31/318547 , G01R31/31921
摘要： 本发明公开了用于在测试压缩环境中进行测试调度和测试访问的方法、装置和系统的代表性实施例。用于测试一个电路中多个核心的测试模式群集根据包括压缩测试数据、相应测试器信道要求和关联核心的测试信息形成。测试模式群集形成之后进行测试器信道分配。可以采用一种最佳拟合方案或平衡拟合方案生成信道分配信息。可以根据信道分配信息来设计用于动态信道分配的测试访问电路。
-
公开(公告)号：CN102129031A
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN201110008107.7
申请日：2007-02-19
申请人： 明导公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/2851 , G01R31/31723 , G01R31/31727 , G01R31/318547 , G01R31/318563 , G01R31/318566
摘要： 在此公开了一种称为“X-Press”测试响应压缩器的示例性实施方式。所公开压缩器的某些实施方式包括过载部分以及扫描链选择逻辑。所公开技术的某些实施方式提供1000x数量级的压缩比。所公开压缩器的示例性实施方式可以维持与传统的基于扫描的测试情况大致相同的覆盖和大致相同的诊断辨析率。扫描链选择方案的某些实施方式可以显著降低或者彻底消除在进入压缩器的测试响应中出现的未知状态。另外，在此公开了片上压缩器电路的实施方式，以及用于生成掩码选择电路的控制电路的方法的实施方式。
-
公开(公告)号：CN101821641A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200980000264.4
申请日：2009-09-01
申请人： 新诺普系统公司
发明人： 彼得·沃尔 , 约翰·A·威库考斯基 , 弗瑞德里克·J·纽费克斯
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/304
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/318547
摘要： 扫描测试以及扫描压缩是实现成本降低以及运送品质的关键。在更加复杂的设计中，新的瑕疵类型需要增加的压缩。然而，增加的未知(X)值密度减低了有效率的压缩。一扫描压缩方法可达到对于任何未知值的任何密度的非常高压缩以及完全涵盖率。所描述的技术可完全地并入所述的测试用设计(DFT)以及自动化测试型样产生(ATPG)流程中。比起其他方法，在工业设计上来自使用这些技术的结果展现了一致且可预测的优势。
-
公开(公告)号：CN101793942A
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN200910208098.9
申请日：2009-10-27
申请人： 新思科技有限公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318547
摘要： 本发明涉及用于实现层级式测试设计解决方案的方法和装置。具体地，公开了用于实现电路上的层级式测试设计(DFT)逻辑的方法和设备。该层级式DFT逻辑实现DFT电路，其可以专用于模块，并且可以将用于多个模块的DFT配置为共享顺序输入信号和/或共享顺序输出信号。在操作期间，第一模块的DFT电路可以将来自顺序输入信号的比特序列传播至第二模块的DFT电路，使得该比特序列可以包括用于控制该DFT电路的一组控制信号值，并且可以包括用于测试该模块的压缩测试向量。此外，用于第二模块的DFT电路可以生成顺序响应信号，其组合了来自第二模块的压缩响应向量和来自第一模块的DFT电路的顺序响应信号。
-
公开(公告)号：CN100520429C
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200480024580.2
申请日：2004-08-26
申请人： NXP股份有限公司
IPC分类号： G01R31/3185 , G09G5/395
CPC分类号： G01R31/318547 , H04N17/004 , H04N17/04
摘要： 本发明涉及用于处理数据信号(I)的多个数据样值的集成电路(DEC_V)，其中所述集成电路与计数器(CT)相关联并包括用于输出特征的装置(SIGN_M)，所述计数器(CT)适合于起动和停止所述信号(I)的特征计算，所述特征每次根据由所述集成电路(DEC_V)输出的数据信号的数据样值(P)重算。应用：机顶盒中的视频译码器。
-
公开(公告)号：CN1278129C
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN03123882.3
申请日：2003-05-30
申请人： 安捷伦科技有限公司
发明人： 肯尼思·P·帕克
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/28 , G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/318577 , G01R31/318547 , G01R31/318572
摘要： 本发明公开了关于边界扫描测试的多种方法和装置，包括用于产生边界扫描测试向量的方法。该方法给测试中的电路组装件的所有驱动器和滞后测试接收机存储器分配不同的二进制标记，然后产生一系列的边界扫描测试向量，其中，每一个测试向量从二进制标记的对应位导出。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
73 条记录 (耗时 0.019 秒)
