一种1553B总线测试专用插座
    71.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116413482A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310307321.5

    申请日:2023-03-27

    Abstract: 一种1553B总线测试专用插座,应用于BGA312封装1553B总线电路(B64843HC)的参数测试;旋转装置、转接环装配于顶盖上,通过顺时针旋转向下按压推动上部顶板作用于器件上,通过上部顶盖各部分配合下部底座相互作用,使下部针座与待测电路管脚接触完好,确保测试的准接性和稳定性,逆时针旋转顶旋转装置,向上抬起上部顶板释放反作用力,将器件释放开。本发明的特点:针对BGA312封装1553B总线电路,体积小,管脚密集。适用于BGA312封装的1553B总线电路的测试生产工作。

    一种基于FPGA的可扩展CPU监控装置
    73.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116302786A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202211689649.X

    申请日:2022-12-27

    Abstract: 一种基于FPGA的可扩展CPU监控装置,I/O接口译码时序模块与CPU的I/O接口连接,解析来自CPU的指令并将指令相应地下发给ADC驱动时序模块、OC指令控制模块、1553B通信监控模块、1553B时序控制模块;ADC驱动时序模块根据相应指令对模数转换器(ADC)进行状态控制,所述指令包括:启动和结束AD转换、通道切换;OC指令控制模块根据相应指令对输出控制器(OC)进行状态控制,所述指令包括:打开和关闭OC通道、通道切换;1553B时序控制模块和1553B通信监控模块分别与1553B协议芯片连接,1553B时序控制模块根据指令对1553B协议芯片进行状态控制;1553B通信监控模块根据相应指令对1553B协议芯片进行状态监控。本发明大幅度降低了监控系统的时延和监控能力,满足多路信号采集和监控的需求。

    一种总剂量通用试验系统及方法
    74.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116298615A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310197034.3

    申请日:2023-03-01

    Abstract: 一种总剂量通用试验系统及方法,系统包括试验架、电源和PC机;试验架包括可移动卡槽、第一线缆接口、可拆式电压表、第二线缆接口、轨道;可移动卡槽安装在轨道上,可移动卡槽承载待测试验板,可移动卡槽能够沿轨道移动;第一线缆接口位于可移动卡槽远离辐射源的一端,第一线缆接口与待测试验板的供电线缆相连;第二线缆接口通过电源线缆与电源相连;在第一线缆接口与第二线缆接口之间连接线缆;可拆式电压表并联在第一线缆接口与第二线缆接口之间;PC机控制电源的输出电压,并监控电源线缆的电流、记录电流数据并生成电流曲线。本发明试验系统体积小、通用性强、效率高、可靠性高、使用成本低。

    一种高可靠低成本的低压大电流器件单粒子测试系统

    公开(公告)号:CN116148565A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211706610.4

    申请日:2022-12-29

    Abstract: 本发明提供了一种高可靠低成本的低压大电流器件单粒子测试系统,采用定时刷新机制搭建可靠单粒子测试系统,且无需外加程控电源等供电设备,实现低压大电流复杂器件的电压和电流实时监控。系统包括上位机、主控系统、待测器件电源系统、待测系统。上位机负责试验过程控制和试验结果显示。主控系统负责接受上位机操作指令,监控待测器件电源系统,完成电压和电流监测,并控制待测系统完成单粒子效应评估。待测器件电源系统,由可回读输出电压和电流的电路构成,完成待测器件的供电。主控系统监控待测器件电源系统的输出电压和电流并判定和记录单粒子翻转、单粒子锁定和单粒子功能中断等,最终完成待测低压大电流复杂器件的单粒子效应评估。

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