半导体膜镀覆周边制图与补偿
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117926370A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311405133.2

    申请日:2023-10-26

    Abstract: 晶片周边处的状态可被表征并可用于调节在镀覆处理期间由堰窃流电极汲取的电流,以产生更均匀的膜厚度。当晶片旋转时,电极可位于镀覆室中且在晶片周缘附近。为了表征密封件上的电触点,可以将具有种晶层的晶片装载到镀覆室中,并且可驱动恒定电流通过电极到晶片上的导电层。随着该电流的电特性,例如驱动恒定电流所需的电压,变化,可生成表征密封件质量或掩模层中的开口的制图。

    曝光后处理设备
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110036346B

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN201780073007.8

    申请日:2017-11-03

    Abstract: 本文描述的实施方式涉及用于曝光后处理的设备。更具体言之,本文描述的实施方式涉及处理平台上使用的场引导式曝光后处理腔室及冷却/显影腔室。在一个实施方式中,多个曝光后处理腔室和冷却/显影腔室对以堆叠布置的方式定位在处理平台上,并利用共享的管道模块。在另一实施方式中,多个曝光后处理腔室和冷却/显影腔室以线性布置的方式定位在处理平台上,且每个腔室利用单独专用的管道模块。

    用于半导体工件的处理组件及其处理方法

    公开(公告)号:CN103262208A

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN201180059556.2

    申请日:2011-12-02

    Abstract: 一种用于半导体工件的处理组件大体包括能够旋转工件的转子组件、用于将化学物输送至所述工件的化学物输送组件及用于自所述工件收集废化学物的化学物收集组件。所述化学物收集组件可包括配置为与所述转子组件一起旋转的堰。还提供一种处理半导体工件的方法。

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