具有埋置电容器的半导体裸片以及制造半导体裸片的方法

    公开(公告)号:CN110047817B

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN201910033479.1

    申请日:2019-01-14

    Abstract: 本公开的实施例涉及具有埋置电容器的半导体裸片以及制造半导体裸片的方法。半导体本体包括前侧和背侧,并且被配置成支撑电子电路。埋置区域被设置在半导体本体中,位于电子电路和背侧之间的位置处。埋置区域包括导电材料层和电介质层,其中电介质层被布置在导电材料层和半导体本体之间。导电路径在埋置区域和前侧之间延伸,以形成用于电气接入导电材料层的路径。由此形成电容器,其中导电材料层提供电容器极板,并且电介质层提供电容器电介质。另一个电容器极板由半导体本体提供,或者由埋置区域中的另一导电材料层提供。

    大规模的集成AMR磁电阻器

    公开(公告)号:CN106291414B

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201510860677.7

    申请日:2015-11-30

    Abstract: 本公开涉及大规模的集成AMR磁电阻器。集成AMR磁电阻传感器具有布置在彼此顶部上的磁电阻器、设置/重置线圈、以及屏蔽区域。设置/重置线圈定位在磁电阻器和屏蔽区域之间。磁电阻器由细长形状的磁电阻条体形成,磁电阻条体具有在平行于优选磁化方向的第一方向上的长度和在垂直于第一方向的第二方向上的宽度。设置/重置线圈具有横向于磁电阻条体延伸的至少一个伸展。屏蔽区域为铁磁材料,并且具有在第二方向上的大于磁电阻条体的宽度的宽度,以便于衰减遍历磁电阻条体的外部磁场并且增加磁电阻传感器的灵敏度尺度。

    大规模的集成AMR磁电阻器

    公开(公告)号:CN106291414A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201510860677.7

    申请日:2015-11-30

    Abstract: 本公开涉及大规模的集成AMR磁电阻器。集成AMR磁电阻传感器具有布置在彼此顶部上的磁电阻器、设置/重置线圈、以及屏蔽区域。设置/重置线圈定位在磁电阻器和屏蔽区域之间。磁电阻器由细长形状的磁电阻条体形成,磁电阻条体具有在平行于优选磁化方向的第一方向上的长度和在垂直于第一方向的第二方向上的宽度。设置/重置线圈具有横向于磁电阻条体延伸的至少一个伸展。屏蔽区域为铁磁材料,并且具有在第二方向上的大于磁电阻条体的宽度的宽度,以便于衰减遍历磁电阻条体的外部磁场并且增加磁电阻传感器的灵敏度尺度。

    多孔硅发光器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN106356434B

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201610108591.3

    申请日:2016-02-26

    Abstract: 本公开提供多孔硅发光器件及其制造方法。发光器件(1)包括:半导体本体(2),具有第一导电性类型,具有正侧面(2a)和背侧面(2b);多孔硅区域(10),其在半导体本体(2)中在正侧面(2a)处延伸;以及阴极区域(8),与多孔硅区域(10)直接侧向接触。发光器件进一步包括电绝缘材料的势垒区域(12),势垒区域(12)在阴极区域的底侧面处与阴极区域(8)直接接触地延伸,使得在使用中,电流排他地穿过阴极区域(8)的侧向部分在半导体本体中流动。

    具有埋置电容器的半导体裸片以及制造半导体裸片的方法

    公开(公告)号:CN110047817A

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201910033479.1

    申请日:2019-01-14

    Abstract: 本公开的实施例涉及具有埋置电容器的半导体裸片以及制造半导体裸片的方法。半导体本体包括前侧和背侧,并且被配置成支撑电子电路。埋置区域被设置在半导体本体中,位于电子电路和背侧之间的位置处。埋置区域包括导电材料层和电介质层,其中电介质层被布置在导电材料层和半导体本体之间。导电路径在埋置区域和前侧之间延伸,以形成用于电气接入导电材料层的路径。由此形成电容器,其中导电材料层提供电容器极板,并且电介质层提供电容器电介质。另一个电容器极板由半导体本体提供,或者由埋置区域中的另一导电材料层提供。

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