半导体封装结构
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113161300A

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN202110080735.X

    申请日:2021-01-21

    Inventor: 詹峻棋 廖国成

    Abstract: 本公开提供一种引线框架,其包含裸片脚座及环绕所述裸片脚座的多个引线。所述引线中的每一个包含接近所述裸片脚座的指状物部分及远离所述裸片脚座的引线部分。所述指状物部分包含主体及至少一个支撑结构。在邻近的所述引线上的相应的所述支撑结构相互隔离,且所述支撑结构与所述裸片脚座之间的距离小于所述引线部分与所述裸片脚座之间的距离。还提供一种包含本文中所描述的引线框架的半导体封装结构及一种包含本文中所描述的半导体封装结构的半导体封装组合件。

    半导体装置封装及其制造方法

    公开(公告)号:CN111081684A

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201910531324.0

    申请日:2019-06-19

    Inventor: 廖国成 丁一权

    Abstract: 提供一种半导体装置封装,所述半导体装置封装包含衬底、安置在所述衬底上的第一支撑结构和第一天线。所述第一支撑结构包含以第一距离与所述衬底间隔开的第一表面。所述第一天线安置在所述第一支撑结构的所述第一表面上方。所述第一天线具有第一表面、与所述第一表面相对的第二表面以及从所述第一表面延伸到所述第二表面的第三表面,其中所述第一天线的所述第一表面和所述第二表面是暴露的。

    半导体封装结构和其制造方法

    公开(公告)号:CN110120373A

    公开(公告)日:2019-08-13

    申请号:CN201810895144.6

    申请日:2018-08-08

    Abstract: 一种半导体封装结构,其包含第一导电结构、第二导电结构、第一半导体组件、第二半导体组件以及第一封装体。所述第一半导体组件安置在所述第一导电结构上。所述第一导电结构包含第一重布层。所述第二半导体组件安置在所述第二导电结构上。所述第二导电结构包含第二重布层,且所述第一导电结构电连接到所述第二导电结构。所述第一封装体覆盖所述第一半导体组件和所述第一导电结构。所述第一导电结构的侧表面与所述第一封装体的侧表面是非共面的。

    内埋图形衬底及其制造方法及半导体封装结构

    公开(公告)号:CN105321922B

    公开(公告)日:2018-05-08

    申请号:CN201410258047.8

    申请日:2014-06-11

    CPC classification number: H01L2224/16225

    Abstract: 本发明涉及一种内埋图形衬底及其制造方法及半导体封装。所述内埋图形衬底包括衬底本体、第一线路层、多个导电通道及第二线路层。所述第一线路层内埋于所述衬底本体的第一表面中且显露于所述衬底本体的第一表面。所述第一线路层包括彼此间隔开的多个个别接垫。所述导电通道位于所述衬底本体的一通孔中且彼此间隔开。每一导电通道连接每一个别接垫及所述第二线路层。

    可检测接点厚度的基板及其检测方法

    公开(公告)号:CN101226921B

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200810074322.5

    申请日:2008-02-15

    Inventor: 廖国成

    Abstract: 本发明公开了一种可检测接点厚度的基板及其检测方法。该可检测接点厚度的基板至少包含介电层、第一金属层以及第二金属层,该第一金属层形成于该介电层的上表面,该第一金属层包含有线路区及测试区,该线路区具有多个接点,该第二金属层形成于该介电层的下表面,该第二金属层具有镂空区,该镂空区对准该第一金属层的该测试区,以防止检测该测试区时,造成干扰。

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