Apparatus and method for optical measurement
    83.
    发明授权
    Apparatus and method for optical measurement 有权
    装置和方法用于光学测量

    公开(公告)号:EP1329098B1

    公开(公告)日:2007-08-08

    申请号:EP01969763.0

    申请日:2001-09-24

    Applicant: Sensovation AG

    Abstract: The invention relates to an apparatus and processes for optical measurement and detection with real-time closed-loop controls, which enable higher levels of performance. The invention is especially suitable for applications such as spectroscopy; microscopy; biochemical assays; processes and reactions on miniaturized formats (such as those involving micro-/nano-plates, micro-formats & micro-arrays, chemistry-on-chip, lab-on-chip, micro-channels and micro-fluidics, where dimensions are on micron scale and columns are in the sub-nanoliter range). Such “intelligent sensing” allows higher data quality and reliability, higher measurement and analysis throughput and lower cost. The invention uses fast real-time adaptive digital signal processing and controls directly at the point where data is sensed. Through real-time adaptive control of sensors, chemical/opto-mechanical/opto-electronic processes and other components during the measurement process, consistently higher quality results and higher reliability are achieved. This invention furthermore includes an improved image sensor architecture that enables very intra-array dynamic range at fast frame rates and low noise performance.

    METHOD AND APPARATUS FOR PEAK COMPENSATION IN AN OPTICAL FILTER
    87.
    发明公开
    METHOD AND APPARATUS FOR PEAK COMPENSATION IN AN OPTICAL FILTER 审中-公开
    方法和设备TOP补偿的光学滤色

    公开(公告)号:EP1766347A2

    公开(公告)日:2007-03-28

    申请号:EP05748197.0

    申请日:2005-05-06

    CPC classification number: G01J3/28 G01J3/0227 G01J3/027 G01J3/0286 G01J3/44

    Abstract: In one embodiment the disclosure relates to a method and a system for determining the corrected wavelength of a photon scattered by a sample. The method includes the steps of determining a wavelength of a photon scattered from a sample exposed to illuminating photons and passed through a tunable filter and correcting the determined wavelength of the photon as a function of the temperature of the tunable filter and as a function of the bandpass set point of the tunable filter. The step of correcting the determined wavelength can further include determining an offset and adding the offset to the determined wavelength of the photon.

    Anordnung und Verfahren zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern
    89.
    发明公开
    Anordnung und Verfahren zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern 审中-公开
    装置和方法,用于补偿检测器在光谱仪的温度依赖性

    公开(公告)号:EP1684056A3

    公开(公告)日:2006-08-30

    申请号:EP05026781.4

    申请日:2005-12-08

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0286 G01J3/2803

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine Anordnung und das dazugehörige Verfahren zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern.
    Bei der erfindungsgemäßen Lösung besteht die Anordnung zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern aus einer Beleuchtungseinheit (1), einem Eintrittsspalt (2), einem abbildenden Gitter (3), einem Detektor (4) und einer Steuer- und Auswerteeinheit (5). Zusätzlich zu einem vorhandenen ersten Temperaturfühler (6) und einer Temperiereinheit (7) ist ein zweiter Temperaturfühler (8) für die Umgebungstemperatur vorhanden. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die Temperiereinheit von der Steuer- und Auswerteeinheit, in Auswertung der von zwei Temperaturfühlern ermittelten Messwerte, so gesteuert, dass die Temperatur des Detektors konstant bleibt.
    Mit der erfindungsgemäßen Anordnung kann der Quereinfluss der Umgebung auf den Detektor kompensiert werden, so dass die Stabilisierung der Detektortemperatur verbessert wird. Durch die zusätzliche Komponente "Umgebungstemperatur" wird eine verbesserte Stabilisierung der Detektortemperatur gewährleistet.

    Anordnung und Verfahren zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern
    90.
    发明公开
    Anordnung und Verfahren zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern 审中-公开
    装置和方法,用于补偿检测器在光谱仪的温度依赖性

    公开(公告)号:EP1684056A2

    公开(公告)日:2006-07-26

    申请号:EP05026781.4

    申请日:2005-12-08

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0286 G01J3/2803

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine Anordnung und das dazugehörige Verfahren zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern.
    Bei der erfindungsgemäßen Lösung besteht die Anordnung zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern aus einer Beleuchtungseinheit (1), einem Eintrittsspalt (2), einem abbildenden Gitter (3), einem Detektor (4) und einer Steuer- und Auswerteeinheit (5). Zusätzlich zu einem vorhandenen ersten Temperaturfühler (6) und einer Temperiereinheit (7) ist ein zweiter Temperaturfühler (8) für die Umgebungstemperatur vorhanden. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die Temperiereinheit von der Steuer- und Auswerteeinheit, in Auswertung der von zwei Temperaturfühlern ermittelten Messwerte, so gesteuert, dass die Temperatur des Detektors konstant bleibt.
    Mit der erfindungsgemäßen Anordnung kann der Quereinfluss der Umgebung auf den Detektor kompensiert werden, so dass die Stabilisierung der Detektortemperatur verbessert wird. Durch die zusätzliche Komponente "Umgebungstemperatur" wird eine verbesserte Stabilisierung der Detektortemperatur gewährleistet.

    Abstract translation: 装置具有照明单元(1),入射狭缝(2),示出了光栅(3),检测器(4)和控制和评估单元(5)和第一温度传感器(6),用于在中等温度下保持,温度单元(7) 并在环境温度下保持第二温度传感器(8)都存在。 照明单元,检测器,温度单元和传感器与控制和评估单元连接。 因此独立claimsoft包括用于检测器的光谱仪中的温度依赖性的补偿方法。

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