半導体装置
    1.
    发明专利
    半導体装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2019114675A

    公开(公告)日:2019-07-11

    申请号:JP2017247511

    申请日:2017-12-25

    Abstract: 【課題】半導体装置の性能を向上させる。 【解決手段】半導体装置は、第1回路を備える半導体チップと、半導体チップが搭載される配線基板SUB1とを有する。配線基板SUB1は、半導体チップに入力される入力信号が伝送される複数の配線(入力信号配線)Rw、半導体チップから出力される出力信号が伝送される複数の配線(出力信号配線)Tw、および基準電位が供給される複数の導体プレーン2PLを備える。配線の延在方向に対して直交する方向における配線の断面積を、配線断面積と定義すると、複数の配線Rwのそれぞれの配線断面積は、複数の配線Twのそれぞれの配線断面積より小さい。また、配線基板SUB1の厚さ方向において、複数の配線Rwのそれぞれは、基準電位が供給される複数の導体プレーン2PS2、2PS4に挟まれ、かつ、複数の配線Twと複数の配線Rwとの間には基準電位が供給される導体プレーン2PS4が配置される。 【選択図】図12

    半導体装置
    3.
    发明专利
    半導体装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2018107704A

    公开(公告)日:2018-07-05

    申请号:JP2016254120

    申请日:2016-12-27

    Abstract: 【課題】クロストークによる影響を抑制することが可能な安価な半導体装置を提供する。 【解決手段】半導体装置は、有機インターポーザに配置された信号配線LLと、信号配線の第1端部LN1に接続され、第1端部LN1に伝達された波形に対し逆相の反射波を発生するように、インピーダンスが設定され、周期的にデータを出力する出力回路OBFと、信号配線LLの第2端部LN2に接続され、第2端部LN2に伝達された波形に対し同相の反射波を発生するように、インピーダンスが設定された入力回路IBFとを備え、信号配線の平均遅延が、データの周期の半分に対して2以上の整数分の1となるように設定され、有機インターポーザに配置された他の信号配線における信号の遅延の最大値と最小値の差が、平均遅延以下となるように設定されている。 【選択図】図1

    電子装置
    6.
    发明专利
    電子装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2020150192A

    公开(公告)日:2020-09-17

    申请号:JP2019048036

    申请日:2019-03-15

    Abstract: 【課題】電子装置の性能を向上させる。 【解決手段】電子装置は、第1配線部の互いに反対側に搭載される第1および第2半導体部品と、第1半導体部品(ロジックチップLC1)を封止する封止体MRと、を有する。封止体MRには、第1半導体部品または第2半導体部品と電気的に接続される複数の貫通導体が形成される。平面視において、封止体MRは、第1半導体部品が配置された領域R1と、封止体MRの上面MRtの周縁部側に位置する領域R2と、領域R2と領域R1の間にある領域R3と、領域R2と領域R3の間にある領域R4と、を有する。領域R2には最も多くの貫通導体TVが配置される。領域R3には、領域R4より多くの貫通導体TVが配置される。 【選択図】図5

    半導体装置
    7.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2017139484A

    公开(公告)日:2017-08-10

    申请号:JP2017073502

    申请日:2017-04-03

    Abstract: 【課題】同一の基板に複数の半導体チップを実装した半導体装置を実現するためには、面積のより広い基板が必要となる。基板の厚さの増大を抑えつつ面積を増大させると、半導体装置としての反りや歪みが発生しやすくなる。半導体装置に反りや歪みが発生すると、配線基板上への実装が困難になったり、不可能になったりする。 【解決手段】2つの半導体チップを基板の同一対角線上に実装し、そのうち一方の半導体チップを基板の2本の対角線の交点上に実装することで、半導体装置の反りを抑制することが出来る。 【選択図】図1B

    半導体装置
    9.
    发明专利
    半導体装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2019075442A

    公开(公告)日:2019-05-16

    申请号:JP2017199633

    申请日:2017-10-13

    Abstract: 【課題】半導体装置の性能を向上させる。 【解決手段】半導体装置は、半導体チップが搭載される配線基板20を有する。配線基板20の配線層WL1は、平面視において、X方向に延びる主配線部2wv1、およびY方向に延びる複数の副配線部2wv2を有し、かつ、電源電位が供給される配線2wvを有する。また、配線層WL1は、平面視において、X方向に延びる主配線部2wg1、およびY方向に延びる複数の副配線部2wg2を有し、かつ、基準電位が供給される配線2wgを有する。複数の副配線部2wv2および複数の副配線部2wg2のそれぞれは、端部2we1および端部2we1の反対側の端部2we2を有し、かつ、主配線部2wg1と主配線部2wv1との間において、X方向に沿って交互に配列される。また、端部2we1および端部2we2のそれぞれには、ビア配線2vv、2vgが接続される。 【選択図】図9

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