半導体装置
    9.
    发明专利
    半導体装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2018056167A

    公开(公告)日:2018-04-05

    申请号:JP2016186833

    申请日:2016-09-26

    Inventor: 児玉 栄介

    Abstract: 【課題】必要最小限の設計変更で、静電破壊耐量の調整に対応できる静電保護素子を提供する 【解決手段】半導体装置は、ベース領域BRとエミッタ領域ERとが抵抗領域RR2を介して電気的に接続されたバイポーラトランジスタからなる静電保護素子CBを含む。このとき、静電保護素子CBのベース領域BRは、コレクタ領域CRと対向する対向部位FPを含む辺S1を有し、辺S1の対向部位FPは、平面視において、エミッタ配線EWLから露出する露出部分EXPと、平面視において、エミッタ配線EWLに覆われた被覆部分CVPとから構成されている。 【選択図】図7

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