생체 조직 검사 장치 및 그 방법
    1.
    发明申请
    생체 조직 검사 장치 및 그 방법 审中-公开
    活检装置和方法

    公开(公告)号:WO2017196123A1

    公开(公告)日:2017-11-16

    申请号:PCT/KR2017/004944

    申请日:2017-05-12

    Abstract: 생체 조직 검사 장치가 제시된다. 생체 조직 검사 장치는 스테이지부와 프로브부를 포함하고, 프로브부는 광학 촬상부, 광간섭 검출부 및 광유도부를 포함한다. 스테이지부는 검사 대상물이 적재되고, 프로브부는 광학 촬상부 및 광간섭 검출부를 통하여 검사 대상물에 대한 광학 영상 및 광간섭 데이터를 획득한다. 광학 촬상부 및 광간섭 검출부의 FOV에 검사 대상물의 선택된 영역이 위치하도록 스테이지부 또는 프로브부가 이동할 수 있다. 광유도부는 광학 촬상부로부터의 조명광과 광간섭 검출부로부터의 측정광이 검사 대상물에 동축으로 조사될 수 있도록 한다. 측정되고 있는 영역을 표시하기 위한 가이드빔이 추가로 조사될 수 있다. 측정되는 영상에 대한 배율을 조정하기 위한 배율 변경부가 포함된다. 배율 변경부에서 렌즈가 변경됨에 따라, 광경로차를 보정하기 위하여 광간섭 검출부에 포함된 기준 거울의 위치가 함께 변경된다.

    Abstract translation: 介绍了一种活检装置。 活组织检查设备包括台部分和探针部分,并且探针部分包括光学成像部分,光学干涉检测部分和光导部分。 载物台部分装载有待检查的物体,并且探头部分通过光学图像拾取部分和光学干涉检测部分获取待检查对象的光学图像和光学干涉数据。 台部分或探测器部分可以移动,使得待检查对象的选定区域位于光学成像部分和光学干涉检测部分的FOV中。 导光部分允许来自光学成像部分的照明光和来自光学干涉检测部分的测量光被同轴地照射到待检查对象。 可以进一步照射用于显示被测量区域的引导光束。 以及倍率改变单元,用于相对于待测量的图像调整倍率。 当在倍率改变单元中改变透镜时,包括在光学干涉检测单元中的参考反射镜的位置一起改变以校正光学路径差异。

    顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム
    2.
    发明申请
    顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム 审中-公开
    微观观察系统,微观观察方法和微观观察方案

    公开(公告)号:WO2016166871A1

    公开(公告)日:2016-10-20

    申请号:PCT/JP2015/061742

    申请日:2015-04-16

    Inventor: 阿部 洋子

    Abstract: Z方向における構造の位置や構造同士の前後関係をユーザが視覚的且つ直感的に把握することができる画像を、短時間に生成することができ、且つデータ量及び演算量を抑制することができる顕微鏡観察システム等を提供する。顕微鏡観察システム1は、顕微鏡装置10の観察光学系104により生成される被写体像を撮像して画像を取得する撮像部211と、観察光学系の焦点面及び視野の位置をシフトさせる電動ステージユニット130と、撮像部の1露光期間中に焦点面及び視野の位置をシフトさせることにより、多重焦点重畳画像を撮像部に取得させる撮像制御部22と、視野の位置をシフトさせるシフト量を取得するシフト量取得処理部231と、シフト量が異なる複数の条件の下でそれぞれ取得された複数の多重焦点重畳画像をもとに、複数の全焦点画像をそれぞれ生成する全焦点画像生成部232と、複数の全焦点画像を表示する表示装置30とを備える。

    Abstract translation: 提供了一种微观观察系统,其中数据量和计算量被限制,并且可以在短时间内产生允许用户以视觉和直观的方式确定位置的图像 Z方向的结构和结构之间的前后关系。 显微镜观察系统1设置有:摄像部211,其通过拍摄由显微镜装置10的观察光学系统104生成的被摄体图像来获取图像; 使舞台单元130移动观察光学系统的视野和焦平面的位置; 成像控制单元22,其使成像单元通过在成像单元的第一曝光时段期间移动视场位置和焦平面来获取多焦点叠加图像; 获取视场的位置偏移的偏移量的偏移量取得处理部231; 全景图像生成单元232,其分别在多个多焦点叠加图像的基础上生成多个全焦点图像,每个多焦点图像在移位量不同的多个条件下获取; 以及显示多个全景图像的显示装置30。

    顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム
    3.
    发明申请
    顕微鏡観察システム、顕微鏡観察方法、及び顕微鏡観察プログラム 审中-公开
    微观观察系统,微观观察方法和微观观察方案

    公开(公告)号:WO2016166858A1

    公开(公告)日:2016-10-20

    申请号:PCT/JP2015/061640

    申请日:2015-04-15

    Inventor: 阿部 洋子

    Abstract: 生体等の透明被写体の全焦点画像を観察する場合であっても、Z方向における構造の位置や構造同士の前後関係をユーザが視覚的に把握することができる顕微鏡観察システム等を提供する。顕微鏡観察システム1は、顕微鏡装置10が備える観察光学系の光軸に沿って焦点位置をずらしながら被写体像を撮像することにより生成された複数のスライス画像を取得する画像取得部21と、複数のスライス画像のうちの1のスライス画像に対して他のスライス画像を、当該1のスライス画像が含まれる面内において相対的にシフトさせる画像シフト処理部231と、上記1のスライス画像と、該1のスライス画像に対して相対的にシフトさせた他のスライス画像とを、1のスライス画像に対する他のスライス画像のシフト量が異なる複数の条件の下で合成することにより、複数の全焦点画像を生成する全焦点画像生成部232と、複数の全焦点画像を表示する表示装置30とを備える。

    Abstract translation: 提供了一种显微观察系统,即使在观察诸如生物体的透明对象的全焦点图像时,用户可以通过该显微镜观察系统目视确定Z方向上的结构的位置和结构之间的前后关系。 显微镜观察系统1具有:图像获取单元21,其获取通过拍摄被摄体图像而产生的多个切片图像,同时沿着显微镜装置10所在的观察光学系统的光轴移动焦点位置 提供; 图像偏移处理单元231,其相对于来自切片图像的一个切片图像相对于在一个切片图像中包含的平面内的其他切片图像相对移位; 全景图像生成单元232,其通过合成一个切片图像和相对于一个切片图像相对移位的其他切片图像来生成多个全焦点图像,所述合成在多个条件下执行,其中移位 相对于一个切片图像的其他切片图像的量不同; 以及显示多个全景图像的显示装置30。

    CLINICAL INTRAVITAL MICROSCOPE
    4.
    发明申请
    CLINICAL INTRAVITAL MICROSCOPE 审中-公开
    临床入侵显微​​镜

    公开(公告)号:WO2015171611A1

    公开(公告)日:2015-11-12

    申请号:PCT/US2015/029242

    申请日:2015-05-05

    Inventor: SKITZKI, Joseph

    Abstract: A clinical intravital microscope with a heavy base; a motorized, mechanized or manual cantilever arm; and a microscope and camera portion at the distal end of the cantilever arm is provided. A method for observing and/or recording conditions such as blood flow, vessel characteristics, such as vessel density, tumor structure, tumor size and dimensions, is provided such that a physician is permitted to observe such information and characteristics in real-time.

    Abstract translation: 具有重基础的临床活体显微镜; 机动,机械或手动悬臂; 并且提供在悬臂的远端处的显微镜和照相机部分。 提供观察和/或记录诸如血流,血管特征如血管密度,肿瘤结构,肿瘤大小和尺寸等条件的方法,使得医生被允许实时观察这些信息和特征。

    LICHTMIKROSKOP MIT INNENFOKUSSIERENDEM OBJEKTIV UND MIKROSKOPIEVERFAHREN ZUM UNTERSUCHEN MEHRERER MIKROSKOPISCHER OBJEKTE
    5.
    发明申请
    LICHTMIKROSKOP MIT INNENFOKUSSIERENDEM OBJEKTIV UND MIKROSKOPIEVERFAHREN ZUM UNTERSUCHEN MEHRERER MIKROSKOPISCHER OBJEKTE 审中-公开
    与INNENFOKUSSIERENDEM镜头及观察方法光镜下观察多微观对象

    公开(公告)号:WO2015078633A1

    公开(公告)日:2015-06-04

    申请号:PCT/EP2014/072090

    申请日:2014-10-15

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Lichtmikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Objekte mit hohem Durchsatz. Das Mikroskop umfasst eine Lichtquelle zum Beleuchten eines Messbereichs, ein Probengefäß, in dem die mikroskopischen Objekte nacheinander in den Messbereich bewegbar sind, sowie Abbildungsmittel und eine Detektionseinrichtung zum Messen von Detektionslicht, das von einem in dem Messbereich befindlichen mikroskopischen Objekt kommt. Das Mikroskop ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, dass die Abbildungsmittel ein Detektionsobjektiv mit ortsfester Frontoptik und bewegbarer Fokussieroptik umfassen, wobei die Fokussieroptik hinter der Frontoptik und vor einer Zwischenbildebene angeordnet ist und zur Höhenverstellung einer Detektionsebene verstellbar ist. Die Erfindung betrifft zudem ein entsprechendes Mikroskopieverfahren.

    Abstract translation: 本发明涉及一种光显微镜检查使用高通量微观对象。 所述显微镜包括:光源,用于照射一个测量区域,样品容器,其中所述微观对象是在测量范围内连续移动,以及成像装置和检测装置,用于测量检测光,它来自一个位于测量范围微观对象。 根据本发明的显微镜,其特征在于所述成像装置包括具有固定的前透镜和可动聚焦光学系统的检测透镜,聚焦光学系统被布置在前透镜的后面,在一个中间像平面的前面,是可以调节,检测电平的高度调节。 本发明还涉及一种相应的方法显微镜。

    LICHTMIKROSKOP UND MIKROSKOPIEVERFAHREN
    6.
    发明申请
    LICHTMIKROSKOP UND MIKROSKOPIEVERFAHREN 审中-公开
    光镜和观测方法

    公开(公告)号:WO2014114702A1

    公开(公告)日:2014-07-31

    申请号:PCT/EP2014/051301

    申请日:2014-01-23

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Lichtmikroskop mit einer Probenebene, in weicher eine zu untersuchende Probe positionierbar ist, mit einer Lichtquelle zum Aussenden von Beleuchtungslicht, mit optischen Abbildungsmitteln zum Leiten des Beleuchtungslichts in die Probenebene und mit einer Detektoreinrichtung, welche zum Nachweisen von Probenlicht, das von der Probe kommt, mehrere Detektorelemente aufweist. Dabei weisen benachbarte Detektorelemente zueinander einen Abstand auf, der kleiner ist als eine Airy-Disk, den ein Punkt der Probenebene auf der Detektoreinrichtung erzeugt. Das Lichtmikroskop ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, dass eine Abtasteinrichtung mit mindestens einer ersten und einer zweiten Optikanordnung vorhanden ist, dass die Optikanordnungen der Abtasteinrichtung gleichzeitig in eine gemeinsame Richtung bewegbar sind zum Erzeugen einer Beleuchtungsabtastbewegung und einer Detektionsabtastbewegung, welche zueinander entgegengesetzt sind, dass die erste und die zweite Optikanordnung jeweils mehrere nebeneinander angeordnete optische Elemente aufweisen, mit denen voneinander beabstandete Probenbereiche gleichzeitig untersuchbar sind, dass die erste und die zweite Optikanordnung so angeordnet sind, dass sowohl ein Strahlengang des Probenlichts von der Probenebene zur Detektoreinrichtung als auch ein Strahlengang des Beleuchtungslichts von der Lichtquelle zu der Probenebene über die erste Optikanordnung verlaufen und nur einer dieser beiden Strahlengänge über die zweite Optikanordnung verläuft und dass zum Erreichen einer Richtung der Detektionsabtastbewegung, welche entgegengesetzt zur Richtung der Beleuchtungsabtastbewegung ist, mit der Abtasteinrichtung Probenlicht nicht invertierend und mit einem Abbildungsmaßstab von kleiner eins abbildbar ist. Die Erfindung ist zudem auf ein entsprechendes Mikroskopieverfahren gerichtet.

    Abstract translation: 本发明涉及在光学显微镜用样品平面被定位在软太测试样品中,其包括用于发射照明光的光源,与光学成像装置,用于在样品平面引导的照明光,并利用检测器装置,其用于从所述的检测样品的光的 样品来,具有多个检测器元件。 在这种情况下,面对在距离比的艾里斑,其在检测器装置产生的样本平面的点更小的彼此相邻的探测器元件。 根据本发明的光学显微镜,其特征在于具有至少一个第一和一个第二光学装置被设置成使得扫描装置的光学布置是在一个共同的方向上产生一个Beleuchtungsabtastbewegung和Detektionsabtastbewegung它们是彼此相对的同时可移动的扫描装置,使得第一和 第二光学组件中的每个具有多个与间隔开的样本区域同时考试的是,第一和第二光学装置被布置为使得从所述两个样品的光的光束路径中并置的光学元件的样品平面到检测器装置以及从所述照明光的光束路径 通过第一光学组件延伸光源到样品面和仅通过第二光学组件这两个光束路径中的一个,并且,为实现一个方向d上 它是Detektionsabtastbewegung这是相对的非反相和Beleuchtungsabtastbewegung与小于一个与所述扫描探针光的放大率成像的方向。 本发明还涉及相应的显微方法。

    SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING AT HIGH SPATIAL AND/OR TEMPORAL PRECISION
    7.
    发明申请
    SYSTEMS AND METHODS FOR IMAGING AT HIGH SPATIAL AND/OR TEMPORAL PRECISION 审中-公开
    用于在高空间和/或时间精度下成像的系统和方法

    公开(公告)号:WO2013078347A3

    公开(公告)日:2013-08-01

    申请号:PCT/US2012066303

    申请日:2012-11-21

    Abstract: Various aspects of the present invention are generally directed to systems and methods for imaging at high spatial and/or temporal resolutions. In one aspect, the present invention is generally directed to an optical microscopy system and related methods adapted for high spatial and temporal resolution of dynamic processes. The system may be used in conjunction with fluorescence imaging wherein the fluorescence may be mediated by voltage-indicating proteins. In some cases, time resolutions may be enhanced by fitting predefined temporal waveforms to signal values received from an image. The system may also contain a high numerical aperture objective lens and a zoom lens located in an imaging optical path to an object region. Other aspects of the present invention are generally directed to techniques of making or using such systems, kits involving such systems, manufactured storage devices able to implement such systems or methods, and the like.

    Abstract translation: 本发明的各个方面总体上针对用于以高空间和/或时间分辨率进行成像的系统和方法。 在一个方面,本发明总体上针对适用于动态过程的高空间和时间分辨率的光学显微镜系统和相关方法。 该系统可以与荧光成像结合使用,其中荧光可以由电压指示蛋白介导。 在某些情况下,时间分辨率可以通过将预定义时间波形拟合到从图像接收的信号值来增强。 该系统还可以包含位于到目标区域的成像光路中的高数值孔径物镜和变焦透镜。 本发明的其他方面通常涉及制造或使用这种系统的技术,涉及这种系统的套件,能够实现这样的系统或方法的制造的存储设备等。

    WIDE RANGE ZOOM SYSTEM
    8.
    发明申请
    WIDE RANGE ZOOM SYSTEM 审中-公开
    变焦系统高延展性

    公开(公告)号:WO2012034723A9

    公开(公告)日:2013-01-17

    申请号:PCT/EP2011060082

    申请日:2011-06-17

    CPC classification number: G02B21/025 G02B15/173 G02B27/0075

    Abstract: The invention relates to a wide range zoom system, in particular for use in microscopes. The zoom system according to the invention comprises five lens groups, of which, starting at the object side, the second and fourth lens group are displaceable in the axial direction relative to the first, third and fifth lens group. A stop of variable opening diameter that is stationary relative to the first, third and fifth lens group is provided between the second and fourth lens group, wherein the maximum opening diameter is said stop is in middle zoom magnifications. As magnification increases, the object-side aperture increases non-linearly in relation to the magnification, such that in regions of low magnifications the object-side aperture increases more sharply than in regions of higher magnifications.

    Abstract translation: 本发明涉及的高扩展,特别是用于在显微镜变焦系统。 本发明的变焦系统包括五个透镜组,其中 - 从物体侧开始 - 所述第二和第四透镜组是相对于所述第一,第三和第五透镜组在轴向方向上移动。 第二和第四透镜组之间的ortsunveränderliche相对于所述第一,第三和第五透镜组膜片上设置有可变孔径,其具有在中间变焦倍率其最大开口直径。 通过增加放大倍率,物体侧的孔径成比例非线性增加的放大率,以使物体侧的孔径增加在低倍率区域大于在更高的放大倍率的区域。

    MIKROSKOPOBJEKTIV MIT GROSSEM ARBEITSABSTAND
    10.
    发明申请
    MIKROSKOPOBJEKTIV MIT GROSSEM ARBEITSABSTAND 审中-公开
    与大的工作距离显微镜镜头

    公开(公告)号:WO2012034787A1

    公开(公告)日:2012-03-22

    申请号:PCT/EP2011/063614

    申请日:2011-08-08

    Inventor: SPRENGER, Joerg

    CPC classification number: G02B21/025

    Abstract: Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikroskopobjektiv, insbesondere zur Verwendung in mikroskopischen Zoomsystemen geeignet, bei denen bei guter apochromatischer Korrektion und unter Beibehaltung eines großen Arbeitsabstandes ein möglichst großes Objektfeld in Minimalzoomstellung und die Nutzung einer möglichst großen Apertur bei Maximalzoomstellung gefordert ist. Erfindungsgemäß besteht ein Mikroskopobjektiv, das diesen Anforderungen genügt, aus drei optischen Gliedern G1, G2 und G3, wobei diese von der Objektebene ausgehend wie folgt charakterisiert sind: das erste Glied G1 erfüllt die Brennweitenbedingung f' Obj G1 Obj , das zweite Glied G2 erfüllt die Brennweitenbedingung 2.5 * f' Obj G2 | Obj , und das dritte Glied G3 erfüllt die Brennweitenbedingung |f' G3 | > 5 * ff' Obj . Dabei ist für das erste Glied G1 zunächst eine positive Linse aus einem hoch brechenden Material vorgesehen, gefolgt von einer negativen Linse mit im Vergleich dazu geringerer Brechzahl.

    Abstract translation: 本发明涉及其中在良好复消色差校正和维持在最小缩放位置的大的工作距离尽可能大的物场,并使用最大可能的孔是必需的最大变焦位置到显微镜物镜,尤其是用于使用合适的显微变焦系统。 根据本发明,有一种显微镜物镜,其满足这些要求,三个光学部件G1,G2和G3,它们从物体平面程序特征如下:第一栅极G1满足焦距条件f'Obj G1Obj,满足焦距状态的第二栅极G2 2.5 * f'Obj G2 | OBJ,和第三栅极G3满足聚焦条件| f'G3 | > 5 * ff'Obj。 在这种情况下,由用于最初提供的第一栅极G1的高折射材料制成的正透镜,随后是负透镜相比,更低的折射率。

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