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公开(公告)号：CN116243084A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202310077207.8
申请日：2023-02-06
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种射频组件测试设备，包括顺次连接的常温室、低温室、中转室和高温室，其保证了测试的准确性，测试过程避免人工介入，提升了测试效率，适应于全自动的测试需求。本发明还提供一种射频组件测试方法，其过程简单，不需要人工参与，能准确的控制射频组件的测试温度；还能充分兼顾射频组件测试过程中需要保温一定时间和单个射频组件测试时长的关系，提高射频组件的流转效率，继而提升测试效率。
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公开(公告)号：CN118455105A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410758407.4
申请日：2024-06-13
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种用于芯片分选机的摆臂推料器组合装置，属于芯片分选技术领域，包括：机架、两轴移动机构、顶升推料机构以及升降驱动机构；两轴移动机构设置于所述机架的底板上，具有纵向和横向两个方向的移动自由度；顶升推料机构可随所述两轴移动机构纵横移动，并驱动顶针器上下移动；旋转摆动机构固定于所述机架上，以驱动摆臂在预设角度内摆动；升降驱动机构与旋转摆动机构关联，以驱动摆臂上下运动；摆臂的悬置端设置有吸嘴；吸嘴在所述旋转摆动机构及升降驱动机构的带动下，摘取所述顶针器上的芯片。本发明通过顶升推料机构和旋转摆动机构上下配合调整的组合方式，能够减小摆臂的转动惯量，提高摆臂的稳定性与速度，能够避免对芯片的损坏。
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公开(公告)号：CN114243288A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111527186.2
申请日：2021-12-14
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种微带天线与TR组件一体化结构及一体化方法，属于射频微波技术领域，包括TR组件和微带天线，TR组件包括盒体，盒体前端的天线射频接口端设有多通道绝缘子插针连接器；微带天线集成在天线射频接口端，微带天线设有与绝缘子插针连接器数量及位置一一对应的射频信号孔，绝缘子插针连接器穿过射频信号孔，并与微带天线烧结在一起。本发明提供的微带天线与TR组件一体化结构，微带天线具有剖面薄、体积小、重量轻、易共形、容易实现双极化、便于与TR组件进行集成设计的特点；将微带天线与TR组件集成为一体，能够提高雷达产品的信号接收分辨性能，降低器件连接后的尺寸，实现体积小型化及重量轻质化。
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公开(公告)号：CN112710912A
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN202011363518.3
申请日：2020-11-27
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种滤波器测试装置，属于测试设备技术领域，包括安装底座、设置在安装底座上用于夹紧固定待测产品的产品固定组件、以及两个滑动设置在安装底座上用于安装固定测试接头的进给组件，两进给组件分别位于产品固定组件的两侧，安装底座上还设置有用于驱动进给组件滑动的驱动机构，驱动机构驱动进给组件沿靠近或远离产品固定组件的方向滑动。本发明提供的滤波器测试装置，驱动机构驱动进给组件运动，使安装在进给组件上的测试接头向产品端子方向靠近，实现测试接头与端子的快速精确对接，提高了滤波器的检测效率，并且有效的避免了滤波器再检测过程中的损坏。
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公开(公告)号：CN118584160A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410600224.X
申请日：2024-05-15
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
发明人： 李军凯 , 李晓光 , 吴立丰 , 孙磊磊 , 袁彪 , 刘丙凯 , 常青松 , 郝晓博 , 李占鹏 , 何普 , 杨东旭 , 靳英策 , 安加林 , 樊泽培 , 王凯 , 杨彦锋 , 胡欣媛
摘要： 本发明提供一种探针测试设备的点动功能控制装置。该装置包括：键盘与控制器；键盘与控制器连接，控制器与目标探针测试设备连接；键盘设有速度设置键和方向键；控制器，用于识别用户通过键盘输入的速度设置键和方向键的组合按键操作，并基于速度设置键和方向键的组合按键操作，控制目标探针测试设备按照预设速度向目标方向移动；预设速度由速度设置键指示，目标方向由方向键指示。本发明相比于硬件摇杆控制方式，键盘进行控制能实现目标探针测试设备全方位灵活运动，当需要控制目标探针测试设备移动时，只需要在按压相应的键盘按键。相比于软件按键控制方式，键盘控制比鼠标控制更加精确，能够减少误触的概率。
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公开(公告)号：CN112777283A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202110134702.9
申请日：2021-01-31
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： B65G47/248 , B65G43/00 , B08B3/04
摘要： 本发明提供了一种工件翻转机构，属于微波组件清洗技术领域，包括夹具、固定架、第一驱动件和导向组件，夹具具有容置工件的固定腔，固定腔对工件进行限位；固定架具有能够容纳夹具的容纳腔，容纳腔的至少一侧具有开口部，以使夹具进出容纳腔；第一驱动件与固定架连接，能够驱动固定架翻转；导向组件设于固定架上，导向组件对夹具进出容纳腔进行导向。本发明提供的工件翻转机构，解决了现有技术中对微波组件进行清洗时无法自动翻转微波组件，造成工作效率低下的问题。
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公开(公告)号：CN112540514A
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN202011496764.6
申请日：2020-12-17
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： G03F7/30
摘要： 本发明提供了一种显影设备，属于芯片生产领域，包括溶液槽体、第一导向机构、第二导向机构、晃动驱动机构、晶圆盛放机构和控制单元；溶液槽体沿预设路径设有多个，预设路径垂直于上下方向；第一导向机构设于溶液槽体之外；第二导向机构与第一导向机构沿预设路径滑动配合；晃动驱动机构与第二导向机构沿上下方向滑动配合；晶圆盛放机构5连接于晃动驱动机构，晃动驱动机构用于使晶圆盛放机构以预设频率和预设幅度沿上下方向往复晃动；控制单元分别与第一导向机构、第二导向机构和晃动驱动机构通讯连接。本发明提供的显影设备无需操作人员手工操作，移动路径、浸泡时间、晃动频率均能得到精确控制，差错率降低，也降低了劳动强度。
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公开(公告)号：CN112485517A
公开(公告)日：2021-03-12
申请号：CN202011040038.3
申请日：2020-09-28
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： G01R23/02
摘要： 本发明适用于微波频率源及测试测量技术领域，提供了一种测量锁相频率源频率跳变时间的方法及终端设备，该方法包括：获取被测信号；根据被测信号的频率和信号稳定精度需求，确定计时时间段；分别测量每个计时时间段对应的实际频率，当测量的连续预设个数的实际频率均等于被测信号的频率时，则确定频率稳定时间为连续预设个数的实际频率中第一个实际频率对应的计时时间段；根据频率稳定时间和跳频触发信号开始时间，确定锁相频率源频率的跳变时间，从而可以得到准确的跳变时间，适用于批量情况下锁相源产品的跳频时间指标测量，可大幅度提高测试效率。
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公开(公告)号：CN112485517B
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202011040038.3
申请日：2020-09-28
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： G01R23/02
摘要： 本发明适用于微波频率源及测试测量技术领域，提供了一种测量锁相频率源频率跳变时间的方法及终端设备，该方法包括：获取被测信号；根据被测信号的频率和信号稳定精度需求，确定计时时间段；分别测量每个计时时间段对应的实际频率，当测量的连续预设个数的实际频率均等于被测信号的频率时，则确定频率稳定时间为连续预设个数的实际频率中第一个实际频率对应的计时时间段；根据频率稳定时间和跳频触发信号开始时间，确定锁相频率源频率的跳变时间，从而可以得到准确的跳变时间，适用于批量情况下锁相源产品的跳频时间指标测量，可大幅度提高测试效率。
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