用于带电粒子光刻系统的装置

    公开(公告)号:CN105372944A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201410829755.2

    申请日:2014-12-26

    Abstract: 本发明公开了用于带电粒子多束光刻系统的装置。该装置包括多个带电粒子双合透镜,每个双合透镜均具有第一孔径并且均配置为缩小入射在第一孔径上的细光束,从而产生缩小的细光束。该装置还包括多个带电粒子透镜,每个带电粒子透镜均与带电粒子双合透镜中的一个相关,每个带电粒子透镜均具有第二孔径,并且每个带电粒子透镜均配置为从相关的带电粒子双合透镜接受缩小的细光束并且实现以下两种状态中的一种:开启状态,其中允许缩小的细光束沿着期望的路径传输,以及关闭状态,其中阻止缩小的细光束沿着期望的路径传输。在实施例中,第一孔径大于第二孔径,从而改进带电粒子多束光刻系统中的粒子束效率。

    多栅格曝光方法
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103246171B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201210452518.X

    申请日:2012-11-12

    Abstract: 本发明公开了一种用于制造半导体器件的方法。一种示例性方法包括接收包括格上目标图案的集成电路(IC)布局。所述方法进一步包括接收多栅格结构。所述多栅格结构包括在第一方向上相互偏移一定偏移量的许多曝光栅格段。所述方法进一步包括实施多栅格曝光以将所述目标图案曝光在衬底上,从而在所述衬底上形成电路部件图案。实施多栅格曝光包括:在第二方向上扫描具有多栅格结构的衬底使得在所述第一方向上发生所曝光的目标图案的亚像素位移,以及使用增量时间(Δt)使得在所述第二方向上发生所曝光的目标图案的亚像素位移。本发明还公开了多栅格曝光方法。

    划分全晶片图案布局的方法、装置与系统

    公开(公告)号:CN101241517B

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200710129409.3

    申请日:2007-07-10

    CPC classification number: G06F17/5068 G03F1/36 G03F1/70 G03F7/70466

    Abstract: 本发明是有关于一种划分全晶片图案布局的方法,包括:提供图案布局,其中此图案布局具有多个特征;检查图案布局以判定特征中多个需划分特征与多个无需划分特征;以第一颜色与第二颜色对需划分特征进行着色步骤;当该着色步骤产生一具有着色冲突的特征时,藉由分解具有着色冲突的特征以及将分解后的具有着色冲突的涂上第一颜色与第二颜色,来解决多个着色冲突;以及以涂上第一颜色的特征来形成第一光罩以及以涂上第二颜色的特征来形成第二光罩。本发明可以有效且高效率地划分全晶片图案布局,可以使独立的布局达到近似的图案密度,还可以将现行曝光机台扩展来印刷下一世代设计图案,更可藉由将这些图案划分成独立的布局来增加每一独立布局的间距。

    用于带电粒子光刻系统的装置

    公开(公告)号:CN105372944B

    公开(公告)日:2017-12-19

    申请号:CN201410829755.2

    申请日:2014-12-26

    Abstract: 本发明公开了用于带电粒子多束光刻系统的装置。该装置包括多个带电粒子双合透镜,每个双合透镜均具有第一孔径并且均配置为缩小入射在第一孔径上的细光束,从而产生缩小的细光束。该装置还包括多个带电粒子透镜,每个带电粒子透镜均与带电粒子双合透镜中的一个相关,每个带电粒子透镜均具有第二孔径,并且每个带电粒子透镜均配置为从相关的带电粒子双合透镜接受缩小的细光束并且实现以下两种状态中的一种:开启状态,其中允许缩小的细光束沿着期望的路径传输,以及关闭状态,其中阻止缩小的细光束沿着期望的路径传输。在实施例中,第一孔径大于第二孔径,从而改进带电粒子多束光刻系统中的粒子束效率。

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