穿隧磁阻元件的制造方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103250263A

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN201180058075.X

    申请日:2011-12-20

    CPC classification number: H01L43/12 H01L43/08 H01L43/10

    Abstract: 本发明提供了一种无需MgO成膜工序的垂直磁化型磁性元件的制造方法。本发明的磁阻元件(1)的制造方法包括在基体(10)上层压第一层(30),该第一层(30)由包含Co、Ni和Fe中的至少一种的材料构成。接着,在第一层(30)上层压由Mg构成的第二层(40)。接着,对包括所述第一层(30)和所述第二层(40)的层压体实施氧化处理,使第二层(40)的Mg氧化为MgO。接着,对所述层压体实施加热处理,使第二层(40)结晶,并使第一层(30)垂直磁化。根据该制造方法,可在不产生由MgO成膜所引起的问题的情况下,制造出CoFeB-MgO系材料的垂直磁化型磁性元件。

    离子注入装置
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102203856A

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN200980143329.0

    申请日:2009-10-27

    Abstract: 本发明涉及离子注入装置。本发明的离子注入装置(10)具有配置在照射离子的照射范围(5)内的测定对象物(31)。在通过向处理对象物(40)照射处理气体离子和所述处理气体离子中性化的中性化粒子,由此,向所述处理对象物(40)注入原子时,向测定对象物(31)也照射所述处理气体离子和所述中性化粒子,所以,所述测定对象物(31)的温度上升。并且,控制装置(34)根据所计测的所述测定对象物(31)的温度求出所述处理对象物(40)的原子注入量。由此,能够提供正确测定原子注入量的离子注入装置。

    磁记录介质的制造方法
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102160116A

    公开(公告)日:2011-08-17

    申请号:CN200980136655.9

    申请日:2009-09-17

    CPC classification number: G11B5/855

    Abstract: 制造磁图案的对比度高的磁记录介质。通过改变用于加速处理气体的离子的加速电压,即便作为抗蚀剂(49)的薄膜部分的离子透过部(48)的膜厚减少,也能够将目标元素的注入量为最大的距磁性层(44)的深度(峰值深度D0、D1)设为设定的深度。通过将峰值深度(D0、D1)设为设定的深度,将磁性膜(44)的处理部(43)从表面非磁性化至背面,并分离磁性部,因而得到磁图案的对比度高的磁记录介质。

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