缺陷诊断方法和缺陷诊断装置

    公开(公告)号:CN114035013B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202111215184.X

    申请日:2021-10-19

    Abstract: 本发明涉及一种缺陷诊断方法和缺陷诊断装置,缺陷诊断方法包括构建数据模型,数据模型包括已知缺陷信息和与已知缺陷信息对应的仿真特征参数;获取待测三维无源器件的特征参数;基于已知缺陷信息、仿真特征参数和待测三维无源器件的特征参数,获得待测三维无源器件的缺陷信息。通过数据模型构建模块构建数据模型,通过数据采集模块采集待测三维无源器件的特征参数,再搭配数据处理模块,获得待测三维无源器件的缺陷信息,可以同时诊断多缺陷和多故障;通过本发明的缺陷诊断方法和缺陷诊断装置,批量化诊断缺陷类型、缺陷尺寸和缺陷位置,解决复合缺陷检测与诊断的数据量大、操作困难问题,加快生产厂家的可靠性检测效率、检测精度和检测准确度。

    可靠性试验设备、方法、装置以及计算机设备

    公开(公告)号:CN118168835A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410320237.1

    申请日:2024-03-20

    Abstract: 本申请涉及一种可靠性试验设备、方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,包括测试装置、监控装置和数据处理装置,测试装置连接被验证设备和数据处理装置,监控装置连接数据处理装置,并设置于被验证设备。测试装置用于采集被验证设备的可靠性数据并传输至数据处理装置,监控装置用于监控被验证设备的可靠性试验过程,并将生成的监控数据发送至数据处理装置,数据处理装置根据可靠性数据和监控数据得到被验证设备的可靠性验证结果。通过获取被验证设备的可靠性数据,并对可靠性试验过程进行监控,结合可靠性数据和监控数据实现对被验证设备的双重验证,无需设置人工监督,能够提升可靠性试验的便利性和准确性。

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