显示装置
    82.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102034851B

    公开(公告)日:2014-02-05

    申请号:CN201010293330.6

    申请日:2010-09-27

    IPC分类号: H01L27/32 H01L51/52

    摘要: 本发明涉及一种显示装置,该显示装置包括:像素的阵列,所述像素的阵列包含多个有机EL元件,所述多个有机EL元件各具有一对电极和有机化合物层,该有机化合物层包含发光层并且被设置在所述一对电极之间;以及保护层,所述保护层被设置在所述多个有机EL元件上。所述保护层具有由无机材料制成的第一保护层、由树脂材料制成并且被设置在第一保护层上的第二保护层和由无机材料制成并且被设置在第二保护层上的第三保护层。第二保护层包含用于使从发光层发射的光的至少一部分发散的透镜。所述透镜具有细长的凹形形状。

    有机电致发光显示装置
    83.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102467878A

    公开(公告)日:2012-05-23

    申请号:CN201110361325.9

    申请日:2011-11-15

    IPC分类号: G09G3/32

    摘要: 本发明涉及有机电致发光显示装置。提供这样的显示装置:该显示装置可根据用户场景选择“户外视认模式”或“宽视角模式”,或者“节电模式”或“宽视角模式”;该显示装置还可选择两个模式之间的中间状态;并且提供高的显示图像质量。本发明的有机电致发光显示装置包括多个像素、有机电致发光元件、数据线驱动器、像素电路和栅极线驱动器,其中,每个像素包含发射相同颜色的光的两个有机电致发光元件,仅在所述两个有机电致发光元件中的一个的发光侧之上设置具有高的集光性的元件,并且,使得所述两个有机电致发光元件之间的点亮时间或驱动电流不同的单元被包括。

    样品加工系统
    86.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1160761C

    公开(公告)日:2004-08-04

    申请号:CN99123433.2

    申请日:1999-11-05

    IPC分类号: H01L21/02 H01L21/20 H01L27/12

    CPC分类号: H01L21/67167 H01L21/67092

    摘要: 本发明提供一种适用于制造SOI衬底的加工系统。加工系统包括:无向自动控制装置,用以传送由自动操作手保持的键合衬底叠片;以及配置在与无向自动控制装置的驱动轴大致等距离的位置的定中心设备、分离设备、翻转设备、和清洗/干燥设备。当自动操作手在水平面的绕驱动轴转动并移动靠近或离开该驱动轴时,就在各加工设备之间传递键合衬底叠片或分离后的衬底。

    半导体衬底的制造方法
    87.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1155065C

    公开(公告)日:2004-06-23

    申请号:CN99111074.9

    申请日:1999-06-18

    IPC分类号: H01L21/324 H01L21/265

    CPC分类号: H01L21/76243

    摘要: 制备其表面层在含氢气的还原气氛中已热处理的单晶硅衬底;通过注入氧离子形成离子注入层;随后,利用离子注入层通过热处理形成埋入的氧化膜(BOX)层。由此得到具有在BOX层上形成且如COP等的缺陷数量显著减少的单晶硅层(SOI层)的SOI衬底。

    衬底的处理方法
    90.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1127122C

    公开(公告)日:2003-11-05

    申请号:CN98126345.3

    申请日:1998-12-25

    摘要: 衬底处理方法,能够在除去多孔硅时得到满意的腐蚀。包括在电解溶液中阳极氧化单晶硅衬底在单晶硅衬底的主表面上形成多孔硅层,在多孔硅层上生长单晶硅膜,将氧化单晶硅膜表面得到的第一衬底粘接到第二衬底上作为支撑衬底,从第一衬底的下表面侧除去单晶硅部分露出多孔硅层,除去多孔硅层,在氧化步骤之后进行清洗,从电解溶液中除去第一衬底并暴露到空气直到进行清洗的时间限制在防止在腐蚀步骤中多孔硅层留在单晶硅膜上的范围内。