存储器设备
    1.
    发明公开
    存储器设备 审中-公开

    公开(公告)号:CN119479744A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411074637.5

    申请日:2024-08-07

    Abstract: 本公开涉及存储器设备。一种示例存储器设备包括包含被配置为存储数据的存储器单元阵列以及包含多个反熔丝位线、多个反熔丝字线、多个编程晶体管的反熔丝单元阵列的存储器单元区域,该多个编程晶体管电耦合到多个反熔丝位线中的第一反熔丝位线并且彼此并联耦合。该存储器设备包括外围电路区域,该外围电路区域包括被配置为输出存储在多个编程晶体管中的一次性可编程(OTP)数据的反熔丝感测放大器。

    包括电力选通开关的存储器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN120071986A

    公开(公告)日:2025-05-30

    申请号:CN202411270333.6

    申请日:2024-09-11

    Abstract: 一种存储器件包括:核心外围电路结构,包括与内部电源电压线连接的第一接合金属焊盘;以及单元阵列结构,设置在核心外围电路结构上,并且包括与第一接合金属焊盘接触的第二接合金属焊盘。单元阵列结构包括:存储单元阵列;以及电力选通开关,连接在外部电源电压线与第一接合金属焊盘之间,并且电力选通开关位于单元阵列结构的与存储单元阵列不同的区域中并且选择性地向内部电源电压线提供外部电源电压。

    包括垂直单元晶体管的半导体存储器件

    公开(公告)号:CN120018492A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202411582345.2

    申请日:2024-11-07

    Abstract: 一种半导体存储器件包括外围电路结构和单元阵列结构,单元阵列结构提供在外围电路结构上并包括多个单元阵列区和提供在多个单元阵列区之间的上外围区。单元阵列结构包括垂直单元晶体管、第一垂直外围晶体管和第二垂直外围晶体管。垂直单元晶体管、第一垂直外围晶体管和第二垂直外围晶体管中的每个具有沿与外围电路结构和单元阵列结构的布置方向平行的第三方向延伸的沟道。垂直单元晶体管设置在单元阵列区中并具有第一极性。第一垂直外围晶体管设置在上外围区中并具有第一极性。第二垂直外围晶体管设置在上外围区中并具有不同于第一极性的第二极性。

    半导体存储器装置及操作半导体存储器装置的方法

    公开(公告)号:CN109559779A

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201811109758.3

    申请日:2018-09-21

    Inventor: 金经纶 尹炫喆

    Abstract: 一种半导体存储器装置可包括存储单元阵列及存取控制电路。所述存储单元阵列可包括第一单元区及第二单元区。所述存取控制电路可响应于命令、存取地址及用于识别第一单元区及第二单元区的熔丝信息而以不同的方式存取所述第一单元区及所述第二单元区。所述命令及地址可从外部装置提供。也提供一种操作半导体存储器装置的方法。

    半导体存储器装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN120071980A

    公开(公告)日:2025-05-30

    申请号:CN202411579552.2

    申请日:2024-11-07

    Abstract: 公开了一种半导体存储器装置,并且所述半导体存储器装置包括:第一芯片,包括:单元区域,包括存储器单元;和虚设区域,包括虚设单元晶体管;以及第二芯片,包括被配置为控制存储器单元的操作的核心电路和外围电路,第一芯片和第二芯片沿着竖直方向叠置。第一芯片的虚设区域可以包括至少一个可变电阻器,所述至少一个可变电阻器包括虚设单元晶体管。

    具有COP结构的存储器设备和包括其的存储器封装

    公开(公告)号:CN119967807A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202411567566.2

    申请日:2024-11-05

    Abstract: 一种存储器设备包括第一半导体层和第二半导体层。第一半导体层包括存储器单元阵列。存储器单元阵列连接到多个字线和多个位线,并且包括存储正常数据的多个正常存储器单元和存储ECC数据的多个纠错码(ECC)存储器单元。第二半导体层相对于第一半导体层在竖直方向上安置,并且包括外围电路。外围电路控制存储器单元阵列,并且包括行解码器。第一半导体层中的安置多个ECC存储器单元的区的至少一部分与第二半导体层中的安置行解码器的区的至少一部分在平面图中重叠。

    存储器件和包括在该存储器件中的感测器件的驱动方法

    公开(公告)号:CN119170065A

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202410804045.8

    申请日:2024-06-20

    Inventor: 尹炫喆 蔡瑛澈

    Abstract: 一种存储器件,包括:存储单元阵列,包括连接到位线的第一存储单元、以及连接到互补位线的第二存储单元;位线感测放大器,包括感测位线和感测互补位线;第一电荷传输晶体管,在位线和感测位线之间;第二电荷传输晶体管,在互补位线和感测互补位线之间;第一预充电晶体管,以第一预充电电压对位线和互补位线进行预充电;第二预充电晶体管,以第二预充电电压对感测位线和感测互补位线进行预充电;第一传输栅极晶体管,向第一电荷传输晶体管提供第一传输栅极电压;以及第二传输栅极晶体管,向第二电荷传输晶体管提供第二传输栅极电压。

    对存储单元阵列执行测试的存储设备及操作其的方法

    公开(公告)号:CN109727631A

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201810722488.7

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 一种存储设备,包括连接到第一位线、第一字线和第二字线的存储单元阵列,所述存储单元阵列包括第一存储单元和第二存储单元,所述第一存储单元连接在所述第一字线和第一位线之间,以及第二存储单元连接在第二字线和第一位线之间;第一字线驱动器,被配置为驱动所述第一字线;第二字线驱动器,被配置为驱动所述第二字线;以及测试管理器,被配置为驱动第二字线以改变第一位线的电容,并且在第一位线的电容改变之后,驱动第一字线以测试第一字线。

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