层叠体、基板的制造方法、基板及半导体装置

    公开(公告)号:CN102176808B

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201110056931.X

    申请日:2008-01-23

    Abstract: 本发明提供一种层叠体(10),其具有树脂层(2)和金属层(3),该树脂层(2)内置有用纤维基材构成的芯部(1),该金属层(3)在上述树脂层的一个表面上接合,其中,上述纤维基材的厚度在25μm以下,上述金属层具有对应于在上述树脂层上形成的导通孔的开口部(31)。本发明还提供一种基板的制造方法,其包括用激光(9)照射上述的层叠体在上述树脂层上形成导通孔(23)的工序、在上述导通孔形成后从上述层叠体除去上述金属层的工序。本发明还提供一种基板(100),其通过上述制造方法制得。本发明还提供一种半导体装置(12),其是在上述的基板上搭载半导体元件(121)而成。

    印刷电路板的制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103340023A

    公开(公告)日:2013-10-02

    申请号:CN201280006515.1

    申请日:2012-01-19

    CPC classification number: H05K3/108 H05K2203/1105

    Abstract: 本发明的印刷电路板的制造方法具备如下所述的工序:在表面由树脂组合物形成的基板的该表面上通过化学镀形成化学镀层的工序、在化学镀层上形成具有开口的抗蚀剂掩模的工序、在开口内通过电解镀形成电解镀层的工序、去除抗蚀剂掩模的工序、通过蚀刻选择性去除化学镀层中俯视时不与电解镀层重合的部分的工序,其中,在形成化学镀层的工序之后且形成电解镀层的工序之前,具有加热基板的第一加热工序。

    层叠体、基板的制造方法、基板及半导体装置

    公开(公告)号:CN101584259B

    公开(公告)日:2011-09-14

    申请号:CN200880002467.2

    申请日:2008-01-23

    Abstract: 本发明提供一种层叠体(10),其具有树脂层(2)和金属层(3),该树脂层(2)内置有用纤维基材构成的芯部(1),该金属层(3)在上述树脂层的一个表面上接合,其中,上述纤维基材的厚度在25μm以下,上述金属层具有对应于在上述树脂层上形成的导通孔的开口部(31)。本发明还提供一种基板的制造方法,其包括用激光(9)照射上述的层叠体在上述树脂层上形成导通孔(23)的工序、在上述导通孔形成后从上述层叠体除去上述金属层的工序。本发明还提供一种基板(100),其通过上述制造方法制得。本发明还提供一种半导体装置(12),其是在上述的基板上搭载半导体元件(121)而成。

    层叠体、基板的制造方法、基板及半导体装置

    公开(公告)号:CN102176808A

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN201110056931.X

    申请日:2008-01-23

    Abstract: 本发明提供一种层叠体(10),其具有树脂层(2)和金属层(3),该树脂层(2)内置有用纤维基材构成的芯部(1),该金属层(3)在上述树脂层的一个表面上接合,其中,上述纤维基材的厚度在25μm以下,上述金属层具有对应于在上述树脂层上形成的导通孔的开口部(31)。本发明还提供一种基板的制造方法,其包括用激光(9)照射上述的层叠体在上述树脂层上形成导通孔(23)的工序、在上述导通孔形成后从上述层叠体除去上述金属层的工序。本发明还提供一种基板(100),其通过上述制造方法制得。本发明还提供一种半导体装置(12),其是在上述的基板上搭载半导体元件(121)而成。

    层叠体、基板的制造方法、基板及半导体装置

    公开(公告)号:CN101584259A

    公开(公告)日:2009-11-18

    申请号:CN200880002467.2

    申请日:2008-01-23

    Abstract: 本发明提供一种层叠体(10),其具有树脂层(2)和金属层(3),该树脂层(2)内置有用纤维基材构成的芯部(1),该金属层(3)在上述树脂层的一个表面上接合,其中,上述纤维基材的厚度在25μm以下,上述金属层具有对应于在上述树脂层上形成的导通孔的开口部(31)。本发明还提供一种基板的制造方法,其包括用激光(9)照射上述的层叠体在上述树脂层上形成导通孔(23)的工序、在上述导通孔形成后从上述层叠体除去上述金属层的工序。本发明还提供一种基板(100),其通过上述制造方法制得。本发明还提供一种半导体装置(12),其是在上述的基板上搭载半导体元件(121)而成。

Patent Agency Ranking