公开(公告)号：CN109541032A

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：CN201811467410.1

申请日：2018-12-03

申请人： 国网上海市电力公司 ,  工业和信息化部电子第五研究所

发明人： 陈金涛 ,  朱彬若 ,  张垠 ,  王新刚 ,  江剑锋 ,  朱铮 ,  顾臻 ,  赵舫 ,  魏晓川 ,  朱文君 ,  王有亮 ,  刘丽媛 ,  何胜宗 ,  彭泽亚

IPC分类号： G01N29/06

摘要： 本发明提供一种片式元器件检测方法及系统，包括，根据第一预设扫描方式对目标片式元器件进行表面检测，得到第一扫描数据；根据第二预设扫描方式对所述目标片式元器件进行内部检测，得到第二扫描数据；根据所述第一扫描数据和所述第二扫描数据分析得到所述目标片式元器件的分析结果。避免了固封、研磨等剖面制备方法对元件内部结构的破坏，可以全面的观察其内部存在的缺陷，使得片式元器件的检测更为精确和方便。

公开(公告)号：CN110297207A

公开(公告)日：2019-10-01

申请号：CN201910612533.8

申请日：2019-07-08

申请人： 国网上海市电力公司 ,  中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 朱彬若 ,  王弘剑 ,  张垠 ,  陈金涛 ,  王新刚 ,  江剑峰 ,  朱铮 ,  顾臻 ,  赵舫 ,  朱文君 ,  魏晓川 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G01R35/04

摘要： 本发明提供了一种智能电表的故障诊断方法、系统及电子装置，其中，该方法包括：获取智能电表的测试数据；对测试数据进行预处理，得到测试数据的预处理结果；对预处理结果进行联机分析处理，得到测试数据对应的联机分析处理结果；将联机分析处理结果输入至预先完成训练的故障诊断模型中，输出智能电表的故障诊断结果；故障诊断模型通过机器学习模型训练得到。该方法通过机器学习算法实现电表故障案例数据的综合分析，形成完整性和鲁棒性高的相关识别模型，提升了智能电表故障诊断中的准确率。

公开(公告)号：CN111858705A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN202010608581.2

申请日：2020-06-29

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 王弘剑 ,  彭泽亚 ,  刘丽媛 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G06F16/2458 ,  G06K9/62 ,  G06F17/18

摘要： 本发明公开了一种电子元器件失效原因定位方法，包括以下步骤：构建所述电子元器件的故障树；利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。本发明能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。

公开(公告)号：CN104599997A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201510053404.1

申请日：2015-01-30

申请人： 工业和信息化部电子第五研究所

发明人： 何胜宗 ,  邝贤军 ,  王有亮 ,  武慧薇 ,  彭泽亚 ,  刘丽媛 ,  许广宁 ,  陈选龙 ,  袁光华 ,  李伟

IPC分类号： H01L21/66

CPC分类号： H01L21/02 ,  H01L22/30

摘要： 本发明公开了一种塑料封装金属丝键合器件的开封方法，属于电子元器件失效分析技术领域。该开封方法包括平磨、割槽、分离步骤，其中：平磨步骤中：用120-2000目的砂纸对器件进行研磨，研磨面为芯片有源面的塑封一侧，逐渐研磨去除芯片表面的塑封料，至距离芯片表面0.5mm-3mm时，停止研磨；割槽步骤中：在器件研磨面上，沿芯片所在位置的四周切割出环形凹槽；分离步骤中：以粘性材料粘贴上述环形凹槽围绕的塑封料区域，然后拉起粘性材料，至芯片表面的塑封料被拉起，暴露出芯片。以该方法暴露器件的内部芯片，能够在保留键合丝的第一键合点键合状态、芯片表面及键合附近的腐蚀、脏污等重要信息。

公开(公告)号：CN109948276B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN201910243451.0

申请日：2019-03-28

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 王弘剑 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G06F30/27 ,  G06N20/00

摘要： 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据；然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理；最后根据每个测试数据关联的失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。

公开(公告)号：CN109948276A

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201910243451.0

申请日：2019-03-28

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 王弘剑 ,  刘丽媛 ,  彭泽亚 ,  王有亮 ,  赵振博

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06N20/00

摘要： 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据；然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理；最后根据每个测试数据关联的失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。