一种功率器件芯片的超薄制备与封装方法

    公开(公告)号:CN117672964A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311661345.7

    申请日:2023-12-06

    摘要: 本发明提出了一种功率器件芯超薄制备与封装方法。其特点在于:正面覆盖一层30μm至60μm的聚酰亚胺或其它钝化膜,该钝化层在实现正面电极重新布局的同时,也形成了晶圆表面封装保护层,该保护层更可作为薄晶圆片封装的加工支撑,以方便采用固晶机的芯片拾取。此外,这层薄膜也可作为功率晶圆进行减薄加工保护支撑层。完成前述步骤的功率器件晶圆可通过金属蒸发或淀积的工艺形成背面电极。上诉结构在完成减薄后具有一定的厚度,存在一定的刚性,可采用TO‑220、TO247和模块支架等封装架构,对其键合封装。

    一种运算放大器跨导稳定电路

    公开(公告)号:CN102723920A

    公开(公告)日:2012-10-10

    申请号:CN201210250081.1

    申请日:2012-07-19

    IPC分类号: H03F3/45

    摘要: 本发明公开了一种运算放大器跨导稳定电路结构,它属于模拟集成电路技术,特别涉及一种能够稳定运算放大器的跨导,减小工艺偏差以及工作环境对运算放大器输入对管造成的影响,并且能够将不同运算放大器的跨导稳定于同样的值。该结构包含;一跨导跟踪电路301,一差分比较器电路302,一编码电路303,一电流控制电路304。本发明通过采用跨导跟踪电路检测运算放大器跨导的变化,并以此调节运算放大器的工作电流,达到稳定运算放大器跨导的作用;对于多个运算放大器,通过对每个运算放大器跨导的依次调节,可以使其达到一个相同的值,以提高相关电路的性能。

    一种半导体晶圆级的减薄制备及柔性封装方法

    公开(公告)号:CN117650058A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311661337.2

    申请日:2023-12-06

    摘要: 发明提出了一种半导体晶圆级的减薄制备技术并直接进行晶圆级柔性封装的方法。该方法的特点在于:在原晶圆钝化焊点处通过电镀形成金属柱,再通过旋转涂胶等方法,在已形成金属柱的晶圆正面上形成一层聚酰亚胺柔性封装层,此后通过化学机械抛光将聚酰亚胺柔性封装层研磨至裸露出金属柱,之后便可进行晶圆背面减薄与晶圆正面植球等工艺,完成晶圆级柔性封装。本发明最大限度减小了柔性芯片的寄生参数,并实现了规模化晶圆级柔性芯片封装,大幅提高了生产良率。本发明属于半导体技术领域。

    一种具有表面双栅控制的横向RC-IGBT器件

    公开(公告)号:CN107342286B

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201710490849.5

    申请日:2017-06-23

    IPC分类号: H01L27/06 H01L29/739

    摘要: 一种具有表面双栅控制的横向RC‑IGBT器件,属于功率半导体技术领域。该器件在传统结构的续流二极管上串联了一个MOS管,通过第二栅极来控制这个MOS管开启与关闭,达到和传统结构相同的器件功能:当RC‑IGBT正向工作时,MOS管关闭,传统结构中的N+集电区被MOS管隔离,此时器件相当于纯粹的IGBT,完全消除了传统结构中的电压折回现象;当器件反向工作时,通过第二栅极来控制MOS管开启,续流二极管得以正常工作。同时,与传统的纵向结构器件不同,本发明属于横向器件,器件建立在外延层上,器件的实现无需背面工艺,大大降低了工艺难度;通过RESURF结构,也增强了器件的横向耐压能力。

    一种运算放大器跨导稳定电路

    公开(公告)号:CN102723920B

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN201210250081.1

    申请日:2012-07-19

    IPC分类号: H03F3/45

    摘要: 本发明公开了一种运算放大器跨导稳定电路结构,它属于模拟集成电路技术,特别涉及一种能够稳定运算放大器的跨导,减小工艺偏差以及工作环境对运算放大器输入对管造成的影响,并且能够将不同运算放大器的跨导稳定于同样的值。该结构包含;一跨导跟踪电路301,一差分比较器电路302,一编码电路303,一电流控制电路304。本发明通过采用跨导跟踪电路检测运算放大器跨导的变化,并以此调节运算放大器的工作电流,达到稳定运算放大器跨导的作用;对于多个运算放大器,通过对每个运算放大器跨导的依次调节,可以使其达到一个相同的值,以提高相关电路的性能。