电路板的制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103167748A

    公开(公告)日:2013-06-19

    申请号:CN201210513035.6

    申请日:2012-12-04

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: H05K3/02 H05K1/0259 H05K1/162 H05K2203/175

    Abstract: 本发明公开了一种电路板的制造方法。所述方法包括如下各步骤:使用电容器件材料形成电容器件和短路部,所述电容器件材料包括依次位于金属箔上的电介质膜和导电膜,所述电容器件包括把所述电介质膜夹在中间的第一电极层和第二电极层,并且所述短路部将所述第一电极层与所述第二电极层短路;在所述电容器件和所述短路部上方形成上层配线;以及在形成所述上层配线之后移除或切断所述短路部。根据本发明,提供了能够抑制电介质膜的静电破坏的电路板制造方法。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN104241234B

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201410242276.0

    申请日:2014-06-03

    Applicant: 索尼公司

    Abstract: 本发明涉及半导体器件及其制造方法。所述半导体器件包括第一半导体电子元件,所述第一半导体电子元件包括焊盘电极、焊料凸块以及位于焊盘与焊料之间的金属层,所述位于焊盘与焊料之间的金属层被配置成具有底层金属层和主金属层,所述底层金属层形成在所述焊盘电极与所述焊料凸块之间并与所述焊盘电极相连接,且所述主金属层形成在所述底层金属层上,其中,所述主金属层在其外边缘部处具有屋檐部。由此,在本发明中,在抑制大批量生产率的下降和成本的增加的同时防止了半导体电子元件之间的电连接和机械连接的可靠性的降低。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN104241234A

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201410242276.0

    申请日:2014-06-03

    Applicant: 索尼公司

    Abstract: 本发明涉及半导体器件及其制造方法。所述半导体器件包括第一半导体电子元件,所述第一半导体电子元件包括焊盘电极、焊料凸块以及位于焊盘与焊料之间的金属层,所述位于焊盘与焊料之间的金属层被配置成具有底层金属层和主金属层,所述底层金属层形成在所述焊盘电极与所述焊料凸块之间并与所述焊盘电极相连接,且所述主金属层形成在所述底层金属层上,其中,所述主金属层在其外边缘部处具有屋檐部。由此,在本发明中,在抑制大批量生产率的下降和成本的增加的同时防止了半导体电子元件之间的电连接和机械连接的可靠性的降低。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN110783298B

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN201911011130.4

    申请日:2014-06-03

    Applicant: 索尼公司

    Abstract: 本发明涉及半导体器件及其制造方法。所述半导体器件包括第一半导体电子元件,所述第一半导体电子元件包括焊盘电极、焊料凸块以及位于焊盘与焊料之间的金属层,所述位于焊盘与焊料之间的金属层被配置成具有底层金属层和主金属层,所述底层金属层形成在所述焊盘电极与所述焊料凸块之间并与所述焊盘电极相连接,且所述主金属层形成在所述底层金属层上,其中,所述主金属层在其外边缘部处具有屋檐部。由此,在本发明中,在抑制大批量生产率的下降和成本的增加的同时防止了半导体电子元件之间的电连接和机械连接的可靠性的降低。

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