高性能サブシステムの設計および組立体
    1.
    发明专利
    高性能サブシステムの設計および組立体 有权
    高性能子系统的设计和组装

    公开(公告)号:JP2015029106A

    公开(公告)日:2015-02-12

    申请号:JP2014165234

    申请日:2014-08-14

    发明人: MUU-SHUN RIN

    摘要: 【課題】ESD保護回路および入出力回路を持たない構造の集積回路チップ間のチップ間通信を行う多重集積回路チップ構造を提供する。【解決手段】多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのESD保護回路387および入出力回路389を有するインターフェース回路385をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路360を有する。多重配線集積回路チップ構造は、集積回路チップを相互に物理的かつ電気的に接続するため1つ以上の第2の集積回路チップ310へ取付けられた第1の集積回路チップ305を有する。【選択図】図4

    摘要翻译: 要解决的问题:提供用于在具有既不包括ESD保护电路也不包括输入/​​输出电路的结构的集成电路芯片之间执行芯片间通信的多个集成电路芯片结构。解决方案:多集成电路芯片结构包括芯片间接口 电路360被配置为选择性地连接集成电路的内部电路,以便测试具有ESD保护电路387和输入/输出电路389的接口电路385,用于在测试期间与外部测试系统进行通信, 在程序中。 多路布线集成电路芯片结构包括附接到一个或多个第二集成电路芯片310的第一集成电路芯片305,用于相互物理和电连接集成电路芯片。