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    Electromagnetic bandgap structure and printed circuit board
    131.
    发明申请
    Electromagnetic bandgap structure and printed circuit board 有权
    电磁带隙结构和印刷电路板

    公开(公告)号：US20080314634A1

    公开(公告)日：2008-12-25

    申请号：US12155941

    申请日：2008-06-11

    申请人： Han Kim ,  Hyung-Sik Choi ,  Sang-Hoon Kim ,  Joon-Sung Kim

    发明人： Han Kim ,  Hyung-Sik Choi ,  Sang-Hoon Kim ,  Joon-Sung Kim

    IPC分类号： H01R12/04

    CPC分类号： H05K1/116 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2924/00011 ,  H01L2924/00014 ,  H05K1/0236 ,  H05K2201/09309 ,  H05K2201/09627 ,  H01L2224/0401

    摘要： An electromagnetic bandgap structure and a printed circuit board that can solve a mixed signal problem between an analog circuit and a digital circuit are disclosed. In accordance with an embodiment of the present invention, an electromagnetic bandgap structure is stacked with a first metal layer, a first dielectric layer, a metal plate, a second dielectric layer and a second metal layer, and an odd number of vias can be serially connected through a metal line between the first metal layer and the metal plate. This electromagnetic bandgap structure can have a small size and a low bandgap frequency.

    摘要翻译： 公开了可解决模拟电路和数字电路之间的混合信号问题的电磁带隙结构和印刷电路板。 根据本发明的实施例，电磁带隙结构层叠有第一金属层，第一介电层，金属板，第二介电层和第二金属层，并且可以串联奇数个通孔 通过第一金属层和金属板之间的金属线连接。 该电磁带隙结构可以具有小尺寸和低带隙频率。

    Electromagnetic bandgap structure and printed circuit board
    132.
    发明申请
    Electromagnetic bandgap structure and printed circuit board 失效
    电磁带隙结构和印刷电路板

    公开(公告)号：US20080314630A1

    公开(公告)日：2008-12-25

    申请号：US12213571

    申请日：2008-06-20

    申请人： Han Kim ,  Je-Gwang Yoo

    发明人： Han Kim ,  Je-Gwang Yoo

    IPC分类号： H01R12/04

    CPC分类号： H01P1/2005 ,  H01Q15/006 ,  H01Q15/008 ,  H05K1/0236 ,  H05K2201/09309 ,  H05K2201/09663 ,  H05K2201/0969

    摘要： An electromagnetic bandgap structure and a printed circuit board are disclosed. In accordance with an embodiment of the present invention, the electromagnetic bandgap structure includes a mushroom type structure comprising a first metal plate and a via of which one end is connected to the first metal plate; a second metal plate connected to the other end of the via; a first metal layer being connected to the second metal layer through a metal line; a first dielectric layer, layer-built between the first metal layer and the first metal plate; a second dielectric layer, layer-built on the first metal plate and the first dielectric layer; and a second metal layer, layer-built on the second dielectric layer. With the present invention, it is possible to solve the aforementioned mixed signal problem by preventing the EM wave of a certain frequency range from being transferred.

    摘要翻译： 公开了电磁带隙结构和印刷电路板。 根据本发明的实施例，电磁带隙结构包括蘑菇型结构，其包括第一金属板和一端连接到第一金属板的通孔; 连接到所述通孔的另一端的第二金属板; 第一金属层通过金属线连接到第二金属层; 在第一金属层和第一金属板之间层叠的第一介电层; 第二电介质层，其在第一金属板和第一介电层上构建; 以及第二金属层，其被构建在第二介电层上。 通过本发明，可以通过防止某一频率范围的EM波被传送来解决上述混合信号问题。

    MP3 player
    134.
    外观设计
    MP3 player 有权

    公开(公告)号：USD554149S1

    公开(公告)日：2007-10-30

    申请号：US29264909

    申请日：2006-08-22

    申请人： Han Kim

    设计人： Han Kim

    Memory test circuit and test system
    135.
    发明授权
    Memory test circuit and test system 失效
    内存测试电路和测试系统

    公开(公告)号：US07240257B2

    公开(公告)日：2007-07-03

    申请号：US10994140

    申请日：2004-11-19

    申请人： Soon-keun Jeon ,  Yong-cheul Kim ,  Han Kim ,  Bae-sun Jun

    发明人： Soon-keun Jeon ,  Yong-cheul Kim ,  Han Kim ,  Bae-sun Jun

    IPC分类号： G11C29/00

    CPC分类号： G11C29/14 ,  G11C2029/0405

    摘要： A memory test circuit comprises a memory which outputs stored data through n-bit data output pins, and a built-in self test (BIST) unit. The BIST unit writes test data in the memory, and by comparing the test data output from the memory with expected data, determines a failure cell address in the memory. The BIST unit generates k preliminary failure signals having failure information indicating whether the test data correspond with the expected data, and outputs the k preliminary failure signals for m cycles of a clock signal, by outputting k/m preliminary failure signals each cycle as first through k/m failure signals. In the memory test circuit and test system, the BIST unit testing a memory and generating a failure signal is disposed in a memory apparatus and a failure analysis circuit analyzing a failure signal output by the BIST unit is disposed in the test apparatus.

    摘要翻译： 存储器测试电路包括通过n位数据输出引脚输出存储的数据的存储器和内置的自检（BIST）单元。 BIST单元将测试数据写入存储器，并通过将存储器输出的测试数据与预期数据进行比较，确定存储器中的故障单元地址。 BIST单元生成具有指示测试数据是否与期望数据相对应的故障信息的k个初始故障信号，并且通过每个周期作为第一到第一通过输出k / m个初步故障信号来输出用于时钟信号的m个周期的k个初步故障信号 k / m故障信号。 在存储器测试电路和测试系统中，测试存储器并产生故障信号的BIST单元被布置在存储器装置中，并且分析由BIST单元输出的故障信号的故障分析电路设置在测试装置中。

    Communication terminal and method of inserting symbols thereof
    139.
    发明申请
    Communication terminal and method of inserting symbols thereof 有权
    通信终端及其插入符号的方法

    公开(公告)号：US20060210127A1

    公开(公告)日：2006-09-21

    申请号：US11369325

    申请日：2006-03-06

    申请人： Han Kim

    发明人： Han Kim

    IPC分类号： G06K9/00

    CPC分类号： G06F3/0237 ,  G06K9/00006

    摘要： A mobile communication terminal and method of inserting symbols thereof are disclosed, by which a convenient symbol input system is provided and by which a user is facilitated to input a symbol using a fingerprint pattern of the user. The present invention includes a fingerprint recognizer, a control unit searching a symbol matched to the recognized fingerprint pattern if a fingerprint pattern is recognized by the fingerprint recognizer, and an output unit outputting the searched symbol.

    摘要翻译： 公开了一种移动通信终端及其符号的插入方法，通过该移动通信终端和方法，提供方便的符号输入系统，并且通过该移动通信终端便利用户使用指纹图案来输入符号。 本发明包括指纹识别器，如果由指纹识别器识别出指纹图案，则搜索与识别的指纹图案匹配的符号的控制单元，以及输出搜索到的符号的输出单元。