公开(公告)号：US07060534B2

公开(公告)日：2006-06-13

申请号：US10757549

申请日：2004-01-15

申请人： Manfred Dobler ,  Georg Erhard Eggers ,  Christian Stocken

发明人： Manfred Dobler ,  Georg Erhard Eggers ,  Christian Stocken

IPC分类号： H01L21/44

CPC分类号： H01L23/49582 ,  H01L2924/0002 ,  H05K3/3426 ,  H05K2201/10689 ,  H05K2201/10909 ,  Y02P70/613 ,  H01L2924/00

摘要： A housing, in particular for semiconductor devices, a semiconductor device pin, and a method for the manufacturing of pins wherein at least one pin is punched out from a basic body, in particular a lead framed, by means of one or a plurality of punching process steps, wherein the pin is coated with a separate metal layer after the final punching out of said pin.

摘要翻译： 一种用于半导体器件的壳体，半导体器件引脚和用于制造引脚的方法，其中至少一个引脚通过一个或多个冲压从基体（特别是引线框架）冲压出来 工艺步骤，其中在所述销的最后冲压之后，销被单独的金属层涂覆。

公开(公告)号：US07251772B2

公开(公告)日：2007-07-31

申请号：US10732402

申请日：2003-12-11

申请人： Christian Stocken ,  Gerald Resch ,  Manfred Pröll ,  Manfred Dobler

发明人： Christian Stocken ,  Gerald Resch ,  Manfred Pröll ,  Manfred Dobler

IPC分类号： G06F11/08 ,  G06F13/14

CPC分类号： G11C29/025 ,  G11C11/401 ,  G11C29/02 ,  G11C29/1201 ,  G11C2029/5006

摘要： A circuit arrangement can have a number of integrated circuit components, which are arranged on a carrier substrate. A reception circuit for receiving a control signal can be coupled to one of the connection pads on the input side and can be connected to each of the circuit components on the output side. A bridging circuit controlled by a test mode signal can electrically bridge the reception circuit. In a testing method, a plurality of connection pads can be connected to a first potential and at least one of the connection pads can be connected to a second potential. The bridging circuit can be activated and the current measured, by a test arrangement, at the at least one of the connection pads. Inspection for leakage currents in connections between input-side reception circuits and the circuit components can be measured.

摘要翻译： 电路装置可以具有多个集成电路部件，其被布置在载体基板上。 用于接收控制信号的接收电路可以耦合到输入侧的一个连接焊盘，并且可以连接到输出侧的每个电路部件。 由测试模式信号控制的桥接电路可以使接收电路电桥。 在测试方法中，多个连接焊盘可以连接到第一电位，并且至少一个连接焊盘可以连接到第二电位。 可以激活桥接电路，并且通过测试装置在至少一个连接焊盘处测量电流。 可以测量输入侧接收电路和电路部件之间的连接中的漏电流的检查。

公开(公告)号：US07251758B2

公开(公告)日：2007-07-31

申请号：US10738118

申请日：2003-12-18

申请人： Christian Stocken ,  Manfred Dobler

发明人： Christian Stocken ,  Manfred Dobler

IPC分类号： G11C29/00

CPC分类号： G11C29/022 ,  G11C29/02

摘要： A semiconductor device testing apparatus, system, and method, in particular for testing the contacting with semiconductor devices positioned one upon the other, wherein at least two semiconductor devices are provided that are connected to a device module, at least one pin of a first semiconductor device is conductively connected with a pad, and at least one pin of a second semiconductor device also is to conductively connected with the pad. A first value is written into a memory cell of the first semiconductor device, a second value differing from the first value is written into a memory cell of the second semiconductor device, and a signal corresponding to the first value at the pin of the first semiconductor device and of a signal corresponding to the second value at the pin of the second semiconductor device is simultaneously output.

摘要翻译： 一种半导体器件测试装置，系统和方法，特别是用于测试与彼此定位的半导体器件的接触，其中提供至少两个半导体器件，其连接到器件模块，第一半导体的至少一个引脚 器件与衬垫导电连接，并且第二半导体器件的至少一个引脚也与衬垫导电连接。 将第一值写入第一半导体器件的存储单元中，将与第一值不同的第二值写入第二半导体器件的存储单元中，并且将与第一半导体器件的引脚处的第一值相对应的信号 并且同时输出与第二半导体器件的引脚处的第二值对应的信号。

公开(公告)号：US06868018B2

公开(公告)日：2005-03-15

申请号：US10431422

申请日：2003-05-07

申请人： Manfred Dobler

发明人： Manfred Dobler

IPC分类号： G11C5/14 ,  G11C7/00

CPC分类号： G11C29/021 ,  G11C5/147 ,  G11C29/028 ,  G11C2029/5006

摘要： A memory circuit includes one or several voltage generators for generating operating voltages for memory elements of the memory circuit and a means for selectively setting a current which may be supplied by one of the one or several voltage generators depending on an operating frequency for the memory circuit.

摘要翻译： 存储器电路包括用于产生存储器电路的存储器元件的工作电压的一个或多个电压发生器和用于根据存储器电路的工作频率选择性地设置可由一个或几个电压发生器之一提供的电流的装置 。

公开(公告)号：US06842260B2

公开(公告)日：2005-01-11

申请号：US10156538

申请日：2002-05-28

申请人： Stefan Dietrich ,  Manfred Dobler ,  Thilo Marx ,  Peter Mayer

发明人： Stefan Dietrich ,  Manfred Dobler ,  Thilo Marx ,  Peter Mayer

IPC分类号： G01B11/03 ,  G01B11/14

CPC分类号： G01B11/14

摘要： The imaging system provides assistance during the positioning of a measuring tip as it is placed onto a contact region of a microchip, in order to measure an on-chip signal. The contact region is imaged in a magnified fashion. An insertion device is provided that is suitable for providing a display of the on-chip signal in the imaging plane.

摘要翻译： 成像系统在将测量尖端放置在微芯片的接触区域上时定位时提供帮助，以便测量片上信号。 接触区域以放大的方式成像。 提供一种插入装置，其适于在成像平面中提供片上信号的显示。

公开(公告)号：US06612738B2

公开(公告)日：2003-09-02

申请号：US09801963

申请日：2001-03-08

申请人： Peter Beer ,  Manfred Dobler ,  Gunnar Krause

发明人： Peter Beer ,  Manfred Dobler ,  Gunnar Krause

IPC分类号： G01K701

CPC分类号： G01K7/01 ,  G01R31/30

摘要： In order to be able to determine precisely a temperature of a semiconductor chip, in particular a semiconductor memory, during active operation, a temperature-dependent diode structure of the chip is connected to four chip terminals using four-conductor connection technology. In this manner, an inexpensive and accurate measuring mechanism is provided for measuring the temperature.

摘要翻译： 为了能够精确地确定半导体芯片，特别是半导体存储器的温度，在有源操作期间，使用四导体连接技术将芯片的温度依赖二极管结构连接到四个芯片端子。 以这种方式，提供了用于测量温度的便宜且精确的测量机构。

公开(公告)号：US07064996B2

公开(公告)日：2006-06-20

申请号：US10817469

申请日：2004-04-02

申请人： Manfred Dobler

发明人： Manfred Dobler

IPC分类号： G11C7/00

CPC分类号： G11C11/406 ,  G11C2211/4065 ,  G11C2211/4067

摘要： Methods and apparatus for refreshing a dynamic memory cell in a memory circuit are provided, wherein the required time between refresh operations may be increased by increasing the potential difference between a high charge potential and common center potential used during a refresh mode relative to the potential difference between the high charge potential and the common center potential used during read or write modes.

摘要翻译： 提供了用于刷新存储器电路中的动态存储器单元的方法和装置，其中可以通过增加在刷新模式期间相对于电位差使用的高电荷电位和公共中心电位之间的电位差来增加刷新操作之间的所需时间 在读取或写入模式期间使用的高电荷电位和公共中心电位之间。

公开(公告)号：US07012843B2

公开(公告)日：2006-03-14

申请号：US10180818

申请日：2002-06-26

申请人： Peter Schroegmeier ,  Thilo Marx ,  Manfred Dobler

发明人： Peter Schroegmeier ,  Thilo Marx ,  Manfred Dobler

IPC分类号： G11C7/00

CPC分类号： G11C11/4085

摘要： A device for driving a memory cell (601) of a memory module which can be operated with an external voltage (VEXT) and an operating frequency (fCLK), whereas the memory cell (601) has a capacitance (600) for storing charges and a transistor (602) for reading charges from the capacitance (600) and for writing charges to the capacitance (600), which transistor can be controlled with a control voltage (VPP), which has a charge store (614) for supplying a control voltage (VPP) which is greater than the external voltage (VEXT). The charge store (614) being able to be charged by the external voltage (VEXT), and the charging of the charge store (614) is able to be controlled by a charging control frequency (fCC) derived from the operating frequency (fCLK) of the memory module.

摘要翻译： 一种用于驱动存储器模块的存储单元（601）的装置，其可以用外部电压（V OUT）和工作频率（f CLK）操作，而 存储单元（601）具有用于存储电荷的电容（600）和用于从电容（600）读取电荷并用于向电容（600）写入电荷的晶体管（602），该晶体管可以用控制电压 （V SUB PP）具有用于提供大于外部电压（V OUT）的控制电压（V SUB PP）的电荷存储器（614） / SUB>）。 电荷存储器（614）能够被外部电压（V OUT）充电，并且电荷存储器（614）的充电能够通过充电控制频率（f < 从存储器模块的工作频率（f CLK）导出的信号（SUB> CC ）。

公开(公告)号：US07196554B2

公开(公告)日：2007-03-27

申请号：US10886523

申请日：2004-07-07

申请人： Nazif Taskin ,  Manfred Pröll ,  Manfred Dobler ,  Gerald Resch

发明人： Nazif Taskin ,  Manfred Pröll ,  Manfred Dobler ,  Gerald Resch

IPC分类号： H03K17/00

CPC分类号： G11C29/12015 ,  G11C7/22 ,  G11C7/222 ,  G11C11/401 ,  G11C11/4076 ,  G11C29/14

摘要： An integrated chip has a clock signal input (1.1) for application of a first clock signal (clk1) and a clock signal output (1.2–1.5). Moreover, it has a phase locked loop (2), which, on the input side, is connected to the clock signal input (1.1) and serves far generating a second clock signal (clk2). Furthermore, the chip has a multiplexer (MUX), via which the first clock signal (clk1) or the second clock signal (clk2) can optionally be switched to the clock signal output (1.2–1.5), and a unit for frequency monitoring (3), which, on the input side, is connected to the clock signal input (1.1) and is designed and can be operated in such a way that, in the event of a limiting frequency (fmin) being undershot, the multiplexer (MUX) is caused to switch the first clock signal (clk1) to the clock signal output (1.2–1.5).

摘要翻译： 集成芯片具有用于施加第一时钟信号（clk 1）和时钟信号输出（1.2-1.5）的时钟信号输入（1.1）。 此外，它具有锁相环（2），其在输入侧连接到时钟信号输入（1.1）并且用于远远地产生第二时钟信号（clk 2）。 此外，芯片具有多路复用器（MUX），第一时钟信号（clk 1）或第二时钟信号（clk 2）可以选择地切换到时钟信号输出（1.2-1.5），并且频率单位 在输入侧连接到时钟信号输入（1.1）并且被设计并可以以这样的方式操作的监视（3），使得在频率（fmin）不足的情况下，多路复用器 （MUX）将第一时钟信号（clk 1）切换到时钟信号输出（1.2-1.5）。

公开(公告)号：US07120074B2

公开(公告)日：2006-10-10

申请号：US10911230

申请日：2004-08-04

申请人： Manfred Proell ,  Herbert Benzinger ,  Manfred Dobler ,  Joerg Kliewer

发明人： Manfred Proell ,  Herbert Benzinger ,  Manfred Dobler ,  Joerg Kliewer

IPC分类号： G11C7/04

CPC分类号： G11C7/04 ,  G11C8/08 ,  G11C11/406 ,  G11C11/4085 ,  G11C2211/4068

摘要： A semiconductor memory includes storage cells (2) that have storage capacitors and transistors with an electrode, which is electrically biasable with two different electrical potentials (V1, V2) in order to open and close the transistor. The electrode potential (V2) intended for the off state of the transistor is a temperature-dependent potential, the value of which is controlled temperature-dependently by the semiconductor memory (1) so that the second electrical potential (V2) becomes more different from the first electrical potential (V1) as the temperature (T) increases.

摘要翻译： 半导体存储器包括具有存储电容器的存储单元（2）和具有电极的晶体管，该电极可与两个不同的电位（V 1，V 2）电偏置，以便打开和闭合晶体管。 用于晶体管截止状态的电极电位（V 2）是依赖于温度的温度的电位，其值由半导体存储器（1）温度控制，使得第二电位（V 2）变得更大 与温度（T）增加时不同于第一电位（V 1）。