半导体装置封装及其制造方法

    公开(公告)号:CN109698177A

    公开(公告)日:2019-04-30

    申请号:CN201811201403.7

    申请日:2018-10-16

    摘要: 一种半导体装置封装包含金属载体、无源装置、导电粘合材料、电介质层和导电通孔。所述金属载体具有第一导电垫和与所述第一导电垫隔开的第二导电垫。所述第一导电垫和所述第二导电垫在其间限定空间。所述无源装置安置于第一导电垫和所述第二导电垫的顶部表面上。所述导电粘合材料将所述无源装置的第一导电触点和第二导电触点分别电连接到所述第一导电垫和所述第二导电垫。所述电介质层覆盖所述金属载体和所述无源装置,并暴露所述第一导电垫和所述第二导电垫的底部表面。所述导电通孔在所述电介质层内延伸,且电连接到所述第一导电垫和/或所述第二导电垫。

    半导体装置封装及其制造方法

    公开(公告)号:CN109698177B

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN201811201403.7

    申请日:2018-10-16

    摘要: 一种半导体装置封装包含金属载体、无源装置、导电粘合材料、电介质层和导电通孔。所述金属载体具有第一导电垫和与所述第一导电垫隔开的第二导电垫。所述第一导电垫和所述第二导电垫在其间限定空间。所述无源装置安置于第一导电垫和所述第二导电垫的顶部表面上。所述导电粘合材料将所述无源装置的第一导电触点和第二导电触点分别电连接到所述第一导电垫和所述第二导电垫。所述电介质层覆盖所述金属载体和所述无源装置,并暴露所述第一导电垫和所述第二导电垫的底部表面。所述导电通孔在所述电介质层内延伸,且电连接到所述第一导电垫和/或所述第二导电垫。

    半导体封装结构和其制造方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112713125A

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN202011135495.0

    申请日:2020-10-22

    IPC分类号: H01L23/31 H01L21/56

    摘要: 本公开涉及一种半导体封装结构和用于制造半导体封装结构的方法。所述半导体封装结构包括基底、至少一个半导体元件、第一介电层、第二介电层以及电路层。所述半导体元件设置在所述基底上,且其具有上表面。所述第一介电层覆盖所述半导体元件的外围表面的至少一部分,且其具有顶面。所述顶面与所述半导体元件的所述上表面不共平面。所述第二介电层覆盖所述半导体元件和所述第一介电层。所述电路层贯穿所述第二介电层,以电连接所述半导体元件。

    半导体器件封装
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107799477A

    公开(公告)日:2018-03-13

    申请号:CN201710728601.8

    申请日:2017-08-23

    IPC分类号: H01L23/13 H01L23/14

    摘要: 本发明提供一种半导体器件封装,其包括一导电基底和从该导电基底的一第一表面限定的一空腔。该空腔具有一底表面和一深度。一半导体裸片,其设置在该空腔的该底表面上。该半导体裸片具有一第一表面和与该第一表面相对的一第二表面。该半导体裸片的该第二表面接合到该空腔的该底表面。该半导体裸片的该第一表面和该导电基底的该第一表面之间的一距离为该空腔的该深度的约20%。

    半导体装置封装
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107527890B

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN201710452209.5

    申请日:2017-06-15

    IPC分类号: H01L23/495 H01L21/48

    摘要: 一种半导体装置封装包含第一导电基底、第一绝缘层以及第二绝缘层。所述第一导电基底具有第一表面、与所述第一表面相对的第二表面以及在所述第一表面与所述第二表面之间延伸的横向表面。所述横向表面包含邻近于所述第一表面的第一部分以及邻近于所述第二表面的第二部分。所述第一绝缘层包括第一绝缘材料。所述第一绝缘层具有第一表面和与所述第一表面相对的第二表面。所述第一绝缘层覆盖所述第一导电基底的所述横向表面的所述第一部分。所述第二绝缘层包括第二绝缘材料且覆盖所述第一导电基底的所述横向表面的所述第二部分。所述第一绝缘材料不同于所述第二绝缘材料。

    半导体封装结构及其制造方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112234034A

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:CN202010639263.2

    申请日:2020-07-06

    摘要: 本公开涉及一种半导体封装结构及其制造方法。所述半导体封装结构包含基底材料、至少一个半导体芯片、封装体、凹陷结构、重布层和至少一个导电通孔。所述半导体芯片安置在所述基底材料上。所述封装体安置在所述基底材料上且覆盖所述至少一个半导体芯片。所述封装体具有外侧表面。所述凹陷结构安置成与所述封装体的所述外侧表面相邻并从所述外侧表面中暴露。所述重布层安置在所述封装体上。所述导电通孔安置于所述封装体中且电连接所述半导体芯片与所述重布层。