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公开(公告)号:CN101887219B
公开(公告)日:2013-06-19
申请号:CN201010225185.8
申请日:2006-03-28
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: J-G·C·范德图恩 , H·布特勒 , H·H·M·科西 , E·H·J·德拉贾 , N·坦卡特 , F·范德穆伦 , M·J·H·弗兰坎 , M·侯克斯 , A·H·阿伦德斯 , M·库帕卢斯
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/70341
摘要: 一种光刻装置,其包括保持基底的基底台和将带图案的辐射光束投影到基底靶部的投影系统。该光刻装置还包括流体供给系统,用于在基底和投影系统的最后一个透镜元件之间提供流体,和位置控制装置,用于控制该流体供给系统的位置。该位置控制装置配置成在被提供基底的位置量时,通过在基底的位置量上增加位置偏差来确定流体供给系统的期望位置,然后根据该期望位置定位流体供给系统。该位置量包括基底台的位置和/或旋转位置和/或基底高度的高度函数。
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公开(公告)号:CN100568102C
公开(公告)日:2009-12-09
申请号:CN200410028619.X
申请日:2004-03-05
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: H·布特勒
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/70725
摘要: 一种尤其用于光刻装置中的控制器,它通过控制力来控制质量体如衬底台(12)的位置。控制器可从所述质量体(12)接收反馈位置信号,并根据所述反馈位置信号和所述控制力计算估计质量()。然后,控制器利用所述估计质量()和所需的质量加速度来确定加速所述质量体(12)所需的控制力,并将其移动到所需的位置。
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公开(公告)号:CN1501175A
公开(公告)日:2004-06-02
申请号:CN200310123328.4
申请日:2003-11-11
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: J·洛夫 , E·T·M·比拉亚尔特 , H·布特勒 , S·N·L·唐德斯 , C·A·胡格达姆 , A·科勒斯伊辰科 , E·R·鲁普斯特拉 , H·J·M·梅杰 , J·J·S·M·默顿斯 , J·C·H·穆肯斯 , R·A·S·里特塞马 , F·范沙克 , T·F·森格斯 , K·西蒙 , J·T·德斯米特 , A·斯特拉艾杰 , B·斯特里夫克 , H·范桑坦
IPC分类号: G03F7/20 , H01L21/027
CPC分类号: G03F7/70341 , G03F7/707 , G03F7/7085 , G03F7/70866
摘要: 公开了一种在投射系统最终元件与基底之间的空间充满液体的光刻投射装置。边缘密封构件17、117至少部分地环绕基底W或其它在基底台WT上的物体以防止当基底的边缘部分被成像或照射时毁灭性的液体损失。
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公开(公告)号:CN103547967B
公开(公告)日:2016-08-31
申请号:CN201280019495.1
申请日:2012-04-11
申请人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司 , ASML荷兰有限公司
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/70191 , G03F7/70825 , G03F7/709
摘要: 本发明涉及用于致动微光刻投影曝光设备中的元件的装置。按照本发明的一方面,一种用于致动微光刻投影曝光设备中的元件的装置具有:至少两个致动器(620,630,720,730,820,830),其经由机械耦合(621,631,721,731,821,831)分别耦合至所述元件(610,710,810)并且在至少一个自由度上分别在所述元件上施加能够被调节的力;其中,对于这些致动器中的每一个致动器,属于相应致动器的致动器质量与所述致动器关联的所述机械耦合形成用作低通滤波器的质量?弹簧系统;以及其中,这些质量?弹簧系统的固有频率彼此具有等于这些固有频率中的最大固有频率的10%的最大偏差。
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公开(公告)号:CN102147574A
公开(公告)日:2011-08-10
申请号:CN201110083335.0
申请日:2004-06-09
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: J·洛夫 , H·布特勒 , S·N·L·当德斯 , A·科勒斯辰科 , E·R·鲁普斯特拉 , H·J·M·梅杰 , J·C·H·穆肯斯 , R·A·S·里特塞马 , F·范沙克 , T·F·森格斯 , K·西蒙 , J·T·德斯米特 , A·斯特拉艾杰 , B·斯特里科克 , E·T·M·比拉尔特 , C·A·胡根达姆 , H·范桑坦 , M·A·范德科霍夫 , M·克鲁恩 , A·J·登博夫 , J·J·奥坦斯 , J·J·S·M·梅坦斯
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/70141 , G03F7/70341 , G03F7/7085 , G03F7/70883
摘要: 本发明公开了一种光刻装置和器件制造方法。在所述装置中,投影系统的最后元件和传感器之间的空间填充有液体。
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公开(公告)号:CN100520592C
公开(公告)日:2009-07-29
申请号:CN200510108562.9
申请日:2005-10-11
申请人: ASML荷兰有限公司
IPC分类号: G03F7/20 , G03F9/00 , G05D3/12 , H01L21/027
CPC分类号: G03F7/70725
摘要: 为了使平版印刷设备的图案支架或衬底台能够具有高加速度和高移动速度,该图案支架和衬底台之一由一个用于相当大的位移的驱动器支承,而省去一个用于精确安置的驱动器。该图案支架和衬底台中的另一个由一个驱动器组件支承,该组件包括一个用于精确安置的驱动器和一个用于相当大的位移的驱动器。通过提供这样一种控制系统而获得图案形成装置和衬底的精确对准,该控制系统适合于安置图案支架和衬底台中的另一个,使得图案支架和衬底台之一的定位误差受到另一个的安置的补偿。
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公开(公告)号:CN1841208A
公开(公告)日:2006-10-04
申请号:CN200610071533.4
申请日:2006-03-28
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: J·-G·C·范德图恩 , H·布特勒 , H·H·M·科西 , E·H·J·德拉贾 , N·坦卡特 , F·范德穆伦 , M·J·H·弗兰坎 , M·侯克斯 , A·H·阿伦德斯 , M·库帕卢斯
IPC分类号: G03F7/20 , H01L21/027
CPC分类号: G03F7/70341
摘要: 一种光刻装置,其包括保持基底的基底台和将带图案的辐射光束投影到基底靶部的投影系统。该光刻装置还包括流体供给系统,用于在基底和投影系统的最后一个透镜元件之间提供流体,和位置控制装置,用于控制该流体供给系统的位置。该位置控制装置配置成在被提供基底的位置量时,通过在基底的位置量上增加位置偏差来确定流体供给系统的期望位置,然后根据该期望位置定位流体供给系统。该位置量包括基底台的位置和/或旋转位置和/或基底高度的高度函数。
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公开(公告)号:CN101887219A
公开(公告)日:2010-11-17
申请号:CN201010225185.8
申请日:2006-03-28
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: J-G·C·范德图恩 , H·布特勒 , H·H·M·科西 , E·H·J·德拉贾 , N·坦卡特 , F·范德穆伦 , M·J·H·弗兰坎 , M·侯克斯 , A·H·阿伦德斯 , M·库帕卢斯
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/70341
摘要: 一种光刻装置,其包括保持基底的基底台和将带图案的辐射光束投影到基底靶部的投影系统。该光刻装置还包括流体供给系统,用于在基底和投影系统的最后一个透镜元件之间提供流体,和位置控制装置,用于控制该流体供给系统的位置。该位置控制装置配置成在被提供基底的位置量时,通过在基底的位置量上增加位置偏差来确定流体供给系统的期望位置,然后根据该期望位置定位流体供给系统。该位置量包括基底台的位置和/或旋转位置和/或基底高度的高度函数。
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公开(公告)号:CN101713932A
公开(公告)日:2010-05-26
申请号:CN200910206096.6
申请日:2003-11-11
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: J·洛夫 , E·T·M·比拉亚尔特 , H·布特勒 , S·N·L·唐德斯 , C·A·胡格达姆 , A·科勒斯伊辰科 , E·R·鲁普斯特拉 , H·J·M·梅杰 , J·J·S·M·默顿斯 , J·C·H·穆肯斯 , R·A·S·里特塞马 , F·范沙克 , T·F·森格斯 , K·西蒙 , J·T·德斯米特 , A·斯特拉艾杰 , B·斯特里夫克 , H·范桑坦
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/70341 , G03F7/707 , G03F7/7085 , G03F7/70866
摘要: 本发明提供一种光刻装置和器件制造方法,其中光刻装置包括:用于支撑构图部件的支撑结构,构图部件用于根据理想的图案对辐射光束进行构图;用于保持基底的基底台;用于将带图案的光束投射到基底的靶部上的投射系统;以及用于用液体至少部分填充投射系统与基底、或与放置在基底台上的传感器、或者与基底和传感器两者之间的空间的液体供给系统;其中,基底台还包括边缘密封构件,边缘密封构件至少部分环绕基底的边缘、或传感器的边缘、或者基底和传感器两者的边缘,并且用于提供面向投射系统基本上与基底、或传感器、或基底和传感器两者的主表面共面的主表面,其中液体供给系统向传感器和/或边缘密封构件和/或基底的局部区域提供液体。
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公开(公告)号:CN100451835C
公开(公告)日:2009-01-14
申请号:CN200410082568.9
申请日:2004-09-21
申请人: ASML荷兰有限公司
发明人: H·布特勒
CPC分类号: G03F7/70725
摘要: 一种包含可移动物体的光刻设备。这些可移动物体的位置可以用位置控制系统来控制。位置控制系统包含位置控制器(6)、表示为物体滤波器(Ho)的物体、位置反馈电路(22)、以及加速控制系统(34)。加速控制系统(34)包含减法器(8)以及第一电路支路中的第一滤波器(Hf)和第二电路支路中的第二滤波器(Hs)。从位置控制器(6)输出的位置控制器信号(Fp),被输入到加速控制系统(34)的减法器(8)中。但外部干扰力(Fd)被直接施加在物体(Ho)上。于是,对位置控制器力(Fp)的从减法器(8)的输入到物体(Ho)的加速度的第一传递函数(G1)可以不同于对干扰力(Fd)的从物体(Ho)的输入到物体(Ho)的加速度的第二传递函数(G2)。
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