半导体存储器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101290806A

    公开(公告)日:2008-10-22

    申请号:CN200810085731.5

    申请日:2008-03-13

    发明人: 金东槿 李知恩

    IPC分类号: G11C29/44 G11C17/18

    摘要: 一种半导体存储器件,该半导体存储器件可减小行修复所必需的电路面积。该半导体存储器件包括:多个存储体;布置在每个存储体中的多个单元阵列;布置在每个单元阵列中的多个阵列字线;布置在每个单元阵列中的一条或多条修复字线;及多个修复信息存储器,所述修复信息存储器被配置为存储将被所述修复字线替换的所述阵列字线的存储体信息和行地址。

    一种高效替换备用存储单元阵列的半导体器件

    公开(公告)号:CN1200544A

    公开(公告)日:1998-12-02

    申请号:CN98101892.0

    申请日:1998-05-26

    发明人: 高井康浩

    IPC分类号: G11C11/34

    CPC分类号: G11C29/781 G11C29/808

    摘要: 本发明公开了一种提高了备用存储单元阵列的替换效率的半导体存储器件。备用行地址判定电路为不同的存储体输出备用行选择信号,在为用一个备用存储单元阵列来替换某个存储体的字线使故障存储单元的行地址已经被编入程序时,备用行选择信号不会被输出给其它存储体。

    用于封装后DRAM修复的耐熔熔丝电路

    公开(公告)号:CN1209817C

    公开(公告)日:2005-07-06

    申请号:CN00104867.8

    申请日:2000-01-11

    IPC分类号: H01L27/04 G11C7/00

    CPC分类号: G11C29/781 G11C17/18

    摘要: 耐熔熔丝电路包括三个子模块:具有控制信号和地址输入的多路转移器;由振荡器和电荷泵构成的一个编程电压发生器;以及用于编程/读出耐熔熔丝状态的耐熔熔丝单元电路。针对在特定测试模式下编程的一个耐熔熔丝,由一个具有控制信号和地址输入的程序地址发生电路来启动编程电压发生器,并且提供一个用于选择耐熔熔丝的具体的编程地址。在耐熔熔丝单元电路中,在选定了用于编程的耐熔熔丝元件时,来自编程电压发生器的程序地址和编程电压信号被用来将耐熔熔丝的端子切换到一个编程电压电平。

    具有存储单元和参考单元的集成式存储器

    公开(公告)号:CN1319847A

    公开(公告)日:2001-10-31

    申请号:CN00137372.2

    申请日:2000-11-22

    发明人: P·佩赫米勒

    IPC分类号: G11C11/40 H01L27/10

    CPC分类号: G11C29/781

    摘要: 集成式存储器,包括参考字线(WLREF,/WLREF)、字线(WLi)和冗余字线(RWL1,RWL2)。该存储器包括一个可编程的激活单元(AKT),与其编程状态相关的是,冗余字线(RWL1,RWL2)和与其相连的冗余存储单元(RC)是否在存储器工作期间代替所述字线(WLi)之一以及与其相连的存储单元(MC),或者代替参考字线(WLREF,/WLREF)以及与其相连的参考单元(CREF)。

    具有地址转换电路的半导体存储器件

    公开(公告)号:CN1217548A

    公开(公告)日:1999-05-26

    申请号:CN98124736.9

    申请日:1998-11-12

    发明人: 杉林直彦

    IPC分类号: G11C29/00

    CPC分类号: G11C29/781

    摘要: 一种半导体存储器件,将故障地址转换为非故障地址,以便保证对非故障地址区进行连续存取。存储单元阵列包括多个存储单元区。地址译码器选择存储单元区之一。地址转换电路把故障区地址转换为非故障区地址,并将转换区的地址提供给地址译码器。由此可实现对非故障区的连续存取。