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公开(公告)号:WO2011108436A1
公开(公告)日:2011-09-09
申请号:PCT/JP2011/054133
申请日:2011-02-24
申请人: 国立大学法人大阪大学 , 菅沼 克昭 , 金 声俊
CPC分类号: C22C18/00 , B23K35/282 , B23K2201/40 , H01L24/05 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L2224/04026 , H01L2224/05187 , H01L2224/05639 , H01L2224/05644 , H01L2224/05647 , H01L2224/05655 , H01L2224/05664 , H01L2224/29 , H01L2224/291 , H01L2224/29111 , H01L2224/29118 , H01L2224/29294 , H01L2224/29298 , H01L2224/293 , H01L2224/32227 , H01L2224/325 , H01L2224/32507 , H01L2224/83101 , H01L2224/83439 , H01L2224/83444 , H01L2224/83447 , H01L2224/83455 , H01L2224/83464 , H01L2924/00013 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/0102 , H01L2924/01023 , H01L2924/01024 , H01L2924/01025 , H01L2924/01029 , H01L2924/0103 , H01L2924/01033 , H01L2924/01041 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/0105 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/0132 , H01L2924/01327 , H01L2924/04941 , H01L2924/10272 , H01L2924/1033 , H01L2924/15787 , H01L2924/05432 , H01L2924/3512 , H01L2924/00 , H01L2924/00014 , H01L2224/29099 , H01L2224/29199 , H01L2224/29299 , H01L2224/2929 , H01L2924/00012 , H01L2924/01022 , H01L2924/01028 , H01L2924/014
摘要: 本発明による基板110に半導体部材120を積層した半導体装置100は、半導体部材120と基板110とは亜鉛を主成分とする半導体装置用接合材130を介して接合されている。また、基板110の表面および半導体部材120の表面の少なくとも一方に半導体装置用接合材130の拡散を防ぐコート層が設けられている。また、コート層140は、窒化物、炭化物または炭窒化物からなるバリア層141と、貴金属からなる保護層142とを積層して構成される。更に、バリア層141を構成する窒化物、炭化物または炭窒化物は、基板110に設けられた絶縁層111を構成する物質が有する自由エネルギーよりも小さい自由エネルギーを有するように選択される。
摘要翻译: 公开了一种半导体器件(100),其包括层叠在基板(110)上的半导体部件(120),其中半导体部件(120)和基板(110)通过半导体器件接合材料(130)彼此接合, 含锌为主要成分。 用于防止半导体器件接合材料(130)的扩散的涂层设置在基板(110)的表面和半导体部件(120)的表面中的至少一个上。 涂层(140)由包含氮化物,碳化物或碳氮化物的阻挡层(141)和包含贵金属的保护层(142)构成,其中阻挡层(141)和保护层(142) 彼此层压。 构成阻挡层(141)的氮化物,碳化物或碳氮化物被选择为具有小于形成在基板(110)上的构成绝缘层(111)的物质的自由能的自由能。