闪存低速读模式控制电路
    92.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104517645A

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201410206549.6

    申请日:2014-05-16

    发明人: 杨光军 冯楚华

    IPC分类号: G11C16/06 G11C16/26

    摘要: 本发明公开了一种闪存低速读模式控制电路,包括:电荷泵,由串联两个电阻和一个第一开关组成的第一分压电路,由两个电容串联形成的第二分压电路。第一开关用于对低速读模式的数据读取模式和电荷泵漏电模式进行切换,在数据读取模式中,两个电阻形成的第一分压通过比较器、与非门和缓冲器反馈到电荷泵的输入端,使得电荷泵的输出电压的稳定值和第一分压成比例。在电荷泵漏电模式,第二分压电路监测电荷泵的输出电压,当输出电压低于低阈值电压时,形成反馈信号到电荷泵的输入端并使电荷泵开启,当输出电压高于低阈值电压时,形成反馈信号到电荷泵的输入端并使电荷泵停止工作。本发明能大大降低整个低速读模式的平均电流,降低读取过程的功耗。

    半导体存储装置
    96.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102640281B

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:CN201080055292.9

    申请日:2010-12-15

    摘要: 本发明公开了一种半导体存储装置。在各存储单元由一个晶体管构成的半导体存储装置中,上述存储单元由相邻的2比特形成一个扩散图案(4),相邻的两个晶体管共用源极区域,两个漏极区域被隔离。并且,在配置有各个扩散图案(4)中的至少一列的多个阵列(120、130)中,每个阵列分别具有独立的位线。而且,在阵列分割边界部,每个阵列的位线的各个端部分别位于在一个扩散图案(4)上隔着共用的源极区域彼此隔离的两个漏极区域上。这样一来,能够确保充分的位线分离宽度,并实现面积缩减。

    半导体存储电路
    98.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103700402A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201310447687.9

    申请日:2013-09-27

    发明人: 津村和宏

    IPC分类号: G11C16/06 G11C16/02

    CPC分类号: G11C16/24 G11C16/06 G11C16/12

    摘要: 本发明提供长期可靠性和读出特性优异的低消耗电流的半导体存储电路。本发明的半导体存储电路,将第一倒相器的输出连接至可电写入的第一非易失性存储器的源极,将第一非易失性存储器的漏极连接至第二倒相器的输入,将第二倒相器的输出连接至第二非易失性存储器的源极,将第二非易失性存储器的漏极连接至第一倒相器的输入,将第二非易失性存储器的漏极作为输出。

    存储器件及其验证方法
    100.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103426480A

    公开(公告)日:2013-12-04

    申请号:CN201310011810.2

    申请日:2013-01-11

    发明人: 李炯珉

    IPC分类号: G11C16/34

    摘要: 本发明提出了一种存储器,所述存储器包括:单元串,所述单元串包括串联连接的多个存储器单元;位线,所述位线与单元串连接;电压传送单元,所述电压传送单元被配置成响应于控制信号而将位线与感测节点电连接;以及页缓冲器,所述页缓冲器被配置成在感测时段中经由感测节点来感测位线的电压,其中,所述页缓冲器在感测时段中基于所述多个存储器单元之中的与验证目标相对应的目标存储器单元的阈值电压,来决定控制信号的电压电平。