半导体器件的制造方法
    23.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1271716C

    公开(公告)日:2006-08-23

    申请号:CN01805025.5

    申请日:2001-12-13

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 梅林拓

    Abstract: 本发明提供了一种DRAM,其中的接点泄漏受到抑止而不会增加电容器的电容;扩散层和露头电极之间的接触面积增大以减小二者之间的接触电阻,因而可以减小DRAM单元的尺寸和保证栅极电极和露头电极两端的绝缘耐电压。在存储器元件和逻辑元件作在同一块半导体基片上的半导体器件中,存储器元件的晶体管包括:穿过栅极绝缘薄膜(15)埋入在半导体基片(11)上作出的沟槽(13)内的栅极电极(16);和在半导体基片(11)的表面上的沟槽(13)的侧壁上形成扩散层(17)。另外,露头电极(20)与扩散层(17)连接,使露头电极可以穿过在栅极电极(16)上的第一层间绝缘膜(绝缘薄膜)(18),覆盖栅极电极(16)。扩散层(17)的深度增加时,扩散层(17)的杂质浓度降低。

    半导体器件和该器件的制造方法

    公开(公告)号:CN1401139A

    公开(公告)日:2003-03-05

    申请号:CN01805025.5

    申请日:2001-12-13

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 梅林拓

    Abstract: 本发明提供了一种DRAM,其中的接点泄漏受到抑止而不会增加电容器的电容;并且,扩散层和露头电极之间的接触面积增大,以减小二者之间的接触电阻,因而可以减小DRAM单元的尺寸,和保证栅极电极和该露头电极两端的绝缘耐电压。在存储器元件和逻辑元件作在同一块半导体基片上的半导体器件中,该存储器元件的晶体管包括:一个穿过栅极绝缘薄膜(15),埋入在半导体基片(11)上作出的沟槽(13)内的栅极电极(16);和在该半导体基片(11)的表面上的沟槽(13)的侧壁上形成一个扩散层(17)。另外,一个露头电极(20)与该扩散层(17)连接,使该露头电极可以穿过在栅极电极(16)上的第一层间绝缘膜(绝缘薄膜)(18),覆盖该栅极电极(16)。在该沟槽(13)中还形成一条字线(16),并且当扩散层(17)的深度增加时,扩散层(17)的杂质浓度降低。

    光检测装置和电子设备
    30.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110246854B

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN201910188795.6

    申请日:2013-10-10

    Applicant: 索尼公司

    Abstract: 本发明提供了一种半导体装置,其包括:第一半导体部,它包括在它一侧的第一布线层,所述第一半导体部还包括光电二极管;第二半导体部,它包括在它一侧的第二布线层,所述第一半导体部和所述第二半导体部被紧固在一起;第三半导体部,它包括在它一侧的第三布线层,所述第二半导体部和所述第三半导体部被紧固在一起以使所述第一半导体部、所述第二半导体部和所述第三半导体部被堆叠在一起;以及第一导电材料,其将(i)所述第一布线层、(ii)所述第二布线层和(iii)所述第三布线层之中的至少两者电连接,以使得被电连接的布线层处于电气通信。

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