半导体器件的制造方法
    21.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104465339A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201310757104.2

    申请日:2013-12-27

    IPC分类号: H01L21/04

    摘要: 本发明提供一种半导体器件的制造方法,包括:在n+型碳化硅衬底的第一表面上顺序地形成n-型外延层、p-型外延层、以及n+区域;在n+区域形成缓冲层;在缓冲层的一部分上形成光敏薄膜图案;利用光敏薄膜图案作为掩模对缓冲层蚀刻以形成缓冲层图案,缓冲层图案布置在光敏薄膜图案下方并露出n+区域的一部分;在n+区域的露出部分和光敏薄膜图案上顺序地形成第一金属层和第二金属层;去除缓冲层图案、光敏薄膜图案、第一金属层的第二部分、以及第二金属层的第二部分;利用第一金属层的第一部分和第二金属层的第一部分作为掩模对n+区域的露出部分蚀刻以形成沟槽,其中沟槽穿过n+区域和p-型外延层,形成在n-型外延层上。

    用于半导体制造的喷射构件及具有该喷射构件的基板处理装置

    公开(公告)号:CN103635992A

    公开(公告)日:2014-03-12

    申请号:CN201280031035.0

    申请日:2012-05-30

    IPC分类号: H01L21/3065 H01L21/205

    摘要: 本发明涉及一种基板处理装置。基板处理装置包括:处理腔室,其容纳多个基板以便执行等离子处理过程;支撑构件,其安装在所述处理腔室内以便将多个基板安装在其相同平面上;喷射构件,其相对于所述支撑构件安装并且包括多个独立的挡板,以便将至少一种反应气体和一种净化气体独立地喷射到与放置在所述支撑构件上的所述多个基板相对应的位置中;和驱动单元,其用于使所述支撑构件或所述喷射构件转动,以使所述喷射构件的所述挡板朝向放置在支撑构件上的多个基板的上侧依次地转动。所述喷射构件包括等离子体发生器,其安装在至少一个所述挡板上,以喷射来自多个挡板的反应气体,以便将待喷射到到基板上的反应气体等离子体化。

    涂敷处理方法
    28.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101647089B

    公开(公告)日:2012-05-23

    申请号:CN200880008386.3

    申请日:2008-02-28

    IPC分类号: G03F7/16 H01L21/027 B05D1/40

    摘要: 本发明提供涂敷处理方法、涂敷处理装置和计算机能够读取的存储介质。在涂敷工序中,使基板高速旋转,在此状态下从第一喷嘴向基板的中心部喷出抗蚀剂液,在基板上涂敷抗蚀剂液。接着,在平坦化工序中,使基板的旋转减速,使基板以低速旋转,使基板上的抗蚀剂液平坦化。此时,涂敷工序中的第一喷嘴进行的抗蚀剂液的喷出持续进行至平坦化工序的中途,在该平坦化工序中在使抗蚀剂液的喷出结束时,使第一喷嘴移动,使抗蚀剂液的喷出位置从基板的中心部移动。采用本发明,能够在基板面内均匀地涂敷抗蚀剂液。

    复合基板及其制备方法
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108962915A

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201711242223.9

    申请日:2017-11-30

    发明人: 高卓

    IPC分类号: H01L27/12 H01L23/13 H01L21/02

    摘要: 本发明涉及一种复合基板及其制备方法。该复合基板包括载体基板、柔性基板以及阻隔层;其中,所述载体基板设有第一凹槽;所述第一凹槽包括底面以及围绕所述底面设置的侧壁,所述第一凹槽的开口面积小于所述第一凹槽的底面面积;所述柔性基板设置于所述第一凹槽内;所述阻隔层覆盖所述柔性基板的整个上表面。该复合基板中,柔性基板与载体基板之间结合的牢固性,能够保证制作得到的柔性显示器件性能稳定,品质高。