非易失存储器及其操作方法和制造方法

    公开(公告)号:CN1988040B

    公开(公告)日:2010-05-19

    申请号:CN200610169399.1

    申请日:2006-12-20

    摘要: 本发明公开了一种非易失存储器,包括:存储器阵列,包括多列,该多列的每一列包括串联排列的多个存储器单元,该每一列具有第一端及第二端,该多个存储器单元的每一存储器单元具有至多一个单一电荷储存状态,该多个存储器单元的每一存储器单元包括:衬底区域,包括源极及漏极区域;电荷陷获结构,储存该单一电荷储存状态;一个或多储存介质结构,至少一部份在该电荷陷获结构及该衬底区域之间,及至少一部份在该电荷陷获结构及栅极电压源之间;多个字线,与该储存介质结构连接,该多个字线作为该栅极电压源至该存储器阵列;以及逻辑,与该多个存储器单元连接,该逻辑实施偏压安排至该存储器阵列,以编程、擦除及读取该存储器阵列。

    对存储器元件进行编程的系统及方法

    公开(公告)号:CN1949392A

    公开(公告)日:2007-04-18

    申请号:CN200610138883.8

    申请日:2006-09-21

    IPC分类号: G11C11/56

    摘要: 一种多电平单元(MLC),可通过如每一单元中两端的每一端储存两比特来储存4比特。每一端可以储存,如四种不同电流电平状态,其通过在编程期间空穴注入如氮化层中的数目来决定。在一个提供的电位下,当更多的空穴注入,则电流减少。因此,电流可以是低的,在一实施例中通过使用电流放大器得到益处,此电流放大器可以是双极结型晶体管(BJT)、金属氧化物半导体晶体管(MOS)或其他类型的元件。