半导体装置的制造方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107209078B

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201680006742.2

    申请日:2016-02-03

    摘要: 本发明提供一种在第1基板(10)与第2基板(20)的凹部(20c)之间构成有真空的气密室(30)的半导体装置的制造方法,其中,具有下述工序:准备含有硅的所述第1及第2基板,对所述第1及第2基板进行接合,进行用于排出所述气密室内的氢气(31)的加热处理,在所述接合前在所述第1及第2基板的凹部的壁面上生成OH基。在所述接合中,使所述第1及第2基板的OH基共价键合。在所述加热处理中,以1℃/sec以下的升温速度进行加热,使所述第1及第2基板的生成有所述OH基的部分达到700℃以上而生成氢气,以所述氢气的扩散距离达到所述气密室的壁面与大气之间的最短距离以上的方式调整加热温度及加热时间,从而从所述气密室排出所述氢气。

    半导体压力传感器

    公开(公告)号:CN102243125B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201110008491.0

    申请日:2011-01-06

    IPC分类号: G01L9/04

    摘要: 本发明的目的在于获得一种能够提高膜片的破坏耐压的半导体压力传感器。包括:第一半导体基板(3),该第一半导体基板(3)形成有在厚度方向上的一个表面开口的凹部(2);第二半导体基板(4),该第二半导体基板(4)配置为与第一半导体基板(3)的一个表面相对;以及第一氧化硅膜(6),该第一氧化硅膜(6)介于第一半导体基板(3)和第二半导体基板(4)之间,形成有连通凹部(2)与第二半导体基板(4)之间的贯通孔(5),若从与贯通孔(5)及凹部(2)的开口相对的一侧来看,贯通孔(5)的边缘部的至少一部分位于凹部(2)的开口边缘部的内侧。

    压差感测基座
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106461481A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201580010811.2

    申请日:2015-02-27

    IPC分类号: G01L9/00

    摘要: 一种压差传感器包括压力感测基座,压力感测基座包括半导体基座,半导体基座具有形成膜的减薄部分。膜包括压阻元件,其呈现基于施加在膜上的力的变化的阻抗。第一支撑结构连结到半导体基座的第一表面,具有孔,该孔限定为穿过该支撑结构使得膜的第一表面通过该孔而暴露。第二支撑结构连结到半导体基座的相反侧,并且具有与膜的相反侧对齐的孔。与压阻元件电连通的电气部件布置在由第一和第二支撑元件及半导体基座之间的连结部限定的区域之外。油填充的空间可被限定在半导体基座和恶劣的媒介之间,其将流体压力传递至基座,而恶劣的媒介没有接触基座。

    物理量传感器、压力传感器、高度计、电子设备及移动体

    公开(公告)号:CN105366623A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201510487846.7

    申请日:2015-08-10

    IPC分类号: B81B3/00 G01L9/06 G01C5/06

    摘要: 本发明提供一种具有优异的温度特性的物理量传感器,并且提供具有该物理量传感器的压力传感器、高度计、电子设备以及移动体。本发明的物理量传感器(1)具有:具有在一面上开口的凹部(24)的基板(2)、包括凹部(24)的底部并通过受压而发生挠曲变形的隔膜部(20)、配置于隔膜部(20)上的压敏电阻元件(5)、隔着空穴部(S)与隔膜部(20)对置覆盖层(641)、配置于基板(2)与覆盖层(641)之间且同基板(2)以及覆盖层(641)一起构成空穴部S的布线层(62、64),布线层(62、64)构成为含有金属,在俯视视图中,凹部(24)的底部的外周缘(241)与布线层(62)的内壁面的基板(2)侧的端部(621)相比位于隔膜部(20)的中心侧。