公开(公告)号：US06597438B1

公开(公告)日：2003-07-22

申请号：US09630924

申请日：2000-08-02

申请人： Cleopatra Cabuz ,  J. David Zook ,  James Allen Cox ,  Thomas Raymond Ohnstein ,  Ulrich Bonne ,  Eugen Loan Cabuz ,  Ernest Allen Satren ,  Aravind Padmanabhan ,  Teresa M. Marta

发明人： Cleopatra Cabuz ,  J. David Zook ,  James Allen Cox ,  Thomas Raymond Ohnstein ,  Ulrich Bonne ,  Eugen Loan Cabuz ,  Ernest Allen Satren ,  Aravind Padmanabhan ,  Teresa M. Marta

IPC分类号： G01N3349

CPC分类号： G01N15/1404 ,  A61B5/150022 ,  A61B5/15003 ,  A61B5/150221 ,  A61B5/150343 ,  A61B5/150351 ,  A61B5/150809 ,  A61B5/150824 ,  A61B5/157 ,  B01L3/5027 ,  G01N2015/1486 ,  Y10T436/101666

摘要： A portable or wearable cytometer that can be used at remote locations, such as in the field or at home. The flow cytometer of the present invention may help improve the healthcare of many weak, sick or elderly people by providing early detection of infection. By detecting the infection early, the infection may be more readily treatable. In military applications, the portable cytometer of the present invention may help save lives by providing early detection of infection due to biological agents.

摘要翻译： 便携式或可穿戴式的血细胞计数仪，可在远程位置使用，如在野外或家中使用。 本发明的流式细胞仪可以通过提供早期检测感染来帮助改善许多弱者，病人或老年人的医疗保健。 通过早期检测感染，感染可能更容易治疗。 在军事应用中，本发明的便携式血细胞计数器可以通过提供由于生物制剂引起的感染的早期检测来帮助挽救生命。

公开(公告)号：US6134703A

公开(公告)日：2000-10-17

申请号：US996530

申请日：1997-12-23

申请人： Ernest Allen

发明人： Ernest Allen

IPC分类号： G06F17/50 ,  H03K17/693

CPC分类号： G06F17/5054

摘要： A process for efficiently programming a programmable logic device (PLD) is provided. A basis set for a desired matrix of programming pattern ("pattern matrix") is a set of row patterns from which all the row patterns of the pattern matrix can be derived by applying a Boolean operation on two or more row patterns of the basis set. The disclosed process derives a minimal basis set, i.e., a set with the smallest number of row patterns among basis sets for the given pattern matrix.

摘要翻译： 提供了一种用于有效地编程可编程逻辑器件（PLD）的过程。 对于期望的编程模式矩阵（“模式矩阵”）的基准集是一组行模式，从该模式矩阵的所有行模式可以通过对基础集合的两个或多个行模式应用布尔运算来导出模式矩阵的所有行模式 。 所公开的过程导出最小基组，即给定模式矩阵的基组中行数最小的集合。

公开(公告)号：US5621312A

公开(公告)日：1997-04-15

申请号：US498190

申请日：1995-07-05

申请人： Alan Achor ,  Eric F. H. Chun ,  Ernest Allen

发明人： Alan Achor ,  Eric F. H. Chun ,  Ernest Allen

IPC分类号： G01R35/00 ,  G01R31/02

CPC分类号： G01R35/005

摘要： A method and apparatus for checking the integrity of a device tester used in the manufacture of semiconductor devices. A device tester is used to exercise different aspects of a semiconductor device. The tester is programmed with appropriate control software that fully tests the electrical and functional characteristics of the semiconductor device.

摘要翻译： 一种用于检查用于制造半导体器件的器件测试仪的完整性的方法和装置。 器件测试器用于锻炼半导体器件的不同方面。 测试仪使用适当的控制软件进行编程，该软件可以充分测试半导体器件的电气和功能特性。

公开(公告)号：US5608337A

公开(公告)日：1997-03-04

申请号：US481744

申请日：1995-06-07

申请人： Matthew C. Hendricks ,  Ernest Allen

发明人： Matthew C. Hendricks ,  Ernest Allen

IPC分类号： G01R31/316 ,  G01R31/319 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28

CPC分类号： H01L22/20 ,  G01R31/316 ,  G01R31/31905 ,  G01R31/31926 ,  H01L2924/0002

摘要： A method and apparatus for testing an integrated circuit device. An integrated circuit device undergoes testing in at least two different stages of the manufacturing process. At one stage, the semiconductor wafer containing multiple chip dice is probed by a probe tester that tests each of the dice individually. At another stage, after an individual chip die has been encapsulated in a package, a package tester tests and exercises the functions of the chip.

摘要翻译： 一种用于测试集成电路器件的方法和装置。 集成电路器件在制造过程的至少两个不同阶段进行测试。 在一个阶段，包含多个芯片骰子的半导体晶片由探针测试器探测，每个骰子单独测试。 在另一个阶段，在单个芯片芯片封装在封装中之后，封装测试器测试和运行芯片的功能。

公开(公告)号：US1639249A

公开(公告)日：1927-08-16

申请号：US13839026

申请日：1926-09-29

申请人： ERNEST ALLEN

发明人： ERNEST ALLEN

IPC分类号： B67B7/48 ,  B67B7/86

CPC分类号： B67B7/28

公开(公告)号：US1136136A

公开(公告)日：1915-04-20

申请号：US1913801989

申请日：1913-11-19

申请人： HUNT ERNEST ALLEN

发明人： HUNT ERNEST ALLEN

CPC分类号： A47L9/0422

公开(公告)号：US08614506B1

公开(公告)日：2013-12-24

申请号：US12238349

申请日：2008-09-25

申请人： Jay M. Fassett ,  Ernest Allen, III ,  Ronald L. Koepp ,  Ronald A. Oliver ,  Steven I. Mozsgai

发明人： Jay M. Fassett ,  Ernest Allen, III ,  Ronald L. Koepp ,  Ronald A. Oliver ,  Steven I. Mozsgai

IPC分类号： H01L23/48

CPC分类号： H01L23/48 ,  G06K19/041 ,  G06K19/07 ,  G06K19/07745 ,  G06K19/07754 ,  G06K19/07756 ,  H01L23/4985 ,  H01L23/49855 ,  H01L23/642 ,  H01L24/16 ,  H01L24/32 ,  H01L24/81 ,  H01L24/83 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2224/26175 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/32245 ,  H01L2224/73204 ,  H01L2224/8114 ,  H01L2224/81192 ,  H01L2224/81193 ,  H01L2224/81903 ,  H01L2224/83385 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/13099

摘要： Radio Frequency Identification (RFID) tags are provided, along with apparatuses and methods for making. In some embodiments, the RFID tags include an RFID tag chip that is attached to an inlay and/or a strap. The inlay or strap has one or more contact bumps formed thereon. In some of these embodiments, the RFID tag chip includes pads for electrical contacts, but not chip-bumps, thanks to the contact bump.

摘要翻译： 提供射频识别（RFID）标签，以及制造的设备和方法。 在一些实施例中，RFID标签包括附着到镶嵌和/或带的RFID标签芯片。 镶嵌或带子具有形成在其上的一个或多个接触凸块。 在这些实施例的一些中，由于接触凸起，RFID标签芯片包括用于电触点的焊盘，但不包括芯片凸起。

公开(公告)号：US20070218571A1

公开(公告)日：2007-09-20

申请号：US11519507

申请日：2006-09-11

申请人： Anthony Stoughton ,  Ernest Allen

发明人： Anthony Stoughton ,  Ernest Allen

IPC分类号： G01R31/26 ,  H01L21/66

CPC分类号： G06K19/0722 ,  G01R31/2822 ,  H01L22/22

摘要： Manufacturing methods, testing, and RFID integrated circuit wafers that have been so prepared. A function of an integrated circuit can be tested. If the test fails, a control function of the tested circuit is disabled.

摘要翻译： 制造方法，测试和已经如此准备的RFID集成电路晶圆。 可以测试集成电路的功能。 如果测试失败，则禁用测试电路的控制功能。

公开(公告)号：US06939727B1

公开(公告)日：2005-09-06

申请号：US10701328

申请日：2003-11-03

申请人： Ernest Allen, III ,  David Castaneda ,  Miaw Looi

发明人： Ernest Allen, III ,  David Castaneda ,  Miaw Looi

IPC分类号： H01L21/66 ,  H01L23/544 ,  H01L31/26

CPC分类号： H01L22/20 ,  H01L22/34 ,  H01L2223/5448

摘要： A method of manufacturing a semiconductor integrated circuit includes providing a fabricated integrated circuit on a wafer. A test fixture is connected to unencapsulated pads on the integrated circuit to monitor an operating parameter for the circuit and to determine a unique identifier for the die. The parameter is analyzed in post processing.

摘要翻译： 制造半导体集成电路的方法包括在晶片上提供制造的集成电路。 测试夹具连接到集成电路上的未封装的焊盘，以监视电路的工作参数并确定芯片的唯一标识符。 在后处理中分析参数。

公开(公告)号：US20120293070A1

公开(公告)日：2012-11-22

申请号：US13108052

申请日：2011-05-16

申请人： Peter Kurunczi ,  Frank Sinclair ,  Costel Biloiu ,  Ludovic Godet ,  Ernest Allen

发明人： Peter Kurunczi ,  Frank Sinclair ,  Costel Biloiu ,  Ludovic Godet ,  Ernest Allen

IPC分类号： H05H1/24

CPC分类号： H01J37/08 ,  H01J37/3171 ,  H01J37/3211 ,  H01J37/32119 ,  H01J37/32669

摘要： A plasma processing apparatus and method are disclosed which create a uniform plasma within an enclosure. In one embodiment, a conductive or ferrite material is used to influence a section of the antenna, where a section is made up of portions of multiple coiled segments. In another embodiment, a ferrite material is used to influence a portion of the antenna. In another embodiment, plasma uniformity is improved by modifying the internal shape and volume of the enclosure.

摘要翻译： 公开了一种等离子体处理装置和方法，其在外壳内产生均匀的等离子体。 在一个实施例中，导电或铁氧体材料用于影响天线的一部分，其中一部分由多个线圈段的部分组成。 在另一个实施例中，铁氧体材料用于影响天线的一部分。 在另一个实施例中，通过改变外壳的内部形状和体积来提高等离子体的均匀性。