中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

37 records (took 0.014 seconds)

    顕微鏡、観察方法
    1.
    发明申请
    顕微鏡、観察方法 审中-公开

    公开(公告)号：WO2022215638A1

    公开(公告)日：2022-10-13

    申请号：PCT/JP2022/016356

    申请日：2022-03-30

    Applicant: Ｇセラノスティックス株式会社

    Inventor： 重川　秀実

    IPC: G01Q60/10 ,  G01Q30/14 ,  G01Q60/16 ,  G01Q60/44

    Abstract: 顕微鏡は、探針と、パルス状の第１光を探針の先端に出力する第１光出力部と、観察対象の試料、および試料が浸される溶液を保持する試料台と、第１光により生じる電場に起因して探針および試料の間に流れるトンネル電流を測定する計測部とを備える。

    INSTRUMENT AND METHOD FOR COMBINED SURFACE TOPOGRAPHY AND SPECTROSCOPIC ANALYSIS
    4.
    发明申请
    INSTRUMENT AND METHOD FOR COMBINED SURFACE TOPOGRAPHY AND SPECTROSCOPIC ANALYSIS 审中-公开
    用于组合表面形貌和光谱分析的仪器和方法

    公开(公告)号：WO01057878A1

    公开(公告)日：2001-08-09

    申请号：PCT/GB2001/000377

    申请日：2001-01-31

    IPC: G01N23/20 ,  G01Q30/02 ,  G01Q60/10 ,  G01Q60/12 ,  G12B21/04 ,  G01N23/225 ,  G01N27/00

    CPC classification number: G01Q60/16 ,  G01Q30/02

    Abstract: A combined surface topography and spectroscopic analysis instrument comprises a scanning tunnelling microscope tip (12); and a sample carrier (58) which supports a sample (10) so that a surface thereof to be analysed is presented towards the tip (12). The sample carrier (58) and the tip (12) are relative movable to enable the distance between the tip (12) and the surface to be varied in use and the sample surface to be scanned in two dimensions by the tip (12). An electron analyser is positioned to detect electrons from the tip (12) which have been back-scattered off the sample surface. A voltage controller (59) enables selective operation of the tip (12) in a first voltage range in scanning tunnelling mode, to enable spatial resolution imaging of the sample surface, and in a second, higher, voltage range in electron field emission mode whereby to permit the electron analyser to analyse the back-scattered electrons. The electron analyser is positioned so as to detect back-scattered electrons travelling at an angle of less than 20 DEG with respect to the sample surface.

    Abstract translation: 组合表面形貌和光谱分析仪器包括扫描隧道显微镜尖端（12）; 和支撑样品（10）的样品载体（58），使得待分析的表面朝向尖端（12）呈现。 样品载体（58）和尖端（12）是可相对移动的，以使尖端（12）和表面之间的距离在使用中变化，并且样品表面将被二尖头（12）扫描。 定位电子分析仪以检测来自尖端（12）的电子，这些电子已经从样品表面反向散射出来。 电压控制器（59）使得能够在扫描隧道模式中的第一电压范围内选择性地操作尖端（12），以便能够进行样品表面的空间分辨率成像，并且在电子场发射模式的第二，更高的电压范围内，由此 以允许电子分析仪分析反向散射的电子。 电子分析仪被定位成检测相对于样品表面以小于20°的角度行进的反向散射电子。

    AUTOMATED DETERMINATION OF LOCATIONS OF DONOR ATOMS
    6.
    发明申请
    AUTOMATED DETERMINATION OF LOCATIONS OF DONOR ATOMS 审中-公开

    公开(公告)号：WO2020176926A1

    公开(公告)日：2020-09-10

    申请号：PCT/AU2020/050174

    申请日：2020-02-27

    Applicant: THE UNIVERSITY OF MELBOURNE

    Inventor： HOLLENBERG, Lloyd Christopher Leonard ,  USMAN, Muhammad ,  WONG, Yi Zheng

    IPC: G01Q60/10 ,  G01Q30/04 ,  G06N3/02 ,  G06N20/00 ,  G06T7/73 ,  H01L21/66 ,  H01L29/167 ,  H01L29/207 ,  H01L29/227 ,  H01L29/36

    Abstract: This disclosure relates to automatic determination of locations of one or more closely spaced donor atoms implanted into a semiconductor crystal lattice. A processor receives image data generated by a scanning tunnelling microscope (STM). The image data is indicative of a tunnelling current between a scanning tip and the crystal lattice at multiple image locations. The processor applies a trained machine learning model to the image data to determine a classification into one of multiple candidate configurations of the one or more donor atoms. The multiple candidate configurations relate to different locations of the one or more donor atoms in the semiconductor crystal lattice. Based on an output of the trained machine learning model, the processor determines the location of the one or more donor atoms in the semiconductor crystal lattice.

    METHODS, DEVICES, AND SYSTEMS FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPY CONTROL SYSTEM DESIGN
    7.
    发明申请
    METHODS, DEVICES, AND SYSTEMS FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPY CONTROL SYSTEM DESIGN 审中-公开
    用于扫描隧道显微镜控制系统设计的方法，装置和系统

    公开(公告)号：WO2018053483A1

    公开(公告)日：2018-03-22

    申请号：PCT/US2017/052213

    申请日：2017-09-19

    Applicant: ZYVEX LABS, LLC

    Inventor： MOHEIMANI, Seyed Omid Reza ,  TAJADDODIANFAR, Farid ,  FUCHS, Ehud ,  RANDALL, John ,  BALLARD, Joshua ,  OWEN, James

    IPC: G01Q20/00 ,  G01Q10/00 ,  G01Q60/10 ,  G01Q80/00 ,  G21K5/08 ,  G21K5/10

    Abstract: Methods, devices, and systems for controlling a scanning tunneling microscope system are provided. In some embodiments, the methods, devices, and systems of the present disclosure utilize a control system included in or added to a scanning tunneling microscope (STM) to receive data characterizing a tunneling current between a tip of the scanning tunneling microscope system and a sample, to estimate, in real-time, a work function associated with the scanning tunneling microscope system, and to adjust, by a control system, a position of the tip based on an estimated work function. Associated systems are described herein.

    Abstract translation: 提供了用于控制扫描隧道显微镜系统的方法，设备和系统。 在一些实施例中，本公开的方法，设备和系统利用包括在或添加到扫描隧道显微镜（STM）中的控制系统来接收表征隧道扫描显微镜系统的尖端与样本之间的隧穿电流的数据 ，以实时估计与扫描隧道显微镜系统相关联的功函数，并且由控制系统基于估计的功函数来调整尖端的位置。 这里描述了相关的系统。

    微小接触式プローバ
    8.
    发明申请
    微小接触式プローバ 审中-公开
    MICROCONTACT PROBER

    公开(公告)号：WO2010146773A1

    公开(公告)日：2010-12-23

    申请号：PCT/JP2010/003504

    申请日：2010-05-26

    Applicant: 株式会社 日立ハイテクノロジーズ ,  廣岡誠之 ,  岡井誠

    Inventor： 廣岡誠之 ,  岡井誠

    IPC: G01Q60/10 ,  G01Q30/02 ,  G01Q70/12 ,  G01R1/06 ,  G01R1/073 ,  G01R31/28

    CPC classification number: G01Q60/40 ,  G01Q70/12 ,  G01R1/06727 ,  G01R1/06744 ,  G01R31/2887

    Abstract: 　導電性のナノチューブやナノワイヤ、またはナノピラー探針を搭載した微小接触式プローバにおける探針－測定サンプル間の接触応力を向上し、かつ接触界面の絶縁層を除去することで、接触抵抗を低減し、半導体デバイス検査の性能を向上することにある。　微小接触式プローバにおいて、カンチレバー型のプローブを有し、カンチレバーは先端に設置されたホルダーより長さ５０～１００ｎｍで突出したナノワイヤやナノピラー、または金属被覆のカーボンナノチューブ探針と、各カンチレバーを被検体に対して水平方向に振動させるための加振機構を設置する。ホルダーの先端部は前記カンチレバーの自由端よりも突出してよく、カンチレバー上部よりホルダー先端を確認することができる。

    Abstract translation: 当使用具有导电纳米管，纳米线或纳米柱探针的微探针探针时，探针和测量样品之间的接触引起的应力得到改善，接触界面处的绝缘层被去除，从而降低了接触电阻，并且性能 的半导体器件检查得到改进。 微接触探针包括悬臂探针，其中每个悬臂设置有从设置在前端的保持器突出50至100nm的纳米线，纳米柱或金属涂覆的碳纳米管探针和用于水平振动悬臂的振动机构 关于这个问题。 支架的前端可以从悬臂的自由端突出，并且可以从悬臂上方检查支架的前端。

    METHODS AND COMPOSITIONS FOR DETECTING NUCLEIC ACIDS USING SCANNING PROBE MICROSCOPY AND NANOCODES
    9.
    发明申请
    METHODS AND COMPOSITIONS FOR DETECTING NUCLEIC ACIDS USING SCANNING PROBE MICROSCOPY AND NANOCODES 审中-公开
    使用扫描探针显微镜和纳米孔探测核酸的方法和组合物

    公开(公告)号：WO2005066368A3

    公开(公告)日：2005-11-24

    申请号：PCT/US2004043632

    申请日：2004-12-28

    Applicant: INTEL CORP ,  BERLIN ANDREW ,  YAMAKAWA MINEO

    Inventor： BERLIN ANDREW ,  YAMAKAWA MINEO

    IPC: C12Q1/68 ,  G01Q60/10 ,  G01Q60/50

    CPC classification number: C12Q1/6874 ,  B82Y5/00 ,  B82Y10/00 ,  C12Q2565/601 ,  C12Q2563/155 ,  C12Q2525/179

    Abstract: A method for determining a nucleotide sequence of a nucleic acid is provided that includes contacting the nucleic acid with a series of labeled oligonucleotides for binding to the nucleic acid, wherein each labeled oligonucleotide includes a known nucleotide sequence and a molecular nanocode. The nanocode of an isolated labeled oligonucleotides that binds to the nucleic acid is then detected using SPM. Nanocodes of the present invention in certain aspects include detectable features beyond the arrangement of tags that encode information about the barcoded object, which assist in detecting the tags that encode information about the barcoded object. The detectable features include structures of a nanocode or associated with a nanocode, referred to herein as detectable feature tags, for error checking/error-correction, encryption, and data reduction/compression.

    Abstract translation: 提供了用于确定核酸的核苷酸序列的方法，其包括使核酸与一系列标记的寡核苷酸接触以结合核酸，其中每个标记的寡核苷酸包括已知的核苷酸序列和分子纳代码。 然后使用SPM检测与核酸结合的分离的标记的寡核苷酸的纳代码。 在某些方面，本发明的纳代码包括除了编码关于条形码化对象的信息的标签布置之外的可检测特征，其有助于检测编码关于条形码化对象的信息的标签。 可检测特征包括用于错误检查/错误校正，加密和数据简化/压缩的纳代码的结构或与纳代码关联的结构，在本文中被称为可检测特征标签。

Patent Agency Ranking