公开(公告)号：CN109212408A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201710517497.8

申请日：2017-06-29

申请人： 龙芯中科技术有限公司

发明人： 许超 ,  陈华军 ,  卢新元 ,  齐子初

IPC分类号： G01R31/3185 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318536 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/318555

摘要： 本发明提供了一种扫描单元和冗余触发器的输出控制方法。扫描单元包括多个触发器、选择模块和表决器；多个触发器的触发信号输入端相连接，多个触发器的时钟信号输入端相连接；选择模块的输入端分别连接每个触发器的输出端以及选择信号输入端；选择模块用于根据选择信号输出相应的触发器的输出信号；表决器分别连接多个触发器中的第一触发器和选择模块的两个输出端；表决器用于根据第一触发器的输出信号和选择模块的输出信号表决后，输出容错信号，或输出验证信号以验证触发器是否故障。本发明实施例中，扫描单元具有较好的容错能力，增强了电路的可靠性，大大减少了测试时间，而且还加快了扫描链的诊断速度和定位的准确性。

公开(公告)号：CN104246712B

公开(公告)日：2017-11-10

申请号：CN201280071797.3

申请日：2012-03-25

申请人： 英特尔公司

发明人： H·林甘纳加利 ,  V·凯里格哈塔姆

IPC分类号： G06F11/22 ,  G06F11/36

CPC分类号： G01R31/3177 ,  G01R31/2815 ,  G01R31/3172 ,  G01R31/318555 ,  G01R31/318572 ,  G06F11/267 ,  G06F11/2733 ,  G06F11/3656

摘要： 公开了异步调试接口，其允许JTAG代理、基于JTAG的调试器、固件和软件调试、访问和覆盖正在被测试的核心逻辑的任何功能寄存器、中断寄存器、功率/时钟选通使能等等。所述异步调试接口在宽范围的时钟频率下工作，并且允许读事务和写事务在不切换到调试或测试模式的情况下在侧通道上以及片上处理器结构内发生。所述异步调试接口使用双线和四线JTAG控制器配置工作，并且符合诸如1149.1、1149.7等等IEEE标准，并且提供调试复杂的片上系统状态和片上产品的有效和无缝的方式。

公开(公告)号：CN107068890A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201610930252.3

申请日：2016-10-31

申请人： 乐金显示有限公司

发明人： 李在晟 ,  李晙硕

IPC分类号： H01L51/52 ,  H01L27/32

CPC分类号： G01R31/3177 ,  G01R31/31723 ,  G01R31/31727 ,  G01R31/318555 ,  G01R31/318572 ,  G06F11/26 ,  H01L27/1222 ,  H01L27/1225 ,  H01L27/1248 ,  H01L27/3246 ,  H01L27/3248 ,  H01L27/3258 ,  H01L27/3262 ,  H01L51/5212 ,  H01L51/5215 ,  H01L51/5228 ,  H01L51/5253 ,  H01L51/56 ,  H01L2227/323 ,  H01L2251/301 ,  H01L2251/308 ,  H01L2251/5315 ,  H01L51/52 ,  H01L27/3244

摘要： 公开了一种有机发光显示装置及其制造方法，该有机发光显示装置可以包括：薄膜晶体管，该薄膜晶体管位于一基板上；第一电极，该第一电极与所述薄膜晶体管电连接；有机发光层，该有机发光层位于所述第一电极上，所述有机发光层用隔板分离；隔板盖，该隔板盖位于所述隔板上；第二电极，该第二电极位于所述有机发光层上；以及封装层，该封装层位于所述第二电极上，其中，所述隔板盖的上表面的宽度小于所述隔板盖的下表面的宽度。

公开(公告)号：CN104321655B

公开(公告)日：2017-04-05

申请号：CN201380022743.2

申请日：2013-05-10

申请人： 德克萨斯仪器股份有限公司 ,  德克萨斯仪器日本有限公司

发明人： R·米塔尔 ,  P·萨巴瑞瓦 ,  P·纳拉亚南 ,  R·A·帕瑞克基

IPC分类号： G01R31/3185

CPC分类号： G01R31/318555 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/3183 ,  G01R31/318533 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318544 ,  G01R31/318569 ,  G01R31/318594

摘要： 提供能够生成用于通过(例如集成电路中的)扫描链进行扫描测试的测试模式控制信号的方法和集成电路的各种实施例。该集成电路包括测试图案检测块(202)、计数器电路(204)和控制电路(206)。该测试图案检测块经配置以接收检测图案(208)，并基于该检测图案检测对应于测试图案的移位阶段的第一图案和对应于测试图案的捕捉阶段的第二图案，并基于该图案的检测而生成触发信号。控制电路基于计数状态生成并控制测试模式控制信号。计数器电路经配置以基于所检测的图案，生成对应于移位阶段、捕捉阶段和时钟信号(209)中的一种的一个或更多个计数状态。

公开(公告)号：CN104881357A

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201510023543.X

申请日：2015-01-16

申请人： 全视技术有限公司

发明人： 詹妮·皮卡劳萨 ,  克里斯托弗·科赫

IPC分类号： G06F11/36

CPC分类号： G01R31/318544 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/31813 ,  G01R31/318385 ,  G01R31/318547 ,  G01R31/318555 ,  G01R31/3187 ,  G01R31/31932 ,  G01R31/31935 ,  G06F11/2236 ,  G06F11/261 ,  G06F11/277 ,  G06F13/24 ,  H04L43/50

摘要： 本文讨论一种系统，其具有在集成电路的晶种内存，耦合以使晶种至矢量产生器，该矢量产生器提供矢量到第一功能单元中的至少一个扫描链。签名产生器被配置以产生来自扫描链数据的签名，该签名在签名内存中与预期的签名进行比较。状态存储器被提供用以储存该功能单元的状态，并当测试完成时恢复该功能单元的该状态。该系统还具有配置以判定该功能单元的闲置情况的装置，尽管该系统处于非闲置状态下；以及配置以操作测试序列的控制单元，当该功能单元是闲置时，该测试序列储存该单元的状态、产生向量和签名，并验证该签名，及恢复该单元的该状态。

公开(公告)号：CN104321655A

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201380022743.2

申请日：2013-05-10

申请人： 德克萨斯仪器股份有限公司 ,  德克萨斯仪器日本有限公司

发明人： R·米塔尔 ,  P·萨巴瑞瓦 ,  P·纳拉亚南 ,  R·A·帕瑞克基

IPC分类号： G01R31/3185

CPC分类号： G01R31/318555 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/3183 ,  G01R31/318533 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318544 ,  G01R31/318569 ,  G01R31/318594

摘要： 本发明提供能够生成用于通过(例如集成电路中的)扫描链进行扫描测试的测试模式控制信号的方法和集成电路的各种实施例。该集成电路包括测试图案检测块(202)、计数器电路(204)和控制电路(206)。该测试图案检测块经配置以接收检测图案(208)，并基于该检测图案检测对应于测试图案的移位阶段的第一图案和对应于测试图案的捕捉阶段的第二图案，并基于该图案的检测而生成触发信号。控制电路基于计数状态生成并控制测试模式控制信号。计数器电路经配置以基于所检测的图案，生成对应于移位阶段、捕捉阶段和时钟信号(209)中的一种的一个或更多个计数状态。

公开(公告)号：CN104011553A

公开(公告)日：2014-08-27

申请号：CN201280059673.3

申请日：2012-09-21

申请人： 阿尔卡特朗讯

发明人： M·波托兰

IPC分类号： G01R31/3185

CPC分类号： G01R31/318555 ,  G01R31/318572

摘要： 本发明提供了一种基于分组的测试能力。该基于分组的测试能力被配置为提供基于分组的JTAG(PJTAG)协议。PJTAG协议是被配置为支持同步JTAG协议的异步协议。PJTAG协议被配置为：在JTAG信号与被配置为传送这些JTAG信号的信息的分组之间转换(例如，在从JTAG域到PJTAG域的接口处，将JTAG信号转换成PJTAG分组；并且在从PJTAG域到JTAG域的接口处，将PJTAG分组转换成JTAG信号)。

公开(公告)号：CN102016615B

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN200980114958.0

申请日：2009-02-26

申请人： 斯卡尼梅特里科斯有限公司

发明人： S·斯卢普斯凯 ,  B·莫尔 ,  C·V·塞拉塔蒙比

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/302 ,  H01L21/66 ,  H05K13/08

CPC分类号： G08C17/02 ,  G01R31/3025 ,  G01R31/308 ,  G01R31/318555 ,  G01R31/318572 ,  H01L2224/16245 ,  H01L2224/32145 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48145 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2924/15311 ,  H04Q9/02 ,  H04Q2209/40 ,  H04Q2209/75 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00012

摘要： 一种用于询问由衬底支撑的电子电路的设备包括测试器，所述测试器在衬底之外并包括测试器收发器。测试电路由衬底支撑并连接到电子电路。测试电路包括处理器和与测试器收发器通信的测试电路收发器，用于从测试器向处理器发射指令并从处理器向测试器发射询问结果。对所述处理器进行编程控制以处理来自所述测试器的指令，以利用对应于所述指令的询问来询问所述电子电路。

公开(公告)号：CN101297208B

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN200680039392.6

申请日：2006-10-12

申请人： NXP股份有限公司

发明人： 汤姆·瓦叶尔斯

IPC分类号： G01R31/3185

CPC分类号： G01R31/318555

摘要： 测试电路具有移位寄存器电路(76)，用于存储为了测试集成电路核心的指令数据。移位寄存器电路的每一级包括：第一移位寄存器存储元件(32)，用于存储从串行输入(wsi)接收到的信号并以扫描链操作模式将所述信号提供给串行输出(wso)；以及第二并行寄存器存储元件(38)，用于存储来自第一移位寄存器存储元件的信号并以更新操作模式将所述信号提供给并行输出。测试电路还包括多路复用器(70)，用于向移位寄存器电路的串行输入(wsi)发送串行测试输入或向移位寄存器电路(76)的串行输入中发送附加输入(wpi[n])。在优选实施例中，测试电路还包括控制电路(78)，所述控制电路响应于存储在移位寄存器的至少一级中的特定值以产生更新信号，所述更新信号用于将其他移位寄存器级设定为更新操作模式。

公开(公告)号：CN1519573B

公开(公告)日：2011-05-11

申请号：CN200310123279.4

申请日：2003-12-22

申请人： 三星电子株式会社

发明人： 郑胜在 ,  金容天

IPC分类号： G01R31/28 ,  G11C29/00 ,  H01L21/66 ,  G06F11/22

CPC分类号： G01R31/318536 ,  G01R31/318541 ,  G01R31/318555 ,  G01R31/318558

摘要： 一种包括具有多个输出端口、多个输入端口和向量输入端的核心块的集成电路器件。核心块响应来自输入端口的输出数据，产生核心内部数据。核心块配置为在扫描测试期间输出核心内部数据，并响应核心内部数据或来自向量输入端的测试向量串行输入数据，为每个输出端口有选择地产生核心输出数据。输入侧子逻辑电路单元配置为适用于动态仿真测试，并耦接到核心块的输入端口。输入侧子逻辑电路单元响应输入到第一子逻辑电路单元的数据，为多个输入端口产生子数据。核心块和第一子逻辑电路单元之间的多路复用器(MUX)单元响应MUX控制信号，有选择地提供子数据或输出数据作为核心块的输入端口的输入。还提供了测试集成电路器件的方法。