積層セラミックコンデンサ
    8.
    发明专利
    積層セラミックコンデンサ 有权
    多层陶瓷电容器

    公开(公告)号:JPWO2015005027A1

    公开(公告)日:2017-03-02

    申请号:JP2015526213

    申请日:2014-06-04

    Inventor: 貴史 岡本

    Abstract: 高温負荷時の絶縁劣化耐性が高い積層セラミックコンデンサを提供する。内層用セラミック層11の組成が、BaおよびTiを含むペロブスカイト型化合物を主成分とし、NbおよびTaの少なくとも一種類を含み、かつ、MnおよびAlを含み、かつ、Mgおよび希土類元素(Y、Gd、Tb、Dy、Ho、Erの少なくとも一種類)を任意で含み、Tiの含有量を100モル部としたとき、(ア)NbおよびTaの合計が0.2〜1.5モル部、(イ)Mgが0.2モル部以下(0モル部を含む)、(ウ)Mnが1.0〜3.5モル部、(エ)Alが1.0〜4.0モル部、(オ)希土類元素が0.05モル部以下(0モル部を含む)含む。さらに、内層用セラミック層11の1層あたりの平均粒子数が3個以下である。

    Abstract translation: 在高温负荷绝缘劣化性,以提供高的层压陶瓷电容器。 所述内陶瓷层11的组合物,作为主要组分的含Ba和Ti的钙钛矿型化合物,含有至少一种Nb和Ta的,并且包括Mn和Al,以及,Mg和稀土类元素(Y,钆 ,铽,镝,钬,包括至少一个)铒任选的,当Ti的含量为100摩尔份的(a)Nb和Ta,是(i)的Mg的总0.2〜1.5摩尔份 0.2摩尔份或以下(包括0摩尔份),包括(ⅲ)Mn为1.0〜3.5摩尔份,(d)中的Al为1.0〜4.0摩尔份,(E)的稀土类元素为0.05摩尔份以下(0摩尔单元 ),包括。 此外,每内陶瓷层11的层的颗粒的平均数量是三个或更少。

    誘電体磁器組成物およびセラミック電子部品
    10.
    发明专利
    誘電体磁器組成物およびセラミック電子部品 有权
    电介质陶瓷组合物和陶瓷电子元件

    公开(公告)号:JP2016169130A

    公开(公告)日:2016-09-23

    申请号:JP2015050941

    申请日:2015-03-13

    Abstract: 【課題】誘電体層を薄層化しても容量温度特性がX8R特性を満足し、高電圧環境下での信頼性が良好なセラミック電子部品および前記誘電体層を構成する誘電体磁器組成物の提供。 【解決手段】一般式ABO 3 で表されるペロブスカイト型結晶構造を有する主成分と、希土類元素の酸化物である第1の副成分と、Siの酸化物である第2の副成分と、を含有する誘電体磁器組成物であって、コアシェル構造を有する誘電体粒子2a、および、偏析粒子2bを少なくとも含有し、偏析粒子2bにおける前記希土類元素の濃度が、コアシェル構造を有する誘電体粒子2aのシェル部における前記希土類元素の平均濃度の2倍以上であり、前記誘電体磁器組成物を切断した断面において、偏析粒子2bが占める領域の面積が5.0%以下であり、それぞれの偏析粒子2bの断面積の平均が0.075μm 2 以下である誘電体磁器組成物。 【選択図】図2

    Abstract translation: 要解决的问题:为了提供一种陶瓷电子部件,其中即使当电介质层变薄时,容量温度特性满足X8R特性,并且其中在高电压环境下的可靠性令人满意,并且提供 介电陶瓷组合物,其形成所述电介质层。本发明提供一种电介质陶瓷组合物,其包含具有由通式ABO表示的钙钛矿晶体结构的主要成分,稀土元素的氧化物的第一副成分和 Si的氧化物的第二子成分,并且至少含有具有核 - 壳结构的电介质粒子2a和偏析粒子2b,其中分散粒子2b中的稀土元素的浓度为2 在具有核 - 壳结构的电介质粒子2a的壳部中的稀土元素的平均浓度的一倍以上 对于通过切断电介质陶瓷组合物而得到的截面图,偏析粒子2b占据的区域的面积为5.0%以下,各偏析粒子2b的截面积的平均值为0.075μm以下 图2

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