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    摩耗量計測装置および摩耗量計測方法
    1.
    发明专利
    摩耗量計測装置および摩耗量計測方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020153730A

    公开(公告)日：2020-09-24

    申请号：JP2019050732

    申请日：2019-03-19

    Applicant: 株式会社豊田中央研究所 ,  株式会社ジェイテクト

    Inventor： 豊田 千恵 ,  手嶋 俊行

    IPC: G01B11/30

    Abstract: 【課題】工具の刃先の摩耗量を精度よく自動計測可能な摩耗量計測装置および摩耗量計測方法を提供すること。 【解決手段】摩耗量計測装置は、光源1と、カメラ2と、演算部3と、を有している。工具4は、ステージ5上に配置され、工具4の刃先に光源1からの光が当たるように調整している。光源1、カメラ2、および工具4の位置関係は、工具4に替えてダミー工具7を配置した際に、ダミー工具7の摩耗面7aに対して、光源1とカメラ2の配置が正反射の関係となるように設定されている。光源1、カメラ2、およびダミー工具7の位置関係が上記のように設定されているため、光源1、カメラ2、および工具4の位置関係については、工具4の摩耗面4aに対して、光源1とカメラ2の配置が正反射の関係か、それに近い関係に設定される。 【選択図】図1

    高さ分布計測装置及び高さ分布計測方法
    2.
    发明专利
    高さ分布計測装置及び高さ分布計測方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020071103A

    公开(公告)日：2020-05-07

    申请号：JP2018204277

    申请日：2018-10-30

    Applicant: 株式会社豊田中央研究所 ,  トヨタ自動車株式会社

    Inventor： 豊田 千恵 ,  田中 佑季子 ,  田畑 有梨

    IPC: G01B11/24

    Abstract: 【課題】被計測物の周囲に、被計測物以外の部材が配置されている場合であっても、照射位置への光の入射角を大きくして、高さ方向の分解能を向上させる。 【解決手段】高さ分布計測装置12は、被計測物(計測対象ロール14)の表面の高さ分布を計測するための光を照射する光照射部材18と、光が照射された照射位置LAで被計測物を撮像する撮像部材20と、光を反射させることで、光照射部材28の出射点から照射位置LAへ光が直接的に入射する入射角よりも大きな入射角で照射位置LAへ入射させる反射部材22と、撮像部材20で撮像された画像から高さ分布を導出する導出装置(制御装置32)と、を有する。 【選択図】図2

    検査装置および検査方法
    4.
    发明专利
    検査装置および検査方法 有权

    公开(公告)号：JP2017150949A

    公开(公告)日：2017-08-31

    申请号：JP2016033569

    申请日：2016-02-24

    Applicant: 株式会社豊田中央研究所 ,  豊田合成株式会社

    Inventor： 豊田 千恵 ,  塚田 敏彦 ,  宮地 修平 ,  猪原 友紀 ,  鯛 直樹 ,  宮▲崎▼ 秀和

    IPC: G01B11/30 ,  G06T1/00 ,  G01N21/954

    Abstract: 【課題】検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面上の異物を検出することができるようにする。 【解決手段】カメラ42が、メネジ部12の表面を口金10の外部から撮像し、カメラ42を挟むように、メネジ部12のネジ山稜線方向に並んで配置された赤照明用光源40R及び青照明用光源40Bが、メネジ部12の表面に対して光を照射する。解析部50が、光が照射されたときにカメラ42により撮像された撮像画像を取得し、赤照明用光源40R及び青照明用光源40Bの各々の光が照射されたときの撮像画像が表す影の情報に基づいて、メネジ部12の表面上の異物を検出する。 【選択図】図2

    高さ計測システム及びプログラム
    7.
    发明专利
    高さ計測システム及びプログラム 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020085555A

    公开(公告)日：2020-06-04

    申请号：JP2018217147

    申请日：2018-11-20

    Applicant: 株式会社豊田中央研究所

    Inventor： 豊田 千恵

    IPC: G06T7/521 ,  G01B11/24

    Abstract: 【課題】被計測物の表面の反射率分布が一様ではない場合であっても、被計測物の高さを精度良く算出する。 【解決手段】高さ計測システム10は、被計測物Tの光切断線画像を得るための第1の光L1を被計測物Tに対して照射する第1の照射手段12Aと、第1の光L1よりも幅の広い第2の光L2を被計測物Tに対して照射する第2の照射手段12Bと、光が入射された方向とは異なる方向から被計測物Tを撮像する撮像装置14を備える。高さ計測システム10は、撮像装置14によって撮像された画像に基づいて、第1の光L1の照射により得られた被計測物Tの光切断線画像と、第2の光L2の照射により得られた補正用画像とを取得し、光切断線画像の輝度値分布を補正用画像の輝度値分布を用いて補正することにより、被計測物Tの高さを算出する。 【選択図】図1

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