半導體封裝件及其製法
    7.
    发明专利
    半導體封裝件及其製法 审中-公开
    半导体封装件及其制法

    公开(公告)号:TW201526169A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:TW102147717

    申请日:2013-12-23

    CPC classification number: H01L2224/16225 H01L2924/181 H01L2924/00012

    Abstract: 一種半導體封裝件之製法,係先提供一具有相疊之第一與第二半導體元件的半導體結構,再置放該第一半導體元件於一具有凹部之承載件上,且該第二半導體元件懸空位於該凹部中,之後形成絕緣材於該凹部中以包覆該第二半導體元件,且藉由該第二半導體元件之懸空設計,該絕緣材能通過該第二半導體元件之底側而不受其阻擋,故能避免該絕緣材發生空洞之問題。本發明復提供該半導體封裝件。

    Abstract in simplified Chinese: 一种半导体封装件之制法,系先提供一具有相叠之第一与第二半导体组件的半导体结构,再置放该第一半导体组件于一具有凹部之承载件上,且该第二半导体组件悬空位于该凹部中,之后形成绝缘材于该凹部中以包覆该第二半导体组件,且借由该第二半导体组件之悬空设计,该绝缘材能通过该第二半导体组件之底侧而不受其阻挡,故能避免该绝缘材发生空洞之问题。本发明复提供该半导体封装件。

Patent Agency Ranking