-
公开(公告)号:CN104465740A
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201410052440.1
申请日:2014-02-17
申请人: 株式会社东芝
IPC分类号: H01L29/778 , H01L29/06
CPC分类号: H01L29/7786 , H01L29/0646 , H01L29/0649 , H01L29/0657 , H01L29/2003 , H01L29/66462 , H01L29/7787
摘要: 本发明提供一种对由反转层、积累层、转移等引起的泄漏电流的流动进行抑制而能够实现耐压的提高的半导体装置。根据一实施方式,半导体装置具备半导体基板和在上述半导体基板上形成的第一膜。进而上述装置具备在上述第一膜上形成的第一导电型或本征型的第一半导体层、在上述第一半导体层上形成的上述第一导电型或本征型的第二半导体层。进而上述装置具备具有与上述第一半导体层相接的第一上部、与上述第一膜相接的第二上部、位于上述第一上部与上述第二上部之间的第一侧部、以及位于上述第二上部与上述半导体基板的下部之间的第二侧部的第二导电型在内的第三半导体层。
-
公开(公告)号:CN104064593A
公开(公告)日:2014-09-24
申请号:CN201310731532.8
申请日:2013-12-26
申请人: 株式会社东芝
IPC分类号: H01L29/778 , H01L29/423
CPC分类号: H01L29/7787 , H01L29/42356
摘要: 实施方式的半导体装置,具备:第一半导体层,由第一氮化物半导体构成;第二半导体层,形成在上述第一半导体层上,由与上述第一氮化物半导体相比带隙大的第二氮化物半导体构成;源极电极,形成在第二半导体层上;漏极电极,形成在上述第二半导体层上;第一栅极电极,形成在上述源极电极与漏极电极之间的上述第二半导体层上,与上述第二半导体层进行肖特基接合;第二栅极电极,隔着绝缘膜而形成在上述源极电极与上述第一栅极电极之间的上述第二半导体层上,与第一栅极电极电连接;以及第三栅极电极,隔着绝缘膜而形成在上述漏极电极与上述第一栅极电极之间的上述第二半导体层上,与第一栅极电极电连接。
-
公开(公告)号:CN100490318C
公开(公告)日:2009-05-20
申请号:CN200510006851.8
申请日:2005-01-28
申请人: 株式会社东芝
IPC分类号: H03H9/15
CPC分类号: H03H9/02015 , H01H2057/006 , H01L41/0477 , H01L41/094 , H01L41/316 , H01L41/319 , H03H3/02 , H03H9/02094 , H03H9/173 , H03H9/174 , H03H9/175 , H03H9/542 , H03H9/582 , H03H9/605 , H03H2003/021 , H03H2003/023 , H03H2003/025 , Y10T29/42 , Y10T29/435 , Y10T29/49002 , Y10T29/49005 , Y10T29/49117 , Y10T29/49155
摘要: 一种压电薄膜器件包括设置在衬底上的非晶态金属膜和设置在非晶态金属膜上的压电膜。压电膜的一个晶轴在垂直于非晶态金属的表面的方向上对齐。
-
公开(公告)号:CN1691498A
公开(公告)日:2005-11-02
申请号:CN200510067261.6
申请日:2005-04-20
申请人: 株式会社东芝
摘要: 提供一种薄膜压电谐振器及其制造方法,电气机械耦合系数kt2和Q值同时增大,并且下部电极的膜厚控制容易。薄膜压电谐振器包括:基板(11);下部电极(14),面对该基板(11)一部分为空心状态并被机械地保持;压电体(15),配置在下部电极(14)上,以使其在平面图形上,在自身占有的区域的内部包含所有下部电极(14);上部电极(16),在该压电体(15)上;中继电极(13),在基板(11)和压电体(15)之间,在平面图形上,位于压电体(15)的占有区域的边界,并且在占有区域的内部与下部电极(14)连接;以及下部电极布线(17),从占有区域的边界延长到外部,连接到中继电极(13)。
-
公开(公告)号:CN104917483A
公开(公告)日:2015-09-16
申请号:CN201410275588.1
申请日:2014-06-19
申请人: 株式会社东芝
发明人: 安本恭章 , 梁濑直子 , 阿部和秀 , 内原士 , 齐藤泰伸 , 仲敏行 , 吉冈启 , 小野祐 , 大野哲也 , 藤本英俊 , 增子真吾 , 古川大 , 八木恭成 , 汤元美树 , 饭田敦子 , 村上友佳子 , 铃木良和
CPC分类号: H01L28/20 , H01L27/0605 , H01L27/0617 , H01L27/0629 , H01L27/092 , H01L27/20 , H01L29/2003 , H01L29/205 , H01L29/66522 , H01L29/7786 , H01L29/78 , H03H9/02566
摘要: 本发明提供一种具备使用了GaN类半导体的谐振子的半导体装置。实施方式的半导体装置具备GaN类半导体层、以GaN类半导体层的一部分为压电层进行谐振的谐振子、以及以GaN类半导体层的一部分为沟道层的晶体管。
-
公开(公告)号:CN104917374A
公开(公告)日:2015-09-16
申请号:CN201410453507.2
申请日:2014-09-05
申请人: 株式会社东芝
IPC分类号: H02M3/155
CPC分类号: H02M3/33507 , H02M2001/0048 , H02M2001/007 , Y02B70/1491
摘要: 本发明提供一种具备可以使常导通元件适当地动作的控制电路的电源电路。根据一实施方式,电源电路包括第一电路,该第一电路包含一个以上的第一开关元件以及控制所述第一开关元件的动作的第一控制电路,且输出第一电压。进而,所述电源电路包括第二电路,该第二电路包含包括常导通元件的一个以上的第二开关元件以及控制所述第二开关元件的动作的第二控制电路,且输出从所述第一电压产生的第二电压。进而,所述第二控制电路是基于所述第二电路内的第一节点的电压或电流的值,发送使所述第一电路输出所述第一电压的第一信号。进而,所述第一控制电路是通过根据所述第一信号来控制所述第一开关元件的动作,而使所述第一电压从所述第一电路输出。
-
公开(公告)号:CN101061634A
公开(公告)日:2007-10-24
申请号:CN200680000322.X
申请日:2006-03-29
申请人: 株式会社东芝
摘要: 一种薄膜压电谐振器,包括:具有腔的基底;在该腔的上面延伸的第一电极;位于该第一电极上的压电膜;以及位于该压电膜上的第二电极。该第二电极的外周部分覆盖在该腔上,且被锥角化,以具有小于等于30度的内角,该内角由其外周的部分以及其底部来限定。
-
公开(公告)号:CN101022271A
公开(公告)日:2007-08-22
申请号:CN200710005320.6
申请日:2007-02-14
申请人: 株式会社东芝
CPC分类号: H03H9/131 , H03H9/13 , H03H9/173 , H03H9/174 , H03H9/568 , H03H9/605 , H03H2003/0428 , H03H2003/0471
摘要: 提供一种薄膜压电谐振器,具有:支撑基板和设置在上述支撑基板上、一部分由上述支撑基板来支撑、另一部分与上述支撑基板相离的层叠体;其特征在于,上述层叠体具有:以铝为主要成分的第1电极,层叠在上述第1电极上、以氮化铝为主要成分的压电膜,层叠在上述压电膜上、以密度大于等于铝密度1.9倍的金属为主要成分的第2电极。
-
公开(公告)号:CN1652458A
公开(公告)日:2005-08-10
申请号:CN200510006851.8
申请日:2005-01-28
申请人: 株式会社东芝
IPC分类号: H03H9/15
CPC分类号: H03H9/02015 , H01H2057/006 , H01L41/0477 , H01L41/094 , H01L41/316 , H01L41/319 , H03H3/02 , H03H9/02094 , H03H9/173 , H03H9/174 , H03H9/175 , H03H9/542 , H03H9/582 , H03H9/605 , H03H2003/021 , H03H2003/023 , H03H2003/025 , Y10T29/42 , Y10T29/435 , Y10T29/49002 , Y10T29/49005 , Y10T29/49117 , Y10T29/49155
摘要: 一种压电薄膜器件包括设置在衬底上的非晶态金属膜和设置在非晶态金属膜上的压电膜。压电膜的一个晶轴在垂直于非晶态金属的表面的方向上对齐。
-
公开(公告)号:CN104916678A
公开(公告)日:2015-09-16
申请号:CN201410305208.4
申请日:2014-06-30
申请人: 株式会社东芝
发明人: 安本恭章 , 梁濑直子 , 阿部和秀 , 内原士 , 齐藤泰伸 , 仲敏行 , 吉冈启 , 小野祐 , 大野哲也 , 藤本英俊 , 增子真吾 , 古川大 , 八木恭成 , 汤元美树 , 饭田敦子 , 村上友佳子 , 罇贵子
IPC分类号: H01L29/778 , H01L29/06
CPC分类号: H01L29/408 , H01L29/2003 , H01L29/423 , H01L29/7786
摘要: 本发明提供抑制电气特性的变动的半导体装置。实施方式的半导体装置具备:GaN系半导体层;设置在GaN系半导体层上的源极;设置在GaN系半导体层上的漏极;在源极与漏极之间的、设置在GaN系半导体层上的栅极;以及在栅极与漏极之间与GaN系半导体层接触地设置的第1导电层。
-
-
-
-
-
-
-
-
-