电子元件安装设备和电子元件安装方法

    公开(公告)号:CN1701651A

    公开(公告)日:2005-11-23

    申请号:CN200480000890.0

    申请日:2004-02-09

    Inventor: 土师宏

    CPC classification number: H01L24/75 H01L24/81

    Abstract: 在一种电子元件安装方法中,其中,电子元件被设置在安装头上的多个相应的喷嘴吸住/保持,以便于被安装在电路板的电子元件安装部分上,这种安装操作对所有电子元件顺序地进行,其中,电子元件被多个喷嘴吸住/保持;被多个喷嘴中之一吸住/保持的电子元件被临时地定位在一个电子元件安装部分上方;这个电子元件和电子元件安装部分通过一个位于电路板和安装头之间的观察头进行观察;对被安装头保持的所有电子元件执行一个相对位置探测操作,所述探测操作用于探测这个电子元件和电子元件安装部分之间的相对位置关系;而且电子元件相对于电子元件安装部分进行定位,以便于在反映被探测到的相对位置关系的同时将电子元件安装于其上。

    栽培系统
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103533824A

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201280023688.4

    申请日:2012-06-06

    CPC classification number: A01G31/042 Y02P60/216

    Abstract: 在生长区域(301)中以矩阵状平面地配置有对用来栽培植物的栽培基进行收容的多个容器(200);具备:多个生长输送机(102),配置在生长区域(301)中,在与容器(200)的移送方向交叉的方向上排列配置;作业输送机(103),配置在与生长区域(301)相邻的作业区域(302)中,在与生长输送机(102)的移送方向交叉的方向上具有移送方向,与多个生长输送机(102)的端部连接;处理机构(104),对配置在作业输送机(103)上的容器(200)进行培育处理。

    等离子体处理装置
    37.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102293065A

    公开(公告)日:2011-12-21

    申请号:CN201080005411.X

    申请日:2010-01-25

    CPC classification number: H01J37/32935

    Abstract: 一种等离子体处理装置,能够获得对确定在等离子体处理期间的异常放电的原因有用的数据。该等离子体处理装置在处理腔(3a)中持有基板(9)以使其经历等离子体处理。该等离子体处理装置被提供有:放电检测传感器(23),检测处理腔(3a)内部的异常放电;以及照相机(26),通过窗口部分(2a)拍摄处理腔(3a)内部的图像并输出运动图像数据。当检测到异常放电时,等离子体处理装置存储与提取目标时间段对应的运动图像数据作为历史数据,该提取目标时间段被设置为包括从异常放电的时间点往前一精确预定时间的在先时间点和异常放电的检测时间点,所述在先时间点例如是等离子体产生时间点或开始加载基板(9)的时间点。因此,可以获得对确定在等离子体处理期间的异常放电的原因有用的数据。

    等离子体处理装置
    38.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102293064A

    公开(公告)日:2011-12-21

    申请号:CN201080005409.2

    申请日:2010-01-25

    CPC classification number: H01J37/32935 Y02P90/22

    Abstract: 一种等离子体处理装置,能够获得对确定在等离子体处理期间的异常放电的原因有用的数据并能够确保可追溯性。该等离子体处理装置在处理腔(3a)中持有基板(9)以使其经历等离子体处理。该等离子体处理装置被提供有:放电检测传感器(23),检测处理腔(3a)内部的异常放电;以及照相机(26),通过窗口部分(2a)拍摄处理腔(3a)内部的图像并输出运动图像数据。当已检测到异常放电时,等离子体处理装置存储与一时间段对应的运动图像数据,该时间段包括检测到异常放电的时间,并且当未检测到异常放电时,等离子体处理装置存储示出正常放电状态的运动图像或静止图像的数据作为示出已执行等离子体处理的正常历史图像数据。因此,可以获得对确定等离子体处理中的异常放电的原因有用的数据并确保可追溯性。

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