芯片及其制造方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101165885A

    公开(公告)日:2008-04-23

    申请号:CN200710154596.0

    申请日:2007-09-27

    发明人: 周辉星 王志坚

    IPC分类号: H01L23/485 H01L21/60

    摘要: 一种半导体元件及其制造方法。半导体元件具有主动表面,该半导体元件包括至少一最大径长小于100微米的连结构件及至少一凸块。连结构件设置于主动表面上。凸块设于连结构件上,而以连结构件电性连结主动表面。凸块包括柱体部及顶部,柱体部设置于连结构件上,顶部设置于柱体部的顶端。柱体部具有平行于主动表面的第一径长及第二径长,第一径长大于1.2倍的第二径长。柱体部在预设温度下,不会熔化。顶部由焊料所构成,在预设温度下,会熔化。

    用于半导体封装的多层基底

    公开(公告)号:CN104254917B

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201380021583.X

    申请日:2013-03-26

    发明人: 林少雄 周辉星

    IPC分类号: H01L23/498 H01L21/48

    摘要: 本发明提供半导体基底(105、105a),其包括形成在牺牲性载体(110)上的两层或多层堆积的结构层(120、220)。每个堆积的结构层包括导体迹线层(114a)和互连层(118a、218a),结构层模制在树脂模塑料内。该模塑料的顶表面被研磨,然后,由粘合层(123、124、224)沉积。然后在最外面的导体迹线层(128a、228a)形成在粘合层上且载体(110)或加强环(110b)被移去之后,可以获得多层基底(105、105a)。

    封装结构
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101527299B

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN200810083170.5

    申请日:2008-03-07

    发明人: 周辉星 王志坚

    摘要: 本发明公开了一种封装结构。封装结构包括至少一第一半导体元件、至少一第二半导体元件、一半导体连接元件及一基板。第一半导体元件包括数个第一导电凸块。第二半导体元件包括数个第二导电凸块。半导体连接元件包括一连接主板、至少一信号导线及至少一信号导电柱。信号导线设置于连接主板上。信号导线的两端分别电性连接于第一导电凸块的其中之一及第二导电凸块的其中之一。信号导电柱电性连接于信号导线。基板电性连接于信号导电柱。其中,第一半导体元件及第二半导体元件皆为存储器芯片,且第一半导体元件及第二半导体元件的线路结构相同。根据本发明,封装结构的基板可以同时与第一半导体元件及第二半导体元件形成信号沟通路径。

    半导体封装元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101924090A

    公开(公告)日:2010-12-22

    申请号:CN201010232699.6

    申请日:2007-12-14

    CPC分类号: H01L2224/16225

    摘要: 本发明提供一种半导体封装元件及其制造方法。该封装元件,设有第一绝缘层,且设有多个孔洞于该第一绝缘层的第一表面上。此外,还设有多个封装导线,嵌设于该绝缘层中,与所述孔洞的另一端连接。多个孔洞可作为焊球连结封装导线的定位,使得半导体晶片的信号,可以藉由该晶片的导体单元,连至所述封装导线,并且经由焊球向外传输信号。而该第一绝缘层的材料以具有弹性模量大于1.0GPa的特性为宜。

    半导体封装元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101207103A

    公开(公告)日:2008-06-25

    申请号:CN200710194297.X

    申请日:2007-12-14

    IPC分类号: H01L23/495 H01L21/48

    CPC分类号: H01L2224/16

    摘要: 本发明提供一种半导体封装元件及其制造方法,该封装元件设有第一绝缘层,且设有多个孔洞于该第一绝缘层的第一表面上。此外,还设有多个封装导线,嵌设于该绝缘层中,与所述孔洞的另一端连接。多个孔洞可作为焊球连接封装导线的定位,使得半导体晶片的信号可以藉由该晶片的导体单元连至所述封装导线,并且经由焊球向外传输信号。该第一绝缘层的材料,以具有弹性模量大于1.0GPa的特性为宜。