芯片级封装结构及其制法

    公开(公告)号:CN101211793A

    公开(公告)日:2008-07-02

    申请号:CN200610169986.0

    申请日:2006-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种芯片级封装结构及其制法,是提供一表面预定位置形成有多个金属垫的载具,以将接置有导电凸块的多个芯片藉该导电凸块对应焊接于该载具的金属垫上,从而将多个芯片精准定位于载具上,避免现有芯片定位不佳问题,接着,于该载具上形成包覆该多个芯片与导电凸块的封装胶体,接着移除该载具,以使该金属垫外露出该封装胶体且与该封装胶体的一表面齐平,并于该封装胶体的表面上形成电性连接至该金属垫的导电迹线,之后敷设一拒焊层于该导电迹线上,并使导电迹线预定部分外露出该拒焊层,以于该导电迹线预定外露部分上形成导电元件,再切割该封装胶体,以形成多个具有芯片的芯片级封装结构。

    半导体封装件及其制法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101192550A

    公开(公告)日:2008-06-04

    申请号:CN200610163345.4

    申请日:2006-12-01

    Abstract: 一种半导体封装件及其制法,主要是在金属载具及绝缘层间敷设牺牲层,并在该牺牲层及绝缘层的预定部位开设多数贯穿的开口,以供后续在该开口中形成导电金属层及在该绝缘层上形成图案化线路层,并使该图案化线路层电性连接至该导电金属层,接着将至少一个芯片接置并电性连接至该图案化线路层,及形成包覆该芯片及图案化线路层的封装胶体,即移除该金属载具及牺牲层,以供先前形成于贯穿该牺牲层及绝缘层开口的导电金属层得以相对凸出于该绝缘层,这样在将所完成的半导体封装件电性连接至外部装置时,可增加该半导体封装件及外部装置间的距离,减低因半导体封装件及外部装置间的热膨胀系数差所产生的热应力,进而提高可信度。

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