Method for selective area stamping of optical elements on a substrate
    9.
    发明申请
    Method for selective area stamping of optical elements on a substrate 失效
    用于基板上的光学元件的选择性区域冲压的方法

    公开(公告)号:US20050093186A1

    公开(公告)日:2005-05-05

    申请号:US10698210

    申请日:2003-10-31

    IPC分类号: B29D99/00 B29D11/00

    CPC分类号: B29D11/00 B29C2059/023

    摘要: Selective area stamping of optical elements may be performed to make multiple micro-optic components on one or two sides of a substrate may be fabricated using a batch process. The presence of molding material may be controlled on the substrate through the use of gaps.

    摘要翻译: 可以执行光学元件的选择性区域冲压,以便可以使用间歇工艺来制造在衬底的一侧或两侧上的多个微光学元件。 成型材料的存在可以通过使用间隙来控制在基材上。

    Method and apparatus for non-contact electrical probe
    10.
    发明申请
    Method and apparatus for non-contact electrical probe 失效
    非接触电探头的方法和装置

    公开(公告)号:US20060022696A1

    公开(公告)日:2006-02-02

    申请号:US10910060

    申请日:2004-08-02

    IPC分类号: G01R31/26

    CPC分类号: G01R31/302 G01R1/072

    摘要: Methods and apparatus for non-contact electrical probes are described. In accordance with the invention, non-contact electrical probes use negative or positive corona discharge. Non-contact electrical probes are suited for testing of OLED flat panel displays.

    摘要翻译: 描述了非接触电探针的方法和装置。 根据本发明,非接触电探针使用负或正电晕放电。 非接触式电探头适用于OLED平板显示器的测试。