半导体封装结构及制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107706158A

    公开(公告)日:2018-02-16

    申请号:CN201711120326.8

    申请日:2017-11-14

    IPC分类号: H01L23/13 H01L23/31 H01L21/56

    摘要: 本申请涉及半导体封装领域,公开了一种半导体封装结构及其制造方法,结构包括:基板,具有第一表面、第二表面以及位于中央区域的一窗口,并包括设置在第二表面且位于窗口两侧的第一焊盘、以及设置在第二表面且位于第一焊盘外侧的端子焊盘;在窗口两侧的内侧面的至少一部分为相对倾斜于第二表面的垂直方向的倾斜面;设置在第一表面上的芯片,包括设置在有源面的中间区域的第二焊盘,有源面的两侧区域粘合到第一表面,窗口暴露第二焊盘;键合引线,透过窗口将第一焊盘和第二焊盘键合以将第一焊盘与第二焊盘电连接;形成于第一表面上的塑封料,密封至少芯片的侧边,还填充于窗口以密封键合引线;以及植接于端子焊盘的焊球。