半导体差分电路、使用该电路的装置及该电路的配置方法

    公开(公告)号:CN1501579A

    公开(公告)日:2004-06-02

    申请号:CN200310116158.7

    申请日:2003-11-17

    CPC classification number: H03K3/354 H01L27/0203 H01L27/0738

    Abstract: 提出了一种半导体差分电路,所述的半导体差分电路包括:半导体衬底;在半导体衬底上的第一半导体器件,所述的第一半导体器件具有:栅电极G1,用于使差分信号的其中之一输送到其上;以及漏电极D1,用于输出由栅电极G1控制的差分信号的其中之一;在半导体衬底上形成的第二半导体器件,所述的第二半导体器件具有:栅电极G2,用于使所述差分信号中的另一个输送到其上;以及漏电极D2,用于输出由所述的栅电极G2控制的差分信号中的另一个,其中:将漏电极D1和第二漏电极D2设置得较接近,从而使其在预定的频率上,等价于漏电极D1通过预定电阻接地,并且漏电极D2通过预定电阻接地。

    薄膜电阻器、半导体元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN106981455A

    公开(公告)日:2017-07-25

    申请号:CN201610394947.4

    申请日:2016-06-06

    Inventor: 陈鲁夫 陈柏安

    CPC classification number: H01L27/0738 H01L21/822 H01L21/8232 H01L28/20

    Abstract: 本发明提供一种薄膜电阻器、半导体元件及其制造方法,具有薄膜电阻器的半导体元件包括具有第一区与第二区的基底。第二区配置有至少一金属氧化物半导体场效应晶体管。第一区包括多个第一导体结构、第一介电层、电阻层、第二介电层以及多个接触窗。第一导体结构位于第一区的基底上。第一介电层覆盖第一导体结构,以电性隔离第一导体结构。电阻层位于第一介电层上。第二介电层位于电阻层上。接触窗至少贯穿第二介电层,并分别与电阻层电连接。

    一种半导体横向器件和高压器件

    公开(公告)号:CN101521203A

    公开(公告)日:2009-09-02

    申请号:CN200910131196.7

    申请日:2009-04-07

    Inventor: 陈星弼

    Abstract: 本发明提供了一种半导体横向器件和高压器件。该半导体横向器件具有三个外接端,并且利用两种载流子导电。该器件包括一个以衬底为零电压的最高电压区和最低电压区,两区之间为表面耐压区。最高电压区与最低电压区内各有一个外接端和一个控制端,其中一个控制端是外接的,控制一种类型的载流子流,另一个控制端是内置的,控制另一种类型的载流子流,内置控制端上的电位受到外接控制端上的外加电压的调控。摘要附图示意地表示了一种利用n-MOSFET控制电子流而利用pnp双极型晶体管控制空穴流以制作上述器件的实现,其中pnp双极型晶体管基区的电位受到n-MOSFET栅电极上外加电压的调控。

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