接合裝置以及接合方法
    73.
    发明专利
    接合裝置以及接合方法 审中-公开
    接合设备以及接合方法

    公开(公告)号:TW201606881A

    公开(公告)日:2016-02-16

    申请号:TW104110795

    申请日:2015-04-02

    IPC分类号: H01L21/52 H01L21/60

    摘要: 本發明提供一種接合裝置,無需設置專用的相機,可容易地對接合工具與位置檢測用相機的偏移進行檢測。接合裝置10包括:接合頭18,將頂部相機24與筒夾22一體地保持並移動,頂部相機24朝向接合作業面配置,筒夾22與頂部相機24偏移而配置;底部相機28,用於對由筒夾22保持的半導體晶片100相對於筒夾22的位置進行檢測,且朝向筒夾22側設置;參考標記32,配置於底部相機28的視野內;以及控制部40;且控制部40基於由頂部相機24識別出的標記32的位置,使接合頭18移動之後,基於由底部相機28識別出的筒夾22相對於參考標記32的位置,算出偏移的值。

    简体摘要: 本发明提供一种接合设备,无需设置专用的相机,可容易地对接合工具与位置检测用相机的偏移进行检测。接合设备10包括:接合头18,将顶部相机24与筒夹22一体地保持并移动,顶部相机24朝向接合作业面配置,筒夹22与顶部相机24偏移而配置;底部相机28,用于对由筒夹22保持的半导体芯片100相对于筒夹22的位置进行检测,且朝向筒夹22侧设置;参考标记32,配置于底部相机28的视野内;以及控制部40;且控制部40基于由顶部相机24识别出的标记32的位置,使接合头18移动之后,基于由底部相机28识别出的筒夹22相对于参考标记32的位置,算出偏移的值。

    晶粒定位裝置、具有晶粒定位裝置的晶粒定位系統與發光二極體顯示板的晶粒定位方法
    80.
    发明专利
    晶粒定位裝置、具有晶粒定位裝置的晶粒定位系統與發光二極體顯示板的晶粒定位方法 审中-公开
    晶粒定位设备、具有晶粒定位设备的晶粒定位系统与发光二极管显示板的晶粒定位方法

    公开(公告)号:TW201419440A

    公开(公告)日:2014-05-16

    申请号:TW101142610

    申请日:2012-11-15

    IPC分类号: H01L21/68

    摘要: 一種晶粒定位裝置包含滾筒本體、複數個晶粒吸取部與至少一氣體控制裝置。滾筒本體其內具有複數個彼此互相隔離的空腔。晶粒吸取部條列位於滾筒本體表面。每一條列的晶粒吸取部係對應於一空腔,且每一晶粒吸取部均分別具有晶粒吸附區以及貫穿晶粒吸附區之氣體通道。氣體控制裝置連接空腔,且設置於滾筒本體上。氣體控制裝置可選擇性地對特定空腔抽氣,使得每一位在特定抽氣空腔上的晶粒吸取部可藉由其氣體通道將晶粒吸附至其晶粒吸附區,而當氣體控制裝置停止對特定抽氣空腔抽氣時,被吸附的晶粒將被釋放至一預定位置。

    简体摘要: 一种晶粒定位设备包含滚筒本体、复数个晶粒吸取部与至少一气体控制设备。滚筒本体其内具有复数个彼此互相隔离的空腔。晶粒吸取部条列位于滚筒本体表面。每一条列的晶粒吸取部系对应于一空腔,且每一晶粒吸取部均分别具有晶粒吸附区以及贯穿晶粒吸附区之气体信道。气体控制设备连接空腔,且设置于滚筒本体上。气体控制设备可选择性地对特定空腔抽气,使得每一位在特定抽气空腔上的晶粒吸取部可借由其气体信道将晶粒吸附至其晶粒吸附区,而当气体控制设备停止对特定抽气空腔抽气时,被吸附的晶粒将被释放至一预定位置。