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公开(公告)号:CN104769708B
公开(公告)日:2017-04-26
申请号:CN201380057853.2
申请日:2013-10-21
Applicant: 株式会社电装
Inventor: 大仓康嗣
IPC: H01L21/66 , H01L21/8234 , H01L27/088 , H01L29/739 , H01L29/78
CPC classification number: H01L22/32 , G01R31/2621 , H01L22/14 , H01L27/088 , H01L29/0696 , H01L29/7397 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 半导体装置具备:并列设置了多个栅极电极(26)的半导体基板(12),形成于所述半导体基板(12)上的多个栅极布线(38),多个栅极焊盘(36),第1焊盘(32)以及第2焊盘(40)。相邻的所述栅极电极(26)规定多个单元(42),所述多个单元(42)包含多个晶体管单元(44)。所述多个栅极电极(26)由所述多个栅极布线(38)区分成多个种类。所述多个晶体管单元(44)由规定的所述栅极电极(26)的组合被区分成多个种类。
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公开(公告)号:CN1950948A
公开(公告)日:2007-04-18
申请号:CN200580015045.5
申请日:2005-05-11
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L29/06
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L29/0623 , H01L29/0653 , H01L29/42368 , H01L29/4238 , H01L29/7811
Abstract: 本发明提供了一种绝缘栅半导体器件,其在沟槽底部周围具有浮置区,且能够可靠地实现高耐压。绝缘栅半导体器件100包括电流流过的元件区域和围绕元件区域的终端区域。半导体器件100还包括在元件区域中的多个栅极沟槽21和在终端区域中的多个终端沟槽62。栅极沟槽21形成为条形,以及终端沟槽62形成为同心环形。在半导体器件100中,栅极沟槽21和终端沟槽62以使栅极沟槽21的端部和终端沟槽62的侧面之间的间隔均匀的方式设置。也就是说,根据终端沟槽62的拐角的曲率来调整栅极沟槽21的长度。
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公开(公告)号:CN1267990C
公开(公告)日:2006-08-02
申请号:CN02127066.X
申请日:2002-07-26
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L23/36 , H01L21/301 , H01L21/50
CPC classification number: H01L24/33 , H01L21/565 , H01L23/367 , H01L23/3736 , H01L23/4334 , H01L24/32 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L24/83 , H01L2224/05624 , H01L2224/29111 , H01L2224/32014 , H01L2224/32245 , H01L2224/33 , H01L2224/33181 , H01L2224/45124 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/48472 , H01L2224/73215 , H01L2224/73265 , H01L2224/83101 , H01L2224/83203 , H01L2224/83815 , H01L2224/85399 , H01L2224/92247 , H01L2924/00014 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01039 , H01L2924/01047 , H01L2924/0105 , H01L2924/01051 , H01L2924/01068 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/01088 , H01L2924/0132 , H01L2924/10158 , H01L2924/10253 , H01L2924/1301 , H01L2924/1305 , H01L2924/13055 , H01L2924/13091 , H01L2924/15724 , H01L2924/15747 , H01L2924/181 , H01L2924/18301 , H01L2924/30107 , H01L2924/351 , H01L2924/00 , H01L2924/3512 , H01L2924/00012 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 一种半导体器件,包括在工作中产生热的半导体芯片,用于冷却该芯片的一对散热器和其中埋置该芯片和该散热器的铸模树脂。芯片的厚度t1和用焊料连接到芯片的散热器之一的厚度t2满足式t2/t1≥5。此外,散热器的热膨胀系数α1和铸模树脂的热膨胀系数α2满足式0.5≤α2/α1≤1.5。另外,面对焊料的芯片表面具有满足式Ra≤500nm的粗糙度Ra。此外,焊料是锡-基焊料以抑制芯片中压应力松弛,压应力松弛是由焊料的蠕变引起的。
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公开(公告)号:CN115989580A
公开(公告)日:2023-04-18
申请号:CN202180052928.2
申请日:2021-08-06
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L23/29
Abstract: 元件封装(40)具备半导体元件(41)、再布线层(42)以及密封树脂体(45)。半导体元件(41)具备:半导体衬底(410),具有元件区域(412)及划线区域(413);源极电极及焊盘,形成在半导体衬底的一面(410a);以及保护膜(411),配置在一面中的元件区域上。密封树脂体包含以具有不超过保护膜的上表面的缘部(411d)的高度的方式配置在划线区域(413)的一面上的密封树脂体(45S)。再布线层配置在保护膜到划线区域上的密封树脂体的范围中。
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公开(公告)号:CN115699296A
公开(公告)日:2023-02-03
申请号:CN202180040056.8
申请日:2021-05-21
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 半导体装置,具备:半导体元件(11),在表面(11a)具有第1电极焊盘(111)以及多个第2电极焊盘(112),在将表面和背面(11b)相连的方向上产生电流;密封件(12),由绝缘性的树脂材料构成,将半导体元件的表面的一部分以及侧面(11c)覆盖;以及延伸设置布线(152),在半导体元件之上配置在密封件的内部或密封件之上,与第2电极焊盘电连接并且从半导体元件的外轮廓的内侧延伸设置至外侧。
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公开(公告)号:CN115428145A
公开(公告)日:2022-12-02
申请号:CN202180028696.7
申请日:2021-03-19
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 半导体装置具备半导体元件(11)、与半导体元件的背面(11b)侧接合的导电体(10)和将半导体元件的侧面(11c)及导电体的一部分覆盖的密封件(12)。半导体装置具备再布线层(15),该再布线层具有将半导体元件的表面(11a)及密封件的一部分覆盖的绝缘层(151)、与半导体元件连接的第1电极(13)及第2电极(14)、将第1电极中的从绝缘层露出的部分覆盖的导电性的第1外部露出层(152)、和将第2电极中的从绝缘层露出的部分覆盖的导电性的第2外部露出层(153)。第2电极的与半导体元件相反的一侧的端部延伸设置到再布线层中的半导体元件的外轮廓外侧的位置。第2外部露出层将第2电极中的位于半导体元件的外轮廓外侧的一部分区域覆盖。导电体的与半导体元件的背面接合的上表面(10a)的相反侧的下表面(10b)从密封件露出。
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公开(公告)号:CN104769708A
公开(公告)日:2015-07-08
申请号:CN201380057853.2
申请日:2013-10-21
Applicant: 株式会社电装
Inventor: 大仓康嗣
IPC: H01L21/66 , H01L21/8234 , H01L27/088 , H01L29/739 , H01L29/78
CPC classification number: H01L22/32 , G01R31/2621 , H01L22/14 , H01L27/088 , H01L29/0696 , H01L29/7397 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 半导体装置具备:并列设置了多个栅极电极(26)的半导体基板(12),形成于所述半导体基板(12)上的多个栅极布线(38),多个栅极焊盘(36),第1焊盘(32)以及第2焊盘(40)。相邻的所述栅极电极(26)规定多个单元(42),所述多个单元(42)包含多个晶体管单元(44)。所述多个栅极电极(26)由所述多个栅极布线(38)区分成多个种类。所述多个晶体管单元(44)由规定的所述栅极电极(26)的组合被区分成多个种类。
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公开(公告)号:CN102376709B
公开(公告)日:2015-04-01
申请号:CN201110241326.X
申请日:2011-08-17
IPC: H01L27/06 , H01L29/06 , H01L29/10 , H01L29/861 , H01L29/739
CPC classification number: H01L29/1095 , H01L29/0696 , H01L29/407 , H01L29/7397 , H01L29/8613
Abstract: 在一种半导体器件中,IGBT单元(10)包括穿过半导体衬底(32)的基底层(31)到达半导体衬底(32)的漂移层(30)的沟槽(35),沟槽(35)内表面上的栅极绝缘膜(36),栅极绝缘膜(36)上的栅极电极(37a),基底层(31)表面部分中的第一导电类型的发射极区(38),以及基底层(31)表面部分中第二导电类型的第一接触区(39)。IGBT单元还包括设置于基底层(31)之内的第一导电类型的浮置层(40),以将基底层(31)分成包括发射极区(38)和第一接触区(39)的第一部分以及与漂移层(30)相邻的第二部分,以及被设置成覆盖栅极电极(37a)的末端的层间绝缘膜(41)。二极管单元(20)包括基底层(31)的表面部分中的第二导电类型的第二接触区(42)。
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公开(公告)号:CN113632214B
公开(公告)日:2023-12-08
申请号:CN202080021722.9
申请日:2020-03-12
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 经由接合件而与引线框电连接。一种半导体模组,具备:第1散热部件(1、7);半导体装置(2),具备半导体元件(20)、将其周围覆盖的封固件(21)、以及再布线层(24),搭载在第1散热部件上,上述再布线层具备与半导体元件电连接的第1布线(26)及第2布线(27),形成在半导体元件及封固件之上;第2散热部件(3、7),配置在半导体装置上;引线框(4),经由接合件第1散热部件的一部分、半导体装置、以及第2散热部件的一部分覆盖。半导体装置的一部分从第(5)而与半导体装置电连接;以及封固件(6),将(56)对比文件US 2005133896 A1,2005.06.23JP 2011091259 A,2011.05.06JP 2012243890 A,2012.12.10王辉;王德宏.半导体激光器焊接的热分析.微纳电子技术.2008,(07),全文.阳英;柴广跃;段子刚;高敏;张浩希.基于ANSYS的大功率半导体光放大器的热分析.电子与封装.2008,(09),全文.
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公开(公告)号:CN115148725A
公开(公告)日:2022-10-04
申请号:CN202210305517.6
申请日:2022-03-25
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L25/18 , H01L23/31 , H01L23/495 , H01L23/528
Abstract: 一种半导体装置包括半导体元件,该半导体元件具有保护膜(411),保护膜具有暴露源极(41s)的一部分的开口(411a)并且被布置/设置为将其端部定位在所述源极上。重新布线层具有连接到所述源极和导电连接构件的布线(44s、47、48a、48b)和覆盖所述源极布线的一部分的绝缘体(43)。绝缘体包括绝缘膜(431)和绝缘膜(432),绝缘膜(431)具有(a)用于暴露源极布线的一部分的开口(431a)和(b)所述开口(431a)的设置在开口(411a)的面向区域中的端部;绝缘膜(432)具有(c)(i)用于使具有被布置在其中的焊料的源极布线的一部分暴露的开口(432a)和(ii)被布置在其中的连接构件。
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