半导体封装件及其形成方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113078144A

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202110046168.6

    申请日:2021-01-14

    摘要: 实施例包括在中介层的衬底中部分地形成第一通孔,该第一通孔延伸到中介层的衬底的第一侧。该方法还包括将第一管芯接合到中介层的衬底的第一侧。该方法还包括使中介层的衬底的第二侧凹进以暴露第一通孔,第一通孔从中介层的衬底的第二侧突出,其中,在凹进之后,中介层的衬底的厚度小于50μm。该方法还包括在中介层的衬底的第二侧上形成第一组导电凸块,第一组导电凸块中的至少一个电耦合到暴露的第一通孔。本申请的实施例还涉及半导体封装件及其形成方法。

    半导体封装及其制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113078126A

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202110314109.2

    申请日:2021-03-24

    IPC分类号: H01L23/31 H01L23/48 H01L21/56

    摘要: 本公开提供一种半导体封装及其制造方法。半导体封装包括至少一个半导体管芯、中介层、模制化合物及连接件。中介层具有第一表面、与第一表面相对的第二表面及连接第一表面与第二表面的侧壁。所述至少一个半导体管芯设置在中介层的第一表面上且与中介层电连接。模制化合物设置在中介层之上且在侧向上包封所述至少一个半导体管芯。模制化合物在侧向上包绕在中介层周围且模制化合物至少与中介层的侧壁的一部分进行实体接触。连接件设置在中介层的第二表面上,且通过中介层而与所述至少一个半导体管芯电连接。

    半导体封装件
    4.
    发明公开
    半导体封装件 审中-实审

    公开(公告)号:CN113035824A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202011545096.1

    申请日:2020-12-23

    摘要: 一种半导体封装件包含第一中介件、第二中介件、第一管芯、第二管芯以及至少一个桥接结构。第一中介件和第二中介件包埋于第一介电密封体。第一管芯安置在第一中介件上方且电连接到第一中介件。第二管芯安置在第二中介件上方且电连接到第二中介件。至少一个桥接结构安置在第一管芯与第二管芯之间。

    半导体封装件及其形成方法

    公开(公告)号:CN113078144B

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202110046168.6

    申请日:2021-01-14

    摘要: 实施例包括在中介层的衬底中部分地形成第一通孔,该第一通孔延伸到中介层的衬底的第一侧。该方法还包括将第一管芯接合到中介层的衬底的第一侧。该方法还包括使中介层的衬底的第二侧凹进以暴露第一通孔,第一通孔从中介层的衬底的第二侧突出,其中,在凹进之后,中介层的衬底的厚度小于50μm。该方法还包括在中介层的衬底的第二侧上形成第一组导电凸块,第一组导电凸块中的至少一个电耦合到暴露的第一通孔。本申请的实施例还涉及半导体封装件及其形成方法。