矽穿孔的形成方法 METHOD OF FORMING A THROUGH-SILICON
    64.
    发明专利
    矽穿孔的形成方法 METHOD OF FORMING A THROUGH-SILICON 审中-公开
    硅穿孔的形成方法 METHOD OF FORMING A THROUGH-SILICON

    公开(公告)号:TW201133710A

    公开(公告)日:2011-10-01

    申请号:TW099128610

    申请日:2010-08-26

    Inventor: 陳明發 林宜靜

    IPC: H01L

    CPC classification number: H01L21/76898 H01L21/76838

    Abstract: 本發明提供一種矽穿孔(TSV)的形成方法。在一實施例中,該方法包括在接觸開口與TSV開口中形成導電層,之後以一道化學機械研磨製程去除接觸開口與TSV開口以外的導電材料,以分別形成接觸插塞與TSV結構。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种硅穿孔(TSV)的形成方法。在一实施例中,该方法包括在接触开口与TSV开口中形成导电层,之后以一道化学机械研磨制程去除接触开口与TSV开口以外的导电材料,以分别形成接触插塞与TSV结构。

    半導體裝置及其形成方法 SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FROMING THE SAME
    66.
    发明专利
    半導體裝置及其形成方法 SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FROMING THE SAME 审中-公开
    半导体设备及其形成方法 SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FROMING THE SAME

    公开(公告)号:TW201027703A

    公开(公告)日:2010-07-16

    申请号:TW098143290

    申请日:2009-12-17

    IPC: H01L

    CPC classification number: H01L21/76898 H01L23/481 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本發明提供一種半導體裝置,其具有一個或多個穿透矽通孔(TSV)。上述TSV被形成以使得上述TSV的側壁具有圓齒狀表面。在一個實施例中,上述TSV的側壁是傾斜的,其中上述TSV的頂部和底部具有不同的尺寸。上述TSV可以具有V形形狀,其中上述TSV在該基底的電路側上具有較寬的尺寸或具有倒V形形狀,其中上述TSV在該基底的背面上具有較寬的尺寸。該些側壁和/或傾斜側壁的圓齒狀表面允許上述TSV能被更容易地填充如銅的導電材料。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种半导体设备,其具有一个或多个穿透硅通孔(TSV)。上述TSV被形成以使得上述TSV的侧壁具有圆齿状表面。在一个实施例中,上述TSV的侧壁是倾斜的,其中上述TSV的顶部和底部具有不同的尺寸。上述TSV可以具有V形形状,其中上述TSV在该基底的电路侧上具有较宽的尺寸或具有倒V形形状,其中上述TSV在该基底的背面上具有较宽的尺寸。该些侧壁和/或倾斜侧壁的圆齿状表面允许上述TSV能被更容易地填充如铜的导电材料。

    電子系統與其操作方法 ELECTRONIC SYSTEM AND OPERATION METHOD THEREOF
    67.
    发明专利
    電子系統與其操作方法 ELECTRONIC SYSTEM AND OPERATION METHOD THEREOF 审中-公开
    电子系统与其操作方法 ELECTRONIC SYSTEM AND OPERATION METHOD THEREOF

    公开(公告)号:TW201027348A

    公开(公告)日:2010-07-16

    申请号:TW098141121

    申请日:2009-12-02

    IPC: G06F

    Abstract: 本發明提供一種電子系統,包括一中央處理單元(CPU)、一記憶體裝置以及一直接記憶體存取(DMA)控制器。記憶體裝置與中央處理單元聯繫,並且包括複數垂直堆疊之積體電路晶片與複數輸入/輸出(I/O)埠,輸入/輸出埠之每一者係透過一基板穿孔連接至積體電路晶片。直接記憶體存取(DMA)控制器與中央處理單元和記憶體裝置聯繫,並且用以執行將資料寫入至記憶體裝置與從記憶體裝置中讀取資料之管理。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种电子系统,包括一中央处理单元(CPU)、一内存设备以及一直接内存存取(DMA)控制器。内存设备与中央处理单元联系,并且包括复数垂直堆栈之集成电路芯片与复数输入/输出(I/O)端口,输入/输出端口之每一者系透过一基板穿孔连接至集成电路芯片。直接内存存取(DMA)控制器与中央处理单元和内存设备联系,并且用以运行将数据写入至内存设备与从内存设备中读取数据之管理。

    積體電路結構 INTEGRATED CIRCUIT STRUCTURE
    68.
    发明专利
    積體電路結構 INTEGRATED CIRCUIT STRUCTURE 审中-公开
    集成电路结构 INTEGRATED CIRCUIT STRUCTURE

    公开(公告)号:TW201023324A

    公开(公告)日:2010-06-16

    申请号:TW098110610

    申请日:2009-03-31

    Inventor: 陳明發 林生元

    IPC: H01L

    CPC classification number: H01L21/76898 H01L23/481 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本發明揭示一種積體電路結構,其包括:一半導體基底以及位於半導體基底上方的一內連線結構。一實心金屬環,形成於內連線結構內,其中實心金屬環內未形成主動電路。此積體電路結構更包括一矽通孔電極,其具有被實心金屬環所圍繞的一部分。矽通孔電極穿過內連線結構而延伸至半導體基底內。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明揭示一种集成电路结构,其包括:一半导体基底以及位于半导体基底上方的一内连接结构。一实心金属环,形成于内连接结构内,其中实心金属环内未形成主动电路。此集成电路结构更包括一硅通孔电极,其具有被实心金属环所围绕的一部分。硅通孔电极穿过内连接结构而延伸至半导体基底内。

    可防止金屬阻隔膜剝落之光罩
    69.
    发明专利
    可防止金屬阻隔膜剝落之光罩 失效
    可防止金属阻隔膜剥落之光罩

    公开(公告)号:TW332265B

    公开(公告)日:1998-05-21

    申请号:TW086108905

    申请日:1997-06-25

    IPC: G03F

    Abstract: 一種可防止金屬阻隔膜剝落之光罩。其中,該光罩具有一光罩主體,例如玻璃或石英;複數片金屬阻隔膜,形成於該光罩主體表面,用以定義該光罩之圖案,其中該些金屬阻隔膜之間係以空白切割道分隔;以及複數條金屬連線,形成於上述空白切割道,用來連接相鄰之金屬阻隔膜以增加該些金屬阻隔膜之有效面積。

    Abstract in simplified Chinese: 一种可防止金属阻隔膜剥落之光罩。其中,该光罩具有一光罩主体,例如玻璃或石英;复数片金属阻隔膜,形成于该光罩主体表面,用以定义该光罩之图案,其中该些金属阻隔膜之间系以空白切割道分隔;以及复数条金属连接,形成于上述空白切割道,用来连接相邻之金属阻隔膜以增加该些金属阻隔膜之有效面积。

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